DB44T 1349-2014 高性能软磁铁氧体材料检测规范

高性能软磁铁氧体材料检测规范2014-04-18发布2014-07-18实施I前言 Ⅲ1范围 12规范性引用文件 13术语和定义 14型号标识及分类 14.1型号标识 14.2材料的分类 25试样环和测试环境 45.1试样环的规定 45.2试样环的外形及尺寸要求 45.3试样环的磁正常化 55.4测试环境条件 56检测方法 56.1电磁性能 56.2物理性能 66.3机械强度 76.4环境适应性 77检验规则 87.1检验批 87.2检验分类 87.3逐批检验 8 8附录A(规范性附录)电磁性能和物理性能检测方法 附录B(规范性附录)机械性能试验方法 ⅡDB44/T1349—2014本标准按GB/T1.1-2009给出的规则起草。本标准由广东省质量技术监督局提出并归口。本标准起草单位：广东风华高新科技股份有限公司。本标准主要起草人：王京平、胡春元、蒋胜勇、邓肇华。本标准为首次发布。1高性能软磁铁氧体材料检测规范本标准规定了高性能软磁铁氧体材料的术语和定义、型号标识及分类、试样环和测试环境、检测方法、检验规则。本标准适用于高性能软磁铁氧体材料(以下简称材料)。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T2828.1计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划(ISO2859-1:1999,IDT)GB/T2829周期检查计数抽样程序及抽样表GB/T2900.60-2002电工术语电磁学(IEC60050-121:1998,EQV)GB/T9632.1-2002通信用电感器和变压器磁心测量方法(IEC60367-1:1982,IDT)GB/T9637-2001电工术语磁性材料与元件(IEC60050-221:1990,EQV)SJ/T9072.3-1997变压器和电感器磁芯制造厂产品目录中有关铁氧体材料资料的导则(IEC60401:1993,EQV)SJ20966-2006软磁铁氧体材料测量方法GJB1931A软磁铁氧体磁芯通用规范IEC61332-2005软性铁氧体材料分类(Softferritematerialclassification)3术语和定义高性能软磁铁氧体材料highperformancesoftferritematerial具有高阻抗、低功耗、低相对损耗因数的，由三价铁离子作为主要阳离子成分的若干种氧化物组成，并呈现亚铁磁性或反铁磁性的低矫顽性磁性材料。4型号标识及分类4.1型号标识材料的型号标识如下所示：高性能软磁铁氧体材料小类：用数字或数字加小写英文字母表示，见表1、表2、表3。2示例：PW3b-HP表示fmax为300kHz,且f为100kHz,B为100mT下，从为3000,B×f为10000(mT·kHz),功率损耗≤150kW/m³,μ为2000~3500的功率型高性能软磁铁氧体材料。4.2材料的分类这些材料主要用于抗电磁干扰，相应的分类在表1中给出。分类MHz℃2000～600032000～600012000～600016000～10000注：试样环的尺寸为D10mm×d6mm×4mm。该频率是指标准化阻抗的测试频率。标准化阻抗在25℃下测量。起始磁导率是在f≤10kHz、B≤0.5mT条件下测量。对于抗EMI材料，μ是用于参考的典型值，不作为基本参数。4.2.2信号型材料这些材料主要用于信号处理及传输，相应的分类在表2中给出。表2信号型材料分类相对损耗因数(tanδ/μ)®MHz居里温度T.℃1400～800800～12003DB44/T1349—2014表2信号型材料(续)分类起始磁导率(μi)a相对损耗因数(tanδ/μi)aMHz居里温度Tc℃2500～35003500～6000SP10a-HPSP10b-HP6000～8000SP1la-HPSP11b-HP8000～12000SP12a-HPSP12b-HPSP13-HP注：试样环的尺寸为D10mm×d6mm×4mm。起始磁导率μ和相对损耗因数tanδ/μ是在25℃下测量。这些材料主要用于高磁通密度下的功率变换，相应的分类在表3中给出。