纤维光学互连器件和无源器件 性能标准 第022-13部分：端接成尾纤和跳线的多模光纤连接器 环境类型OP+HD（有额外散热的强化防护的室外环境） 征求意见稿

GB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-021成尾纤和跳线的多模光纤光缆连接器环境类别OPIEC60793-2-10光纤第2-10部分：产品规范A1类多模光纤分规范(Opticalfibre2-10:Productspecifications—Sectionalspecificationforcatego注：GB/T12357.1—20XX通IEC60794-2-50光缆第2-50部分：室内光缆终端光缆组件用单芯和双芯光缆门类规范IEC60874-14-1纤维光学互连器件和无源器件光纤光缆连接器第14-1部分多模光纤端接的SC-PC型标准光纤连接器详细规范(Fibreopticinterconnectingdevicesandpacomponents—ConnectorsforIEC60874-19-1纤维光学互连器件和无源器件光纤光缆连接器第19-1部分A1b—DetailspecificatioIEC61300-1纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第1部分总则和导则(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecompon注：GB/T18309.1—2001纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第1部分:总则和导则（IECGB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-022注：GB/T18310.1—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-1部分:试验振动(正弦)procedures-Part2-2:Tests—Matingdurab注：GB/T18310.2—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序measurementprocedures-Part2-4:Tests—Fibreorcableretenti注：GB/T18310.4—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序(Fibreopticinterconnectingdevprocedures-Part2-5:Tests—T注：GB/T18310.5—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-5部分：试验扭转（IEC机构抗拉强度(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-6:Tests—Tensilestrengthofcouplingmechan注：GB/T18310.6—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-6部分：试验锁紧机构抗(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponprocedures—Part2-7:Tests—Bending注：GB/T18310.7—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-7部分：试验弯矩（IECIEC61300-2-12纤维光击(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassiveprocedures—Part2-12:Tests—注：GB/T18310.12—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序IEC61300-2-17纤维光温(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassiveprocedures—Part2-17:Test注：GB/T18310.17—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序IEC61300-2-18纤维光热(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassiveprocedures—Part2-18:Tests—Dry注：GB/T18310.18—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序GB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-023IEC61300-2-21纤维光andmeasurementprocedures—Part2-21:Tests—Compositetemperature/humiditycycl注：GB/T18310.21—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序组合循环试验（IEC61300-2-2IEC61300-2-22纤维光procedures—Part2-22:Tests—Changeoftempe注：GB/T18310.22—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-22部分：试验温度变化IEC61300-2-26纤维光雾(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassiveprocedures—Part2-26:Tests—Sal注：GB/T18310.26—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序IEC61300-2-27