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文档简介

耗尽层近似

假设空间电荷区的空穴都已全部耗尽,电荷全由已电离的受主杂质构成。半导体的掺杂是均匀的,则空间电荷区的电荷密度,

(x)=-qNA设xd为耗尽层的厚度

耗尽层近似表面空间电荷区的电场和电容表面空间电荷区的电场:F函数空间电荷层中电势满足的泊松方程εrs半导体的相对介电常数,

(x)空间电荷密度V>0,取正;V<0,取负V=Vs时,半导体表面处的电场强度电荷面密度

金属为正时,VG>0,QS为负号金属为负时,VG<0,QS为正号空间电荷层单位面积上的电容,单位F/m2以p型半导体为例,定量地分析各种表面层的状态空间电荷层的电容(1)VG<0,金属接负,半导体接正多数载流子堆积状态

随而

0

C

C0(AB)随|VG|

积累的空穴越来越少,CS

,C/C0

(BC)1.00.80.60.40.2ABCDEFC0CFBCminC

minVmin1低频C02高频GH00+VMIS结构的电容-电容曲线C/C0又(no)p<<(po)p(2)VG=0,VS=0

平带平带时的总电容为CFB

εro为绝缘层的相对介电常数(3)VG>0,金属接+,半导体接负VS>0,表面能带下弯,是空穴的势垒

空穴耗尽状态电离饱和时(p0)p=NAVG,C/C0

(CD)(4)VG>>0反型状态低频时,少子的产生与复合跟得上小信号的变化VS

,少子积累越多,ns

,Cs

,C0/CS

C/C0

(DE)

当VS

到使C0/C

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