YBT 6188-2024《高铬型钒钛磁铁矿 钒、钛、铬、钙、镁、铝、硅、锰和磷含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法》

ICS73.060.10CCSD31YBHighchromiumvanadium-titaniummagnetite—Determinationofvanadium,titanium,chromium,calcium,manganese,aluminium,silicon,magnesiuphosphorucontents—WavelengthdispersiveX-rayflu（报批稿）YB/TXXXXX-20XX本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中国钢铁工业协会提出。本文件由全国铁矿石与直接还原铁标准化技术委员会（SAC/TC317）归口。本文件起草单位：攀钢集团攀枝花钢钒有限公司。本文件主要起草人：杨新能、冯宗平、李小青、李克明、王娟、杨兴梅、陈德、李倩、唐本芹、羊绍松。3YB/TXXXXX-20XX高铬型钒钛磁铁矿钒、钛、铬、钙、镁、铝、硅、锰和磷含量的测定波长色散X射线荧光光谱法警示—使用本文件的人员应有正规实验室工作的实践经验。本部分并未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件。本文件规定了波长色散X射线荧光光谱仪测定高铬型钒钛磁铁矿中钒、钛、铬、钙、镁、铝、硅、锰和磷含量的方法。本文件适用于高铬型钒钛磁铁矿中9种组分含量的测定，各组分测定范围见表1。表1各组分测定范围测定范围（质量分数），%V2O5Al2O3P2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T6682分析实验室用水规格和试验方法GB/T6730.1铁矿石分析用预干燥试样的制备GB/T6730.68铁矿石灼烧减量的测定重量法GB/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定GB/T10322.1铁矿石取样和制样方法GB/T16597冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则3术语和定义4YB/TXXXXX-20XX本文件没有需要界定的术语和定义。4原理试料经硼酸盐熔融制备成玻璃圆片，其表层样品经初级X射线照射，产生特征X射线荧光经晶体分光后，探测器在选择的特征波长相应的2θ角处测量各待测元素的X射线荧光强度。根据校准曲线和测量的X射线荧光强度，经元素间干扰效应校正后，获得待测元素的含量。5试剂与材料分析中除另有说明外，仅使用认可的优级纯试剂和符合GB/T6682规定的三级及以上蒸馏水或去离子水或纯度相当的水。5.1碳酸锂无水干燥状态，否则需在200℃烘干2h以上，方可使用。5.2四硼酸锂无水四硼酸锂（Li2B4O7），在600℃灼烧5h，然后在干燥器中冷却、贮存。5.3脱模剂推荐使用碘化钾溶液，200g/L；或碘化锂溶液，200g/L，也可使用碘化铵、溴化铵、溴化锂等。5.4氩甲烷气体90%Ar+10%CH4。6仪器与设备6.1X射线荧光光谱仪X射线荧光光谱仪应符合GB/T16597的规定。6.2熔融炉最高工作温度不低于1100℃,温控精度30℃,可以选择电加热、高频加热或燃气加热熔融炉。6.3坩埚和模子坩埚和模具（或坩埚兼做模具）容积宜大于30mL，铸型模要求底部平整光滑（底部厚度应足以防止变形），由不浸润的铂-黄合金（95%Pt-5%Au）制成，加热熔融操作不易变形。6.4天平分度值为0.1mg。7试样分析用试样应按GB/T10322.1进行取样和制样，试样应通过0.125mm筛孔；按GB/T6730.1的规定制备预干燥试样，于干燥器中冷却至室温备用。8玻璃样片的制备8.1玻璃样片的配比四硼酸锂6.0000g、碳酸锂0.5000g、样品0.3000g，精确至0.1mg。8.2熔融温度及时间5YB/TXXXXX-20XX依次称取四硼酸锂、碳酸锂、样品，置于坩埚（6.3）中，搅匀，滴加0.5mL脱模剂（5.3），置于熔融炉（6.2）中，在1120℃±10℃熔融25min，赶净气泡，取出，快速摇匀，水平静置冷却后，将熔片倒在干净的滤纸上，标识后待测。