分类最大频率kHz频率kHz磁通密度mT振幅磁导率性能因数mT×kHz功率损耗kW/m³起始磁导率PW1a-HPPW1b-HP4502000～3500PW2a-HPPW2b-HP2000～3500PW3a-HPPW3b-HP2000～3500PW4a-HPPW4b-HP1400～2000PW5a-HPPW5b-HPPW5c-HP250001400～2000PW6a-HPPW6b-HPPW6c-HP25000800～14004DB44/T1349—2014表3功率型材料(续)分类最大频率频率磁通密度mT振幅磁导率性能因数mT×kHz功率损耗kW/m³起始磁导率°PW7a-HPPW7b-HPPW7c-HPPW8a-HPPW8b-HPPW8c-HP400～800PW9a-HPPW9b-HP40～400注：试样环的尺寸为D25mm×d15mm×10mm。fmv是相对一个给定材料小类的可应用的最大频率。B是相对一个给定材料小类的可应用的合适磁通密度峰值。A是100℃下，表3中的B和f情况下的振幅磁导率。功率损耗是在100℃下和表3中的B和f条件下测量。°A是在25℃下起始磁导率。5试样环和测试环境5.1试样环的规定进行常规测试使用具有无气隙闭合磁路，且经过磁正常化后的环形样品来测量材料的电磁性能。密度和电阻率测试样品尺寸按SJ20966-2006的规定执行。5.2试样环的外形及尺寸要求试样环的外形如图1所示。图1试样环的外形除另有规定外，试样环应符合下列尺寸要求：a)外径D:10mm～36mm;5b)有效截面积：8mm²~100mm²;c)推荐的尺寸比为：D/d≈1.67,h/d≈0.67;d)对于锰锌功率型材料，推荐尺寸要求：D=(25.0±0.2)mm、d=(15.0±0.2)mm、h=(10±0.1)mm,对于信号型或抗EMI型，推荐尺寸要求：D=(10.0±0.2)mm、d=(6.0±0.2)mm、h=(4±0.1)mm;e)推荐的试样环尺寸及其磁路参数见表4。表4推荐的试样环尺寸及其磁路参数样品规格外径mm内径mm高度mm磁心常数mm¹磁心常数mm³有效磁路截面积mm²有效磁路长度mm有效体积25±0.706±0.204±0.155.3试样环的磁正常化为了使测试样环在测量前有一个充分确定的和可重复的磁状态，要将待测磁芯样环进行磁正常化，a)将待测磁心样环放入一个控温箱中，以不超过2℃/min的速率加热到约高于居里点25℃的温度。磁心样环在该温度下保温30min～50min。b)使磁心样环以不超过5℃/min的速率，在不少于1.5h、不多于2.5h内冷却到测量温度。建议在到达基准时间之前最后10min时，冷却速率应控制在(3～5)℃/min之间。c)当磁心样环已经冷却到测量温度时，将其放进一个恒温箱中，静置24h以上，并保持到测量开始。在转移时，应注意避免在磁心样环材料中产生机械应力。在整个过程中，磁心样环应防止磁性干扰。5.4测试环境条件测试环境条件见表5。表5测试环境条件测试条件常规测试时仲裁测试时25±1相对湿度(%)20～8048～52气压(kPa)86～10686～106注：如果相对湿度不影响测试结果，可不加考虑。6检测方法6DB44/T1349—20146.1.1低磁通密度下的电磁性能低磁通密度下的电磁性能检测按表6的规定进行。表6低磁通密度下的电磁性能检测方法技术要求检测方法起始磁导率附录A的A.1.1复数磁导附录A的A.1.2相对损耗因数附录A的A.1.3磁滞常数附录A的A.1.4磁导率的温度特性附录A的A.1.5减落附录A的A.1.6居里温度附录A的A.高磁通密度下的电磁性能高磁通密度下的电磁性能检测按表7的规定进行。表7高磁通密度下的电磁性能检测方法技术要求检测方法振幅磁导率附录A的A.2.1功耗附录A的A.2.2性能因素附录A的A.磁滞回线及饱和磁通密度、剩磁、矫顽力磁滞回线及饱和磁通密度、剩磁、矫顽力的检测按表8的规定进行。表8磁滞回线及饱和磁通密度、剩磁、矫顽力检测方法技术要求检测方法磁滞回线附录A的A.3饱和磁通密度附录A的A.3剩磁附录A的A.3矫顽力附录A的A.36.2物理性能6.2.1(直流)电阻率按附录A的A.4.1的规定进行。