微波暗室场地确认方法

ICS33.100

CCSL06

中华人民共和国国家标准

微波暗室场地确认方法

Sitevalidationmethodforanechoicchamber

（征求意见稿）

XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

GB/TXXXXX—XXXX

前  言

本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起

草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由全国无线电干扰标准化技术委员会（SAC/TC79）归口。

本文件起草单位：

本文件主要起草人：

本文件为首次发布。

II

GB/TXXXXX—XXXX

微波暗室场地确认方法

1范围

本文件确立了700MHz~110GHz频率范围内微波暗室场地静区性能的测量方法。

本文件适用于远场微波暗室场地静区性能测量，其他微波暗室参考附录C。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文

件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T4365-2003电工术语电磁兼容（IEC60050(161):1990+A1:1997+A2:1998，IDT）

3术语和定义

GB/T4365-2003界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1

微波暗室microwaveanechoicchamber

一种经过专门设计的封闭室，用于模拟自由空间。该室内壁铺设吸波材料，能充分吸收微波频段的

电磁波，使放置待测件的有限区域来自各个方向的电磁波反射信号电平下降到可接受程度。

3.2

静区quietzone

在暗室中放置待测件的有限区域，在此区域内来自各个方向的电磁波反射信号电平被控制到设计水

平。

3.3

静区反射率电平quietzonereflectivitylevel

微波暗室静区内等效反射波信号与直射波信号之比，单位分贝（dB）。

3.4

自由空间电压驻波比freespacevoltagestandingwaveratio

微波暗室静区内任意一点的场强是直射信号和反射信号的矢量和，反射信号叠加到直射信号上从而

在空间形成驻波，驻波的电压峰值与电压谷值之比，单位分贝（dB）。

4测量方法

3

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4.1概述

微波暗室通常用来模拟自由空间，用于天线测量、目标特性测量等领域，具有全天候工作的优势。

实际应用中由于吸波材料无法完全吸收电磁波等原因，暗室中仍然会有残余反射信号存在，这些反射波

从各个方向进入测试区域并与直射波叠加，在静区内一定行程线上形成空间驻波分布，见图1。该指标

用静区反射率电平表征。尤其当微波暗室将用于天线辐射方向图等参数测量时，应评估暗室中不同角度

的静区反射率电平。

图1微波暗室及静区

微波暗室静区反射率电平测量方法为：自由空间电压驻波比（VSWR）法。

自由空间电压驻波比法的测量原理是基于微波暗室中存在直射波信号和反射信号，暗室中空间任

意一点的场强是直射射信号和反射信号的矢量和，在静区中一定行程上形成驻波，驻波的数值大小即

反映了微波暗室内反射信号的大小，可通过测量空间电压驻波来确定暗室的静区反射率电平，见图2。

吸波材料

反射波

ER静区

发射天线

直射波

行程线

ED

接收天线

图2静区中反射信号和直射信号示意图

4.2测量设备

4.2.1一般要求

在微波暗室建成后，测量所用设备应满足测量频率范围要求，并满足50Ω输入/输出阻抗要求。测

量系统一般是由网络分析仪、发射天线、接收天线和扫描架等设备组成，见图3，测量系统应保证接收

端收到的信号高于噪声10dB，并保证接收信号在线性范围内。可根据实际情况在发射端使用放大器和/

4

GB/TXXXXX—XXXX

或在接收端使用前置放大器（预放大器）。网络分析仪可用信号发生器和接收机、频谱仪或功率计的组

合替代。

在测量开始前，所用设备应按设备使用说明书要求充分预热，并将周围无关设备和设施移开，以减

小对测量的影响。

测量设备应经过校准，并可溯源到国家计量基准或标准。

发射天线接收天线

静区

Y

扫描架

XZ

网络分析仪

计算机

（a）

发射天线接收天线

放大器前置放大器

静区

Y

扫描架

XZ

信号源接收设备

扫描架

计算机

控制器

(b)

