JBT 9342-2024《光学计量仪器用测帽》

ICS17.180.30CCSN34JB代替JB/T9342-1999ContacttipsforopticalmetricalIJB/T9342—XXXX前言 2规范性引用文件 3术语和定义 4型式和分级 5基本尺寸 5.1共性结构和尺寸 5.2平面测帽 25.3刃形测帽 25.4球面测帽 36技术要求 37试验方法 错误！未定义书签。7.1试验条件 47.2测帽安装孔直径 47.3平面、刃形测帽工作面的平面度 47.4中、大平面测帽和中、大刃形测帽工作面任何1/4面积内的平面度 57.5球面测帽工作面顶点Φ1mm范围内,球面的面形局部偏差 57.6平面测帽和刃形测帽工作面与测帽安装孔轴线的垂直度 57.7平面测帽工作面的几何中心相对于测帽安装孔轴线的偏离量 67.8刃形测帽工作面几何中心相对于测帽安装孔轴线的偏离量 67.9球面测帽工作面顶点相对于测帽安装孔轴线的偏离量 77.10工作面的硬度 77.11外观及各部分相互作用 77.12运输环境试验 78检验规则 88.1检验分类 88.2出厂检验（即交货检验） 88.3型式检验 89标志、包装、运输及贮存 8附录A（资料性）检验测帽的专用小轴 JB/T9342—XXXX本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。本文件代替JB/T9342-1999《光学计量仪器用测帽》.本文件与JB/T9342-1999相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：——更改了标准名称的英译；——更改了标准的适用范围（见第1章）；——增加了“术语和定义”一章（见第3章）；——增加了测帽安装孔深度尺寸和孔底形状的要求（见5.1c——将“球面测帽球面的面轮廓度”（见1999年版的表2序5）更改为“球面测帽工作面顶点Φ1mm范围内,球面的面形局部偏差”（见表1序5），并更改了试验方法（见7.5，1999年版）；——将平面测帽和刃形测帽工作面与测帽安装孔轴线的垂直度要求“1.5º、3º”（见1999年版的表2序2）更改为“1.5′、3′”，并增加级别划分（见表2序1）；——将“平面测帽和刃形测帽工作面中心线与测帽套孔轴心线的同轴度”（见1999年版的表2序3）更改为“平面、刃形测帽工作面的几何中心相对于测帽安装孔轴线的偏离量”（见表2序2、3）并更改了试验方法（见7.7、7.8，1999年版的5.7）；——将“球面测帽球面中心线与测帽套孔轴心线的同轴度”（见1999年版的表2序4）更改为“球面测帽工作面顶点相对于测帽安装孔轴线的偏离量”（见表2序4）；——适当放宽了对检验环境的温度要求（见7.1，1999年版的5.1——增加了测帽工作面平面度的试验方法（见7.3.2，1999年版的5.5——增加了附录A，将原阶梯轴的内容移至附录A（见附录A，1999年版的5.6.1a）。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中国机械工业联合会提出。本文件由全国光学和光子学标准化技术委员会（SAC/TC103）归口。本文件起草单位：贵阳新天光电科技有限公司、上海理工大学、贵州省光学测量工程技术研究中心、河南省计量科学研究院、南京江南永新光学有限公司、苏州慧利仪器有限责任公司、南京东利来光电实业有限责任公司、宁波永新光学股份有限公司、宁波湛京光学仪器有限公司、广州粤显光学仪器有限责任公司、宁波舜宇仪器有限公司、宁波市教学仪器有限公司、梧州奥卡光学仪器有限公司、麦克奥迪实业集团公司、宁波华光精密仪器有限公司、重庆奥特光学仪器有限责任公司。本文件主要起草人：胡清、冯琼辉、罗武勇、张卫东、李晞、韩森、洪宜萍、毛磊、鲍金权、徐涛、胡森虎、张琪、张景华、章光伟、徐利明、吴国民。本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为：——1978年首次发布为ZBN34004-78；——1990年第一次修订，发布为JB/T9342—1990；——1999年第二次修订，发布为JB/T9342—1999；——本次为第三次修订。JB/T9342—XXXX光学计量仪器用测帽作为长度光学计量仪器接触测量的触测端，是光学计量仪器不可缺少的关键部件。