8.3玻璃样片的制备精度实验室应根据选择的熔剂、氧化剂和脱模剂进行熔片制备精密度测试。选择1个钒钛磁铁矿标准样品，按8.2程序熔制5个样片，对每个玻璃样片检测5次铁及钛的X射线荧光强度，按公式（1）计算标准偏差Sp，按公式（2）计算变异系数Sr，变异系数Sr宜小于0.2%，否则应调整熔融方法直至试料制备精密度满足要求方可熔铸玻璃片。式中：Sp—试样制备的标准偏差；Sr—试样制备的变异系数；Xij—第i次测量的第j个玻璃熔片的X射线荧光强度；X—5次测量的X射线荧光平均强度的平均值；Xi—第i次测量的5个玻璃熔片的X射线荧光平均强度。9测量条件X射线光谱仪在测量之前应按仪器制造商的要求使工作条件得到最优化，各元素测量条件参见附录B。10校准曲线的绘制10.1标准校准样品选定有一定浓度和梯度范围的系列有证标准物质作为校准样品，并确保每个测量元素的有证浓度数量应大于或等于该元素校正曲线系数个数的三倍。校正曲线系数是指由校准样品确定的系数，如曲线的截距、斜率、经验α影响系数等。如果选用的系列标准物质未能覆盖待测样品的含量范围，允许使用系列标准物质的混合物或加入高纯试剂。用高纯试剂配制的校准样品的准确性应用有证标准物质进行验证。标准校准样品按试样熔融的方法熔铸成玻璃片后进行测量。10.2测量条件各元素特征谱线的测量条件通过优化获得，通常须测试3～4个不同浓度的样品。各元素的测量条件参见附录B，不同仪器可根据实际情况选择合适的测量条件，包括背景校正方法和测量时间计算等。10.3校准方程6YB/TXXXXX-20XX可根据实际情况选择合适的校准方程，如理论α影响系数、基本参数法、经验α影响系数等。11样品测量11.1漂移校正选择合适的标准校准样品按8.2规定的程序熔融制片，作为漂移校正熔片进行仪器的漂移校正。可采用单点校正或两点校正，校正的间隔时间可根据仪器的稳定性决定。11.2验证分析按照选定的分析条件，用X射线荧光仪测量与试样化学成分相近的标准物质的玻璃熔铸片，以公式（3）判定分析值与认证值或标准值之间在统计上是否有显著差异。式中： x—标准样品中分析元素测量的平均值；μ0—标准样品中分析元素的标准值；r/R—重复性限和再现性限；n—标准样品的重复测定次数；S—所使用的标准样品标准值的标准偏差；N—所使用的标准样品定值实验室数。11.3试样熔片测量按选定的测量条件测定试样熔片。若进行仪器漂移校正，仪器稳定后，先进行漂移校正，再进行试样熔片测定。12分析结果计算及其表示12.1分析结果计算根据未知试样的荧光强度测量值，从校准曲线计算出分析组分的含量。若是灼烧基结果，须换算成干基结果，转换公式见式（3）。Li×(100L)/100……………（3）式中：Ci—干基下测量元素的含量，%；CLi—灼烧基下测量元素的含量，%；L—灼烧减量，%。注：灼烧减量依据GB/T6730.68规定方12.2分析结果的表示同一试样两次独立分析结果差值的绝对值不大于表2所列重复性限r时，则取算术平均值作为分析结果。如果两次独立分析结果差值的绝对值大于表2所列重复性限r时，则按照附录A的规定追加测量次数并确定分析结果。7YB/TXXXXX-20XX按照GB/T8170进行数字修约。分析结果≥1%时，保留至小数点后两位；计算结果<1%时，保留至小数点后三位。12.3精密度本文件的精密度见表2。表2精密度%（质量分数）mrRmrRmrRV2O5PAl2O3在重复性条件下，获得的两次独立测试结果的绝对差值不大于重复性限（r），大于重复性限（r）的情况以不超过5％为前提。在再现性条件下，获得的两次独立测试结果的绝对差值不大于再现性限（R），大于再现性限（R）的情况以不超过5％为前提。12.4氧化物系数氧化物换算系数见表2。表3氧化物换算系数VV2O5Al2O3PP2O513试验报告试验报告应包括下列内容：a)鉴别试料、实验室和分析日期等资料；b)遵守本文件规定的程度；c)分析结果及其表示；d)测定中观察到的异常现象；e)对分析结果可能有影响而本文件未包括的操作，或者任选的操作。8YB/TXXXXX-20XX试验样分析值接受程序流程图试验样分析值接受程序流程见图A.1。从独立的重复结果开始X1+X2μ=X1+X2μ=2否再次测定X3X1X1+X2+X3μ=3Xmax-Xmin≤1.2r否再次测定X4X1X1+X2