图3测量系统示意图

4.2.2网络分析仪

频率覆盖测试频段，频率准确度优于10-7,幅度稳定度优于每小时0.2dB。

4.2.3信号发生器

频率覆盖测试频段，可通过扩频模块实现频率扩展，频率准确度优于10-7。

4.2.4接收设备

频率覆盖测试频段，可采用频谱仪、测量接收机或者功率计作为接收设备，系统动态范围至少优于

待测反射率电平10dB。

5

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4.2.5发射天线

在测量中发射天线应尽量模拟实际使用的天线，安装位置与实际使用时相同。如果发射天线由暗室

测量机构提供，应使用中等方向性的线极化天线，以保证有足够的电磁能量照射到各个暗室内壁。发射

天线在测量频率点的驻波比应小于1.5，并符合表1增益要求，在试验报告中说明测量所用的发射天线。

在1GHz以下频段，一般选择对数周期天线，在1GHz以上频段，一般选择喇叭天线。

表1发射天线要求（典型值）

频率增益

GHzdB

0.7～1.1210±2

1.1～1.710±2

1.7～2.610±2

2.6～3.9510±2

3.95～5.8510±2

5.85～8.210±2

8.2～12.410±2

12.4～18.010±2

18.0～26.510±2

26.5～40.010±2

33.0～50.015±2

50.0～75.015±2

75.0～110.015±2

4.2.6接收天线

接收天线应选择高方向性的线极化天线，在测量频率点的驻波比应小于1.5，增益符合表2要求。在

1GHz以下频段一般选择对数周期天线作为接收天线。在1GHz以上频段一般选择高增益标准增益喇叭天线

作为接收天线。

表2接收天线要求（典型值）

频率增益

GHzdB

0.7～1.12标准增益喇叭天线15±2；对数周期天线增益7±2

1.1～1.715±2

1.7～2.615±2

2.6～3.9515±2

3.95～5.8515±2

5.85～8.217±2

8.2～12.417±2

12.4～18.020±2

18.0～26.520±2

26.5～40.020±2

6

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33.0～50.024±2

50.0～75.024±2

75.0～110.025±2

4.2.7扫描架

扫描架可以实现接收天线在静区内的定点走行，扫描架应满足以下基本要求：

a)扫描架有效行程应大于等于静区范围，并至少可覆盖一个空间驻波周期；

b)具备足够的机械强度，提供稳定支撑，接收天线走行无明显晃动；

c)扫描架保证接收天线定位精度优于最高测量频率对应波长的1/10；

d)扫描架应具有低反射和低散射特性，对原有空间场的扰动足够小，使得扫描架引入的对于暗室

静区反射率电平测量的影响可忽略。

4.3测量配置

测量应分别在天线水平极化和垂直极化下进行。至少应测量穿过静区中心的横向X1X2、Y1Y2和纵向

Z1Z2行程线，如图4所示，若暗室在宽度和高度方向上长度一致，同时静区位于高度和宽度中心，顶面

和地面完全一致，可不在Y方向选择行程线。天线指向一般以15间隔选择指向角，通常可在±30、±

45°、±60、±75、±90上测量，若暗室两面侧墙完全一致，可选择只测正角度或负角度方向。

Y2

Z2

X1X2

Z1

Y1

发射源

图4扫描架走行范围和行程线示意图

4.4测量步骤

测量按以下步骤进行（同时见图5）：

a)按图3所示连接测量设备，架设收发天线；

b)将接收天线沿视轴对准发射天线，收发天线极化匹配，沿待测行程线移动，以不大于最小干涉波

周期的八分之一间隔记录接收到的信号，记为参考电平；

c)将接收天线的指向调至待测指向角度，沿相同行程线移动，以不大于最小干涉波周期的八分之

一间隔记录测量数据；

d)对每种天线极化方式，重复步骤b）～d）；

e)在其他测量行程线，重复步骤b）～e）；

f)在其他待测频段，重复步骤b）～e），直至完成所有频段的测量。

7

GB/TXXXXX—XXXX

图5测量步骤和驻波曲线

4.5数据处理

对每个测量频率、每条扫描行程线、每个天线指向角度，按公式（1）计算静区反射率电平。公式

（1）详细的推导见附录A。

10D/201

RP20log10D/20………………(1)