本文件规定了光学计量仪器用测帽的型式、分级、基本尺寸和技术要求，描述了相应的试验方法，规定了检验规则、标志、包装、运输及贮存，为光学计量仪器用测帽的设计、制造、检验提供了依据，其目的是促使光学计量仪器用测帽产品实现标准化、规范化，同时为产品质量提供可靠保证。JB/T9342-1999《光学计量仪器用测帽》发布实施已二十余年，由于技术的发展、产品市场的变化和相关标准的更新，已不能适应产业现状，有必要修订完善，以不断适应产业发展新需求。本次对JB/T9342的修订，规范了技术参数名称、专业用语及标准的英文名称，增、减了产品的部分技术要求，更新和完善试验方法。修订后，对规范市场、指导产品生产、提高产品技术性能和质量水平，促进产业高质量发展提供可靠的技术支撑。1JB/T9342—XXXX光学计量仪器用测帽本文件规定了光学计量仪器用测帽的型式、分级、基本尺寸和技术要求，描述了相应的试验方法，规定了检验规则、标志、包装、运输及贮存。本文件适用于作为长度光学计量仪器接触测量触测端的平面测帽、刃形测帽和球面测帽的制造。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T2828.1计数抽样试验程序第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划GB/T25480仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法3术语和定义本文件没有需要界定的术语和定义。4型式和分级4.1依据触测端的大小和形状，测帽的型式分类如图1所示：4.2平面测帽、刃形测帽和球面测帽统称为测帽，按照对测帽工作面的形状误差和位置误差要求，测帽分为1级和2级二个级别。5基本尺寸5.1共性结构和尺寸共性结构和尺寸为本文件所有型式测帽所通用的结构和尺寸,以下为测帽的共性结构和尺寸：a)测帽的基本结构如图2所示。测帽由外套、触测端和紧固螺钉组成。测帽顶端为工作面，另一端具有安装孔；b)测帽的触测端以耐磨材料制造，其与外套可采用TM6.5X0.35-6h特种细牙螺纹连接；6gc)测帽安装孔配合尺寸为Φ6H7，孔的有效深度为8mm，孔的底面为凸球面。JB/T9342—XXXX单位为毫米5.2平面测帽平面测帽的样式和工作面直径如图3所示。单位为毫米5.3刃形测帽刃形测帽的样式和工作面尺寸如图4所示。单位为毫米23JB/T9342—XXXX5.4球面测帽球面测帽的的样式和工作面球面半径如图5所示。单位为毫米6技术要求6.1测帽安装孔直径应符合Φ6H7(0.012)mm。6.2测帽工作面的形状误差应符合表1中的规定。123456.3测帽工作面的位置误差应符合表2中的规定。132346.4测帽工作面的表面粗糙度和硬度应符合表3中的规定。4JB/T9342—XXXX12—6.5测帽的外观及各部分相互作用应符合下列要求：——电镀和发蓝表面不应有脱皮、斑点和颜色不均现象存在；表面不应有毛刺和锈蚀；外部锐边应倒棱；——触测端与外套接合处应齐整，二者连接应无松动现象；——工作面不允许有肉眼能观察到的麻点、疏松和划痕等缺陷；——紧固螺钉旋入、旋出应顺畅且紧固功能可靠。6.6运输贮存基本环境试验仪器在运输包装条件下的环境模拟试验应按GB/T25480的规定。其中选用：高温+55℃,低温-40℃,交变湿热试验相对湿度95%。7试验方法7.1试验条件测帽检验应在远离震动洁净的室内进行,室内的相对湿度在60%以下；检验温度条件应符合表4的规1℃23h7.2测帽安装孔直径使用Φ6H7孔用塞规进行检验。7.3平面、刃形测帽工作面的平面度7.3.1测量器具1级测帽使用1级Φ30mm平面平晶；2级测帽使用2级Φ30mm平面平晶。7.3.2试验程序将平面平晶放在被检测帽工作面上，调整平面平晶与测帽工作面的接触状态，使测帽工作面出现干涉带，如图6所示；估计干涉带弯曲量与相邻干涉带距离之比，按公式（1）计算工作面的平面度。表1第4项规定的不计入平面度的允许塌边范围，不参与平面度的评定。标引序号说明:5JB/T9342—XXXXΔh=×..................................................................................(1)式中：Δh——工作面的平面度；b——干涉带弯曲量；a——相邻干涉带距离；λ——照明光的波长。