纤维光尘（层流）(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-27:Tests—Dust—Laminarflo注：GB/T18310.27—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-27部分：试验灰尘（层流IEC61300-2-27:1995，IDT）IEC61300-2-44纤维光维光学元器件应力释放装置的曲挠(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents注：GB/T18310.44—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-44部分：试验纤维光学元器件应力释放装置的曲挠（IEC61300-2-44缆连接器静态负荷下的筛选试验(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—staticload—Singlemodeandmultim注：GB/T18310.50—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-50部分：试验光纤光缆连接器静态负荷下的筛选试验（IEC61300-2-50:IEC61300-3-1纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-1部分:检查和测量外观检查（Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-1:Examinationsandmeasurements—Visualexaminat注：GB/T18311.1—202X纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-1部分:检查和测量外观检查衰减和回波损耗变化的动态监测(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-3:Examinationsandmeasurements—Active注：GB/T183011.3—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程和回波损耗变化的动态监测（IEC61300-3-3:GB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-024procedures—Part3-4:Examinationsandmeasurements—Atten注：GB/T183011.4—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程回波损耗(Fibreopticinterconnectingdevicesameasurementprocedures—Part3-6:Examinationsandmeasurements—Returnl注：GB/T183011.6—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程量瞬间损耗(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-28:Examinationsandmeasurements—Transientl注：GB/T183011.28—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程testandmeasurementprocedures—Part3-34:Examinationsandmeasurements—Attenuationof注：GB/T183011.34—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程机配接连接器的衰减（IEC61300-3-34:2IEC61300-3-35纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-35部分:检查和测量随机配接多芯光连接器的衰减(FibreopticinterconnectingdevicesandpaAttenuationofrandommatedmulti-fibreconnecto注：GB/T183011.45—20XX纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程机配接多芯光连接器的衰减（IEC61300-3-45:2IEC61754(所有部分)纤维光学互连器件和无源器件纤维光学连接器接口(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassive注：GB/T21022(所有部分)纤维光学互连器件和无源器件纤维光学连接器接口[IEC61754opticalinterfaces—Part几何（Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—FibreopticconneGB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-025——IEC电工学：https://www.electroped——ISO在线浏览平台：https://www.iso.δ监测条件试验过程中和试验过程后的光功率，跳线测试样品patchcordtestGB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-026且可为紧包光纤或加强光缆形式，符合IEC60793-2-10。用于尾纤或跳线的加强光缆，除了温度循环为-40℃~85℃℃外，其余应符合IEC60794-2-50中的规定。