101

式中：

R——静区反射率电平,单位为分贝（dB）；

P——接收天线在角度-的方向图电平,单位为分贝（dB）；

D——测量驻波曲线中峰峰值,单位为分贝（dB）。

通常在微波暗室中，反射信号仍小于接收天线角度收到的直射波，采用（1）式计算反射率电

平，但是如果反射信号大于直射波，那么计算驻波的符号要取相反。P通过在天线正对位置比较参

考电平和测量驻波曲线得到，如图5。峰峰值D的选择采用下述方式：用直线连接相邻两个峰值或者两

个谷值，如图6所示，一个波峰到相邻两个波谷连线长度或者一个波谷到相邻两个波峰连线的长度即为1

个峰峰值。将扫描曲线中每个峰峰值计算出来并取平均得到D。

图6驻波曲线及峰峰值D确定

8

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4.6测量不确定度

附录B给出了一个静区反射率电平测量不确定度的分析示例。

5试验报告

试验报告中应至少包含以下内容：

a)客户名称；

b)检测机构名称；

c)微波暗室尺寸描述；

d)试验地点；

e)试验人员；

f)试验日期；

g)测量频率点；

h)测量行程线；

i)测量角度；

j)收发天线型号和距离；

k)使用的测量仪器：型号、校准日期；

l)测量方法和试验布置；

m)测量不确定度。

6其他微波暗室的确认方法

直接照射形成远场的微波暗室宜采用静区反射率电平进行评估。其他微波暗室根据其用途不同、采

用的测量方法不同、待测不同可分别考虑其附加确认方法，见附录C。

7暗室诊断

微波暗室静区成像技术可以用于暗室诊断，见附录D。

9

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AA

附录A

（规范性）

静区反射率电平计算公式的推导

考虑一般情况，接收天线的朝向与发射天线存在夹角，接收天线在该方向上的天线方向图电平为

P/20

P，接收天线接收到的直射波电场幅度为EdEd10。

此时：

EE

R20lgrP20lgr………………（A.1）

E

dEd

式中：

R——静区反射率电平，单位为分贝（dB）；

Er——反射信号电场强度，单位为伏每米（V/m）；

Ed——直射波信号电场强度，单位为伏每米（V/m）。

接收天线处接收场强最大值为入射波和反射波的同相叠加，最小值为反相叠加，接收驻波曲线波纹

峰峰值为D，单位为分贝（dB）。因此式（A.1）可以写成式（A.2）：

E

R=P20log10r

Ed

EEEE

drdr

………………（A.2）

EdEd

P20log10

EEEE

drdr

EdEd

＜

如果Er和Ed的关系为ErEd，得到式（A.3）

D

10201

RP20log10

D………………（A.3）

20

101

10

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BB

附录B

（资料性）

静区反射率电平测量不确定度分析示例

静区反射率电平的测试基础是不同行程线上的场地插入损耗的测量，其测量结果的不确定度由场地

插入损耗测量不确定度、接收天线方向图等的不确定度分量组成。频率低时，测量结果受环境影响大，

频率高时，测量结果受扫描架定位精度影响大。因此在扫描架定位精度完全满足测量要求的前提下，以

1.1GHz天线水平极化下4m行程上的静区反射率电平测试为例进行测量结果的不确定度的分析。

场地插入损耗的测试主要受以下因素影响：

1、天线间对准的影响量AU

由于微波暗室中收发天线间对准不理想引入，考虑实际情况，接收天线在对准状态下沿X、Y方向

平移5cm，取静区反射率电平的最大变化量0.5dB作为该影响量的标准不确定度的估计值。假定该影响

量服从正态分布，包含因子k2，由天线间对准引入的标准不确定度分量为0.5dB20.25dB。

2、扫描架自身反射引入的影响量SR

扫描架主体可以采用吸波材料覆盖，以降低反射。将地面导轨采用吸波材料覆盖和未采用吸波材料

覆盖的两组数据结果之差0.3dB作为影响量的误差限。该影响量服从矩形分布，包含因子k3。因此

扫描架反射引入的标准不确定度分量为0.3dB30.17dB。

3、扫描架移动范围内的反射影响量RR

扫描架在移动范围内尤其是Z1Z2行程上，有时无法及时铺设吸波材料，导致测量结果受地面反射

影响。考虑地面为金属的极端情况，即在地面引入最大的反射，4m行程上取地面覆盖和无覆盖吸波材

料的两组数据之差0.98dB作为影响量的误差界。该影响量服从矩形分布，包含因子k3。因此由地

面反射引入的标准不确定度分量为0.98dB30.57dB。实际情况下地面反射影响小于该极端情况。

4、两天线间互耦引入的影响量MR

两天线间的互耦会造成空间驻波，对测量造成干扰，在1.1GHz频段，互耦形成的空间驻波的典型

值为0.3dB~0.5dB。以Z1Z2行程上扫描范围内空间驻波最大值0.43dB作为该影响量的误差界。该影响

量服从矩形分布，包含因子k3。两天线间互耦引起的空间驻波引入的标准不确定度分量为

0.43dB30.25dB。

5、系统漂移影响量SD

由于测量过程中需要测量不同角度的多个行程，场地插入损耗测量过程时间较长，测量系统的漂移

引入的不确定度分量由测试开始时的参考位置数值和测试结束时的参考位置数值之差0.1dB作为误差