7.4中、大平面测帽和中、大刃形测帽工作面任何1/4面积内的平面度按7.3.2相同的方法检验。7.5球面测帽工作面顶点Φ1mm范围内,球面的面形局部偏差7.5.1测量器具检验所用测量器具如下：a)干涉显微镜；b)2级Φ30mm平面平晶；c)带V形槽的平行夹头。7.5.2试验程序将干涉显微镜调成白光照明。将平面平晶放在干涉显微镜工作台上,使其工作面在视场中成像,调整干涉显微镜,使视场中的干涉带从密集到稀疏，直至呈现一片干涉色；取下平面平晶，将平行夹头端面紧贴平板,用平行夹头夹住被检球面测帽，并使其球面紧贴平板，然后一同置于干涉显微镜工作台上；调整工作台和焦距，使测帽球面顶点位于视场中央，并出现环形干涉带，如图7所示。找到中心三条干涉带范围内的干涉带局部偏差最大处，估计干涉带局部偏差b与相邻干涉带距离a之比，按（1）式计算球面的面形局部偏差。7.6平面测帽和刃形测帽工作面与测帽安装孔轴线的垂直度7.6.1测量器具检验所用测量器具如下：a)分度值1ˊ的光学测角比较仪；b)专用小轴（参见附录A）；c)V形铁。7.6.2试验程序6JB/T9342—XXXX如图8所示，将V形铁放在光学测角比较仪的工作台上；将测帽装在专用小轴上并锁紧，再将小轴的另一端放在V形铁上；将光学测角比较仪的光轴调整至水平，并垂直于测帽工作面。使小轴在V形铁上转动一周，读取光学测角比较仪的示值最大变化量，取其1/2作为测帽工作面与测帽安装孔轴线的垂上程序，以4次测得值得最大值作为检验结果。标引序号说明:7.7平面测帽工作面的几何中心相对于测帽安装孔轴线的偏离量7.7.1测量器具检验所用测量器具如下：a)投影仪或工具显微镜；b)专用小轴（参见附录A）；c)V形铁。7.7.2试验程序如图9所示，将V形铁放在投影仪的工作台上；将测帽装在专用小轴上并锁紧，再将小轴的另一端放在V形铁上；使小轴在V形铁上转动一周，在投影仪上读取测帽外圆一侧轮廓影像的最大位移量，以位移量的1/2作平面测帽工作面的几何中心相对于测帽安装孔轴线的偏离量。7.8刃形测帽工作面几何中心相对于测帽安装孔轴线的偏离量7.8.1测量器具检验所用测量器具如下：a)投影仪或工具显微镜；b)专用小轴（参见附录A）；c)V形铁。7JB/T9342—XXXX7.8.2试验程序测帽安置同7.7.2。转动专用小轴，使测帽刃形长度方向平行于成像光轴，用投影仪测量刃宽的中点坐标；将小轴转动180。，再次测量刃宽的中点坐标；以两次测量坐标点位置之差的1/2作为刃形测帽工作面刃宽几何中点相对于测帽安装孔轴线的偏离量。将小轴转动90。，重新调焦，按以上程序测量刃形测帽工作面刃长几何中点相对于测帽安装孔轴线的偏离量。按公式（2）计算刃形测帽工作面几何中心相对于测帽安装孔轴线的偏离量。 Δx2+Δy2.............................................................................式中：e——测帽工作面几何中心相对于测帽安装孔轴线的偏离量；Δx——测帽工作面刃宽几何中点相对于测帽安装孔轴线的偏离量；Δy——测帽工作面刃长几何中点相对于测帽安装孔轴线的偏离量；7.9球面测帽工作面顶点相对于测帽安装孔轴线的偏离量7.9.1测量器具检验所用测量器具如下：b)定位块。7.9.2试验程序如图10所示，将V形铁放在投影仪的工作台上；将测帽装在专用小轴上并锁紧，再将小轴的另一端放在V形铁上，并使测帽的球面顶点顶在定位块上。使小轴在V形铁上转动一周，在投影仪上读取球面顶点的最大位移量Δf，以Δf/2作为球面测帽工作面顶点相对于测帽安装孔轴线的偏离量。7.9.3工作面的表面粗糙度用干涉显微镜、轮廓仪或相同精度的表面粗糙度测量仪器进行检验。7.10工作面的硬度在制造过程中，用硬度计进行检验。7.11外观及各部分相互作用以目测及手感进行检验。7.12运输环境试验8JB/T9342—XXXX按GB/T25480的规定进行试验。8检验规则8.1检验分类产品的检验分为出厂检验和型式检验。8.2出厂检验（即交货检验）出厂检验的样品数根据GB/T2828.1中的一般检查水平Ⅰ、正常检验一次抽样方案，或根据供需双方协商确定。通常从正常检验开始，根据检验结果，随时执行GB/T2828.1规定的转移规则。8.3型式检验8.3.1产品的型式检验为可选项目，但产品符合下列情况之一时，