在使用时，应注意符合光缆最小弯曲半所有光学性能试验均应仅在一个中心波长下见IEC60874-14-1和IEC60874-19-1，或矩形插针连接器参见IECPAS63267-3-30和IECPASGB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-027在每次机械和环境试验（见表2）的试验前和试验后，应对判据序号试验和检测初始值试验中或试验后，或者试验中和试验后1平均值≤0.3dB最大值≤0.6dB（至少97%的测量值）平均值≤0.5dB最大值≤1.0dB（至少97%的测量值）—2回波损耗（随机配接）IEC61300-3-61m级：≥45dB(配接，带角度端面)应符合初始要求3衰减和回波损耗动态监测IEC61300-3-3—试验中的衰减变化a：尾纤型试样（1个接点δ≤0.2dB（850nm）跳线型试样（2个接点）δ≤0.5dB（850nm）试验后的衰减变化a：尾纤型试样（1个接点δ≤0.2dB（850nm）跳线型试样（2个接点）δ≤0.4dB（850nm）应符合初始回波损耗要求4瞬间损耗IEC61300-3-28—试验中的衰减变化a：试验后的衰减变化a：5外观检查IEC61300-3-1其他可能影响使用的损坏。试验后，应对测试样品进行检查，确保其没有任何会影响产品功能的缺陷。肉眼检查移动、变形、瑕疵、裂纹或杂质等可能影响功能的因素。a对于矩形插针，应在试验前后对所有光纤进行监测。试验中（如适用）每排至少应对两个外侧光纤和一个最靠近中心的光纤进行光学监测。GB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-028序号试验项目要求试验方法1衰减(随机配接)试验方法：IEC61300-3-34方法1（圆形插针）IEC61300-3-45方法1（矩形插针）850nm±30nm850nm特性：S3型，LED稳定性：测量期间或至少1h内稳定在D1，测量期间在±0.05dB以内随机抽取测试样品预处理程序：根据制造厂的说明，清洁测试样品的机械和光学对准部件2回波损耗（随机配接）试验方法：IEC61300-3-6方法1以及标准中指定的其他方法850nm±30nm稳定性：测量期间或至少1h内在光谱宽度：≥50nm线性：≤5%待测功率分支设备：方向性：设备的方向性应至少比要测量的最大回波损耗高出10dB随机抽取测试样品预处理程序：根据制造厂的说明，清洁测试样品的机械和光学对准部件3光纤/光缆保持力试验中和试验后：试验方法：IEC61300-2-4带芳纶加强件的增强型光缆：70N±2N(速率为5N/s)不带芳纶加强件的套管或光缆：10N±0.5N（速率为0.5N/s）紧包光纤：5.0N±0.5N（速率为0.5N/s）一次被覆光纤：2.0N±0.2N（速率为0.5N/s）持续时间：距连接器尾部200～300mm光学监测点:试验前、负载达到最大值后、保持最大负载最少30s后、试验后4锁紧机构抗拉强度试验中和试验后：试验方法：IEC61300-2-640N±2N（速率为2N/s）持续时间：最少60s光学监测点：试验前、负载达到最大值后、保持最大负载最少30s后、试验后5动态弯曲试验中和试验后：判据4（表1）试验方法：IEC61300-2-44缓慢施加5N±0.5N（带加强光缆的连接器）弯曲角度：±90°/循环（0°~+90°~0°~-90°~0°)循环次数：光学监测点：试验前、试验中和试验后GB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-029序号试验项目要求试验细节6试验方法：IEC61300-2-50带加强缆的连接器：15N±2N（速率带紧套光纤的连接器：5.0N±0.5N（速率为0.5N/s）被测试样光缆固定点距芯棒切点距离持续时间：光学监测点：试验前和试验结束后至少10s（无负载）7扭转仅测试衰减（表1）试验方法：IEC61300-2-5一次被覆光纤和紧包光纤：缓慢施加负载，避免线缆受到任何突然的猛拉或过度拉伸被测试样光缆固定点距芯棒切点距离扭转角度：循环次数：光学监测点：试验前、试验中和试验结束后至少10s（无负载）8配接耐久性试验中和试验后：注：若衰减增加超过允许限值，可在必要时对连接器进行清洁（清洁前的测试结果不做记试验方法：IEC61300-2-2（测量条件A）配接类型：插头-适配器循环次数：圆形插针：200矩形插针：50循环速率：≥3s（每一接合和分离之间的时间）预处理程序：据制造厂的说明清洁插头和适配器恢复程序：在最后一次配接循环后，根据制造厂的说明清洁样品的机械和光学对准部件，最多清洁2次9弯矩仅测试衰减（表1）试验方法：IEC61300-2-710N±2N（速率为2N/s）持续时间：光学监测点：试验前、负载达到最大值后、保持最大负载至少10s后、试验后振动（正弦）试验中和试验后：判据4（表1）试验方法：IEC61300-2-1频率范围：10Hz～55HZ扫频次数：15/轴向扫频速率：1oct/min振动方向：三个相互垂直的轴线振动幅值：0.75mm光学监测点：每轴试验前、试验中和试验后撞击注：在跌落循环过程中，样品应未配接试验方法：IEC61300-2-12（方法A）跌落次数：跌落高度：光学监测点：试验前和最后一次跌落试验后预处理程序：根据制造厂的说明清洁插头和适配器样品,插针上装防尘盖保护光纤端面高温试验中和试验后：试验方法：IEC61300-2-17GB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-02序号试验项目要求试验细节试验温度：持续时间：96h试验箱内测试见IEC61300-1光学监测点：试验前、试验后和试验中，其中试验中最大测试间隔1h高温试验中和试验后：试验方法：IEC61300-2-18试验温度：持续时间：96h试验箱内测试见IEC61300-1光学监测点：试验前、试验后和试验中，其中试验中最大测试间隔1h温度-湿度组合循环试验试验中和试验后：试验方法：IEC61300-2-21，试验Z/AD温度范围：-10℃±2℃~65℃±2℃23℃~65℃~23℃~65℃~23℃~-10℃~23℃非高温周期轮23℃~65℃~23℃~65℃~30min），以最大化冷凝效果相对湿度：93％RH±3％RH88％RH±8％RH从23℃~-10℃变化期持续期间不控制但未除湿极限温度下持持续时间和循每次循环24h,10次循环其他要求：1.前九次循环中的五次应暴露于高温，剩下的四次不应暴露