限。该影响量服从矩形分布，包含因子k3。因此系统漂移引入的标准不确定度分量为

0.1dB30.06dB。

6、步长设置引入的影响量MS

测量的步进要求是步长不小于空间驻波波长的八分之一进行扫描，以最大程度还原反射信号引起的

波纹，从而准确计算反射率电平。但测试步长和测试时间相关，在1.1GHz，选取满足条件下的不同步

11

GB/TXXXXX—XXXX

长测量结果做比较，最大差值0.2dB为误差界。该影响量服从矩形分布，包含因子k3。因此由测试

步长设置引入的标准不确定度分量为0.2dB30.12dB。

7、天线方向图的影响量RP

在静区反射率电平计算时，需要使用接收天线在该角度上的方向图数值。校准天线方向图的不确定

度(不含吸波材料遮挡)，在-10dB电平不确定度为0.84dB(k=2)，在-20dB电平为0.9dB(k=2),-30dB

电平为1dB(k=2)。该影响量服从正态分布，包含因子k2。因此1.1GHz，60度角度水平极化天线方

向图测量引入的标准测量不确定度分量为0.9dB2=0.45dB。

8、测量重复性

CR

n

2

xkx

将系统断开后重新连接，测量10次，计算得到实验标准差s=k10.18dB。

n1

静区反射率电平测量结果的合成标准不确定度评定示例见表B.1。由于不确定度分量大部分为均匀

分布，其他为正态分布，这些均匀分布分量合成后近似为正态分布，与其他正态分布分量合成后，可以

认为是正态分布。其中，移动行程内的地面反射是较大影响量，但是可以通过在地面吸波材料降低该项

不确定度；待测天线方向图测量结果不确定度也是较大贡献量，该部分不确定度分量可以从天线校准证

书上获取。天线对准对于低频段的场地评估影响较小，频率升高后，扫描架定位精度、位置对准都会成

为较明显的影响量。

Uku1.72dB

在1.1GHz时，取k=2，扩展不确定度为：c。

表B.1静区反射率电平不确定度评定示例

不确定度来源或输入量xi最大允许误差MPE或不确定度概率分包含因子灵敏系数标准不确定度

U布kciuxi

dBdB

天线对准AU0.5正态210.25

扫描架自身反射SR0.3均匀310.17

移动行程内的地面反射

0.98均匀310.57

RR

收发天线间互耦MR0.43均匀310.25

系统漂移SD0.1均匀310.06

步长设置MS0.2均匀310.12

接收天线方向图RP0.9正态210.45

测量重复性

CR0.18正态-10.18

合成标准不确定度uc0.86

扩展不确定度U1.72

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GB/TXXXXX—XXXX

CC

附录C

（规范性）

常见微波暗室的附加确认方法

C.1矩形暗室

矩形微波暗室是最常见的微波暗室，按照测量原理分为远场法暗室、近场法暗室、紧缩场法暗室等。

对于形成平面波条件的暗室可以通过直接照射形成，也可以通过引入反射面构造形成。直接照射形

成远场的微波暗室宜采用静区反射率电平进行评估。对于其他微波暗室，其场地确认方法可以根据用途

增加适用于相应类型微波暗室的附加确认方法。

对于远场法暗室，除了进行静区反射率电平测量外，可根据用途考虑测量其平面波特性，测量参数

为幅度锥削、相位锥削以及交叉极化等，平面波质量的测量过程可参考紧缩场。

对于紧缩场静区特性，反射面安装完成后，可采用幅度锥削、幅度纹波、相位锥削、相位纹波等参

数表征静区内的平面波质量。进行测试评估最常用的方法是在静区前、中、后三个面进行扫描。

其他类型的常用微波暗室中，平面近场法测量对于环境要求不高，微波暗室影响可以通过一对天线

在暗室内不同位置的插损测量进行评定。

C.2锥形暗室

锥形暗室是为降低矩形微波暗室成本同时满足平面波条件的一类平面波构造场微波暗室，见图C.1，

本方法适用于频率范围700MHz~40GHz的锥形暗室。

锥形暗室采用一个锥形馈源天线作为平面波场发生器，该馈源与锥角和锥体的侧墙形成紧耦合关系,

侧墙参与对构造场平面波的形成，后墙主反射区对性能影响大。因此，锥形暗室的场地确认在静区反射

率电平基础上，需要测量静区内的平面波质量，即：幅度锥削、幅度纹波；相位锥削、相位纹波；以及

交叉极化等，具体测量步骤可参考紧缩场。

图C.1锥形暗室

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GB/TXXXXX—XXXX

附录D

（资料性）

静区诊断

根据测量的静区电场幅度计算静区反射率电平，同时如果使用平面扫描架，并采用宽波束探头在二

维网格上进行扫描，见图D.1，可以得到电场强度的幅度和相位，对该电场强度进行二维离散傅里叶变

换（DFT）或者等效快速傅里叶变换（FFT），如式（D.1），得到静区二维空间角谱域分布，即实现静

区成像和诊断。

mikxniky

j2

Si,iM1N1vm,neMN………………(D.1)

kxkym0n0

其中M是沿静区x轴的探测点数，包括超出探测位置的补零，也是FFT输出kx维度的点数；

N是沿静区y轴的探测点数，包括超出探测位置的补零，也是FFT输出ky维度的点数；

vm,n是在每个静区位置测量的复数的探头电压，以沿x轴的整数m（范围0到M-1）和沿y

