SJ-T 11818.1-2022 半导体紫外发射二极管 第1部分：测试方法

I 1 1 1 24.1一般要求 2 2 2 24.5工作姿态 2 2 3 3 3 3 3 4 5 5 5 6 6 7 87.1一般要求 7.2一般信息 8 8 9 98安全防护 9 I本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规本文件由中国电子技术标准化研究院(CESI)归口。半导体紫外发射二极管第1部分：测试方法本文件规定了半导体紫外发射二极管(以下简称器件)辐射度参数测试方法，包括测试条件、测试仪器、测试步骤等。本文件适用于峰值波长200nm～400nm器件的测试，峰值波长400nm～420nm器件的测试方法可参照执行。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(括所有的修改单)适用于本文件。GB/T26179-2010完源的光谱辐射度测量(CIE63:194IDT)GB/T37031-2018半导体照明术语SJ/T/11394—2009半导体发光二极管测试方法3术语和定义GB7031-2018和sn11394-200界是的以及下列术语和定义适用于件。半强度角balfintensityangle在辐射图中辐射(或发光)强度等于或大于最大值的一半所对应的夹角<见图1)。ZL机图1辐射图及相关特性2相对湿度范围：20%～65%。34.7操作要求制造商应提供被测器件的正确操作所需信息。具有可调辐射通量的被测器件应按制造商的说明进行设置。被测器件的辐射面应保持清洁干净。对于需要热沉或其他热管理方法才能保证正常工作的被测器件，其使用的热沉表面处理采用紫外低反射材料，应不存在荧光现象。5测试仪器5.1供电电源5.2电学测试仪器电学测试应采用适用的测试仪器，测试电压和电流的仪器应符合G24824—2009附录A的要求，其准确度优于01%用四线法作为测试电路连接方式，见图2。电功率可采周适用的测试仪器直接测试与读数，或通过测试电压乘以电海计算得出。图2四线法的电路连接方式5.3积分球光谱仪系统积分球应装有辅助灯用于自吸收测试，辅助灯光谱应与被测器件光谱接近，其辐时通量不应随时间而变化，用于被器件及球内物件自吸收校正因子的确定。积分球内壁应为无光谱选择性、无荧光的漫反射涂层，应有较强的耐紫外线能力，以避免黄化现象。推荐涂层使用反射率为0.85以上的涂料，以使积分球具有更好的光诸性能和更好的稳定性。积分球内部的所有物件，如挡屏、被测器件安装支架、辅助夹具，会影响测试结果，因此它们外形尺寸应尽可能小，应有紫外高反射率的表面，推荐反射率为0.85以上具有无光谱选择性和漫反射特系统中使用的光谱仪应至少覆盖被测器件紫外波长范围。可采用双单色仪或单单色仪，光谱仪应符合GB/T26179—2010的要求，其带宽应不大于2nm,波长分辨率应不大于0.2nm。光谱仪在被测器件的整个紫外范围应具有线性响应。积分球和光谱仪应作为一个整体系统(见图3),进行总光谱辐射通量的标定。峰值波长在250nm～400nm范围内的被测器件，可采用积分球-光谱仪系统测试辐射度参数，含辐射通量、辐射效率、峰值波长、中心波长、光谱半宽。434512图3积分球-光谱仪系统5.4测角仪-紫外探头-光谱仪系统测角仪-紫外探头-光谱仪系统(见图4)角度扫描范围应覆盖被测器件的全部辐射空间角度，尤其对于总辐射通量的测试。使用测角仪-紫外探头-光谱仪系统进行测试时，测角仪角度准确度应在±0.5°之内，角度分辨力优于(含)0.1°。在一些角度区域内，被测器件所发出的紫外辐射可能会被测角仪-紫外探头-光谱仪系统的机械结构遮挡住，使得这些紫外辐射不能被紫外探头接收到，通过推算出立体角包含的这一角度区域内的辐射照度分布，对被测器件的总辐射通量进行适当的修正。紫外探头(可含反射镜)的相对光谱响应误差应进行修正。修正时必须使用光谱仪获得被测器件的相对光谱分布与紫外探头的相对光谱响应误差的信息。测角仪-紫外探头-光谱仪系统应置于光学暗室中，避免杂散光影响测试结果。光学暗室中所有物件表面处理采用紫外低反射材料，应不存在荧光现象。测角仪-紫外探头-光谱仪系统应采用溯源至SI单位的氘灯进行光谱辐射照度标定。峰值波长在200nm~400nm范围内的被测器件，可采用测角仪-紫外探头-光谱仪系统测试辐射度参数，含辐射强度、辐射强度分布、半强度角、辐射通量、辐射效率5e)辐射通量(也称辐射功率);6图5辐射照度测试原理在测试辐射照度时，被测器件与紫外探头之间的测试距离应按CIE127:200推荐的标准条件A或条件B设置，见表1。在这两种条件下，所用的紫外探头要求有一个面积为100mm的圆入射孔径体角s面角(全面))2标准条件原在测试距离不于被测器件辐射面最大尺寸10倍的远场条件下，采用测角枚-素外探头-光谱仪系统直接测试与读取被器件的不同空间角度辐射照度，根据辐射照度与测试距离平方反比关系，按公式(1)计算辐射强度。式中：(e,η)——空间角度： 测试距离，单位为米(m)Ee(e,n)—空间(e,n)方向上测试点的辐射照度，单位为瓦特每平方米(W/m²)。根据不同空间角度的辐射强度，用极坐标图表示辐射强度分布。在该图上分别读取最大辐射强度的一半(50%)所相对应的角度θ₁、θ₂,按公式(2)计算半强度角θ₁/2。式中：θ₁/2——半强度角，单位为度(°)0,θ₂最大辐射强度的一半(50%)所相对应的角度，单位为度(°)。6.4辐射通量和辐射效率7仪系统的测试死角(机械结构遮挡)不影响辐射通量的准确度时，可采用测角仪-测器件的光谱辐射通量，按公式(3)计算被测器件的总辐射通量。正系数按公式(4)、公式(5)修正测试结果。 YTEsr(λ)——被测器件的光谱仪读数；按公式(6)计算被测器件的总辐射通量。r——被测器件与紫外探头的测试距离，单位为米(m);值，按公式(7)计算辐射效率。ne——辐射效率，单位为1;P——消耗的电功率，单位为瓦特(W)。功率分布图，在该图中最大相对辐射功率(100%)对应的波长，即为峰值波长λp,见图6。80辐射功率波长图6相对光谱辐射功率分布 (8) (8) 中心波长、单位为纳米(m):光谱半宽，单位为纳米(于峰值波长辐射功率的一半(50%)所相对应的波长，单位为纳米(nh)。7报告结果7.1一般要求报告结果应色含测试中任何与标准测试条件的偏差，以及采取修正施的描述和修正因子。7.2一般信息报告结果应提供以下信息a)实验室名称及地址；b)报告编号和日期；c)测试日期；d)客户信息；e)测