7b)将样品置于恒温恒湿箱(温度精度为±5℃)中，按表9条件进行试验；c)试验完成后，取出样品置于常温、常湿环境中放置(24±2)h;试验时间(h)90～95b)将样品置于恒温箱(温度精度为±5℃)中，按表10条件进行试验；c)试验完成后，取出样品置于常温、常湿环境中放置(24±2)h;试验时间(h)b)将样品放置于温度循环试验箱(温度精度为±5℃)内，按表11条件及图2曲线进行试验，循环次数10次；c)试验完成后，取出样品置于常温、常湿环境中放置(24±2)h;DB44/T1349—20148表11样品温度循环测试条件阶段温度(℃)时间(min)1-25～85上升，302保温，303下降，304保温，30同一配方在相同条件下连续生产的材料为一个检验批。7.2检验分类分为逐批检验和周期检验两类。7.3.1逐批抽样检验按GB/T2828.1一次正常检查执行，AQL和检查水平按表12要求。表12逐批检验方案序号检验项目要求条款方法条款AQL检查水平1电磁性能附录A.1至A.3I2机械性能附录BI7.4.1周期抽样检验按GB/T2829执行，检验项目、样品数及合格判定数按表13要求。表13周期检验方案组别检验项目要求条款方法条款检验样品数合格判定失效数不合格判定失效数1电磁性能附录A.1至A.3012物理性能附录A.4013机械性能附录B5014环境适应性019DB44/T1349—20147.4.2周期试验的周期为一年，但在下列情况下必须进行周期试验：a)产品定型鉴定；b)停产三个月以上恢复或转厂生产时；c)当设计、工艺、材料的改变足以影响产品质量时；d)当出现重大质量事故或逐批检验结果持续出现不正常波动时；e)正常生产的产品每年进行一次周期试验，当连续三次试验合格时，允许放宽至二年一次，如又出现不合格，则应恢复一年一次；f)法定机构或主管部门提出试验要求时。(规范性附录)电磁性能和物理性能检测方法A.1低磁通密度下电磁性能参数的测量A.1.1起始磁导率A.1.1.1测试条件频率f≤10kHz;磁通密度峰值β<0.5mT,波形为正弦波；测试温度在第5.4中选定。A.1.1.2方法原理采用LCR测试仪或阻抗分析仪，测量样品的电感L,起始磁导率μ通过式(A.1)计算。A.1.1.3测试仪器采用频率范围及测试电压满足规定要求的LCR测试仪或阻抗分析仪，仪器对电感测量的准确度为士A.1.1.4测量程序A.在样品圆环上包1～2层绝缘纸(电容纸或黄蜡绸)后，在样品圆周上均匀绕制测量线圈，在绕线时，尽可能地绕紧，使样品和线圈之间的耦合系数尽可能趋于100%,在测量频率下，分布电容应尽量低，以使线圈本身引起的测量误差可以忽略。线圈匝数N应根据测量条件、测试仪的灵敏度和测量准确度而定。A.按式(A.2)计算测量线圈两端电压U:f——测试频率，Hz;B——峰值磁通密度，T;A.测量之前，按第5.3条的规定进行磁正常状态化处理。A.将测量线圈接到仪器，按电感量仪器规程，把频率f和电压U调到规定的值，测量按被测样品自感量L值，每次测量时间不得超过1min。A.测得样品的自感量L后，按式(A.1)计算从。A.1.2复数磁导率A.1.2.1样品样品按第5.1和5.2条的规定选取，如采用同轴测量法，样品尺寸应满足测量仪器所配的同轴夹具的要求。A.1.2.2测量条件测量频率应满足材料规定要求，磁通密度峰值B<0.5mT,波形应为正弦波。A.1.2.3方法原理A.绕线测量法：在样品上均匀绕上测试线圈，采用LCR测试仪或者阻抗分析仪测量样品的自感量L和含样品线圈的损耗电阻R,计算复数磁导率μ的两个分量μ和μ。......................................................μ——复数磁导率的实部；μ——复数磁导率的虚部；L—样品的自感，H;H——真空磁导率(H=4π×10⁻⁷H·m⁻¹);R——含样品线圈损耗的电阻值，Q;R.——测量线圈本身的直流电阻值，Q;网轴腔网轴腔内导体同轴腔外导体图A.1带样品的短路同轴腔A.绕线测量法的测量线圈按A.绕制，按式(A.2)计算U。测量样品自感L和R,把测得的自感L和损耗电阻R代入式(A.4)和式(A.5)中计算复数磁导率的μ、和式(A.9)中计算复数磁导率的μ和μ,或直接从仪器读出。注：样品线圈的直流电阻Rw,用直流毫欧表测量。也可用直流电阻低的导线绕制线圈以使R很小，不影响测量结果A.绘制μ~f、μ~曲线A.1.3相对损耗因数A.1.3.1样品样品按第5.1和5.2条的规定选定。