轴的整数n（范围0到N-1）为索引，可加窗和/或补零。这是FFT的输入。

S是二维FFT输出，表示静区场和探头之间耦合结果的平面波谱，以整数ikx（范围0到M-1）

和iky（范围0到N-1）索引。

图D.1微波暗室中的二维扫描

在满足远场条件情况下，将反射波近似看成平面波，从同一个方向到达扫描面的平面波，到达时间

不同，相位不同，如图D.2。认为到达不同位置1、2的信号存在一个线性相位差，通过傅里叶变换实现

成像。

14

GB/TXXXXX—XXXX

图D.2平面波到达目标位置的示意图

图D.3给出了一个微波暗室静区在15GHz成像的示例。

图D.3暗室成像诊断示例

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GB/TXXXXX—XXXX

参 考 文 献

[1]IEEE149-2021IEEERecommendedPracticeforAntennaMeasurements

[2]GJB6780-2009微波暗室性能测试方法

[3]GJB8480-2015紧缩场性能测量方法

[4]JJF（军工）133-2017紧缩场静区平面波幅相特性校准规范

[5]YD/T3182-2021移动通信天线测量场地检测方法

16

GB/TXXXXX—XXXX

目  次

1范围................................................................................3

2规范性引用文件......................................................................3

3术语和定义..........................................................................3

4测量方法............................................................................3

4.1概述............................................................................4

4.2测量设备........................................................................4

4.3测量配置........................................................................7

4.4测量步骤........................................................................7

4.5数据处理........................................................................8

4.6测量不确定度....................................................................9

5试验报告............................................................................9

6其他微波暗室的确认方法..............................................................9

7暗室诊断............................................................................9

附录A（规范性）静区反射率电平计算公式的推导........................................10

附录B（资料性）静区反射率电平测量不确定度分析示例..................................11

附录C（规范性）常见微波暗室的附加确认方法..........................................13

附录D（资料性）静区诊断............................................................14

参考文献.............................................................................16

I

GB/TXXXXX—XXXX

微波暗室场地确认方法

1范围

本文件确立了700MHz~110GHz频率范围内微波暗室场地静区性能的测量方法。

本文件适用于远场微波暗室场地静区性能测量，其他微波暗室参考附录C。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文

件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T4365-2003电工术语电磁兼容（IEC60050(161):1990+A1:1997+A2:1998，IDT）

3术语和定义

GB/T4365-2003界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1

微波暗室microwaveanechoicchamber

一种经过专门设计的封闭室，用于模拟自由空间。该室内壁铺设吸波材料，能充分吸收微波频段的

电磁波，使放置待测件的有限区域来自各个方向的电磁波反射信号电平下降到可接受程度。

3.2

静区quietzone

在暗室中放置待测件的有限区域，在此区域内来自各个方向的电磁波反射信号电平被控制到设计水

平。

3.3

静区反射率电平quietzonereflectivitylevel

微波暗室静区内等效反射波信号与直射波信号之比，单位分贝（dB）。

3.4

自由空间电压驻波比freespacevoltagestandingwaveratio

微波暗室静区内任意一点的场强是直射信号和反射信号的矢量和，反射信号叠加到直射信号上从而

在空间形成驻波，驻波的电压峰值与电压谷值之比，单位分贝（dB）。

4测量方法

3

GB/TXXXXX—XXXX

4.1概述

微波暗室通常用来模拟自由空间，用于天线测量、目标特性测量等领域，具有全天候工作的优势。

实际应用中由于吸波材料无法完全吸收电磁波等原因，暗室中仍然会有残余反射信号存在，这些反射波

从各个方向进入测试区域并与直射波叠加，在静区内一定行程线上形成空间驻波分布，见图1。该指标

用静区反射率电平表征。尤其当微波暗室将用于天线辐射方向图等参数测量时，应评估暗室中不同角度

的静区反射率电平。

图1微波暗室及静区

微波暗室静区反射率电平测量方法为：自由空间电压驻波比（VSWR）法。

自由空间电压驻波比法的测量原理是基于微波暗室中存在直射波信号和反射信号，暗室中空间任

意一点的场强是直射射信号和反射信号的矢量和，在静区中一定行程上形成驻波，驻波的数值大小即

反映了微波暗室内反射信号的大小，可通过测量空间电压驻波来确定暗室的静区反射率电平，见图2。

吸波材料

反射波

ER静区

发射天线

直射波

行程线

ED

接收天线

图2静区中反射信号和直射信号示意图

4.2测量设备

4.2.1一般要求

在微波暗室建成后，测量所用设备应满足测量频率范围要求，并满足50Ω输入/输出阻抗要求。测

量系统一般是由网络分析仪、发射天线、接收天线和扫描架等设备组成，见图3，测量系统应保证接收

端收到的信号高于噪声10dB，并保证接收信号在线性范围内。可根据实际情况在发射端使用放大器和/

4

GB/TXXXXX—XXXX

或在接收端使用前置放大器（预放大器）。网络分析仪可用信号发生器和接收机、频谱仪或功率计的组

合替代。

在测量开始前，所用设备应按设备使用说明书要求充分预热，并将周围无关设备和设施移开，以减

小对测量的影响。

测量设备应经过校准，并可溯源到国家计量基准或标准。

发射天线接收天线

静区

Y

扫描架

XZ

网络分析仪

计算机

（a）

发射天线接收天线

放大器前置放大器

静区

Y

扫描架

XZ

信号源接收设备

扫描架

计算机

控制器

(b)

图3测量系统示意图

4.2.2网络分析仪

频率覆盖测试频段，频率准确度优于10-7,幅度稳定度优于每小时0.2dB。

4.2.3信号发生器

频率覆盖测试频段，可通过扩频模块实现频率扩展，频率准确度优于10-7。

4.2.4接收设备

频率覆盖测试频段，可采用频谱仪、测量接收机或者功率计作为接收设备，系统动态范围至少优于

待测反射率电平10dB。

5

GB/TXXXXX—XXXX

4.2.5发射天线

在测量中发射天线应尽量模拟实际使用的天线，安装位置与实际使用时相同。如果发射天线由暗室

测量机构提供，应使用中等方向性的线极化天线，以保证有足够的电磁能量照射到各个暗室内壁。发射

天线在测量频率点的驻波比应小于1.5，并符合表1增益要求，在试验报告中说明测量所用的发射天线。

在1GHz以下频段，一般选择对数周期天线，在1GHz以上频段，一般选择喇叭天线。

表1发射天线要求（典型值）

频率增益

GHzdB

0.7～1.1210±2

1.1～1.710±2

1.7～2.610±2

2.6～3.9510±2

3.95～5.8510±2

5.85～8.210±2

8.2～12.410±2

12.4～18.010±2

18.0～26.5