A.1.3.2测量条件测量频率根据材料起始磁导率μ值，除从IEC61332:2005中表1和表2选取之外，也可根具体需要规定，峰值磁通密度B<0.25mT,波形为正弦波。A.1.3.3方法原理A.1.3.4测量仪器A.1.3.5测量程序A.1.3.6计算A.1.4磁滞常数A.1.4.1样品按第5.1和5.2条的规定选定样品。A.1.4.2测量条件当μ₁≥500时，频率f10kHz,磁通密度峰值当μ₁<500时，频率f=100kHz,磁通密度峰值B=0.3mT,B₂=1.2mT。磁通密度波形为正弦波，测试温度按第5.4条选定。A.1.4.3方法原理A.用LCR测试仪或阻抗分析仪测量B和B下材料的损耗因数，磁滞损耗因数按式(A.11)计磁滞损耗因数；A.磁滞常数按式(A.12)计算：A.1.4.4测试仪器A.测量线圈按A.绕制A.按式(A.2)计算B₁和B₂对应的外加电压U₁和U₂。在U₁下，测量样品的自感LB和损耗角正切值(tanδ)g,在U₂下，测量样品的自感L₂和损耗角正切值(tanδ)₂。A.把LB₁和LB₂的测量值代入式(A.1)式，计算(μ)₆,和(4)₂,按A.1.3.6计算损耗因数A.用式(A.11)计算材料的磁滞损耗因数，用式(A.12)计算材料的磁滞常数。A.1.5磁导率的温度特性A.1.5.1样品A.1.5.2测试条件频率f≤10kHz,磁通密度峰值β<0.25mT,波形为正弦波。温度范围：参考温度T优选25℃,试验温度T优先从下列温度中选择：A.(磁导率的)温度系数α是由于温度变化引起的磁导率相对变化除以该温度变化。a——(磁导率的)温度系数，℃⁻¹;Trer—参考温度，℃;T——试验温度，℃;Href—参考温度下的磁导率；H——试验温度下的磁导率。Lr—试验温度T下的自感量，H;...................A.(磁导率的)相对温度系数为：ap——(磁导率的)相对温度系数，℃⁻¹;N—样品测试线圈匝数。A.1.5.4仪器与设备电感测量仪按A.1.1.3。控温箱：控温箱中，样品放置的任何区域都能保持规定的温度偏差为±1℃,温度随时间的变化不得超过±0.3℃,控温箱温度应能这样控制，使样品不致受到任何超过±0.3℃的温度波动和过冲。A.1.5.5测试程序A.绕上测试线圈的样品，接到LCR表或阻抗分析仪，放入控温箱中。A.Tre和T温度下的自感量测量：每次测量样品自感量，应先测Treg,且温度应从低温升到高温。每隔10℃测一点，直到7温度，以确定μ~~T关系。在Treg和T温度下，保温时间应足够长(1h),使样品内外温度达到平衡时，测量样品自感量。率的温度系数α和相对温度系数aF的值。A.1.6减落A.1.6.1样品样品按第5.1和5.2条的规定选定。A.1.6.2测量条件测量频率f≤10kHz,磁通密度峰值B<0.25mT,波形为正弦波。测量温度25℃±1℃。A.1.6.3方法原理将样品磁正常状态化后，在其后的两个规定的时间，用电感测试仪测出样品自感量，其对应的起a)磁导率的减落系数按式(A.16)计算：式中：D——磁导率的减落系数；t₁——样品磁正常状态化后第一个时间，s;t₂——样品磁正常状态化后第二个时间，s;L₁——时间测得的样品自感值，H;L₂——时间测得的样品自感值，H;μ₂——L₂对应的起始磁导率。g)磁导率的比减落因数按式(A.17)计算：.........................DF—磁导率的比减落因数。A.1.6.4测量仪器磁正常状态化装置(仪器),按GB/T9632.1—2002中第6章中电方法要求。LCR表或阻抗分析仪按A.1.1.3要求。计时器的计时误差不得超过1%。A.1.6.5测试程序A.LCR表或阻抗分析仪、磁正常状态化装置(仪器)和绕上线圈的样品组成测试系统见图A.2。图A.2减落测量系统A.样品的测量线圈：在样品周围上包1～2层绝缘纸(电容纸或黄蜡网)后，在样品周围上绕制测量线圈，而且应均匀分布。线圈匝数N以及导线粗细应使在磁正常状态化时，样品不发热。A.样品在规定的温度下，放置足够长的时间，以使样品的内外部达到温度平衡。然后，在样品磁正常状态化后，在时间t₁和t₂读取样品的两个自感L₁和L₂,t₁和t₂可选择任意的时间，通常t₁可选取1min或10min,t₂可选取10min或100min等十进制单位。A.把在t₁和t₂测得的电感量L和L代入式(A.16)和式(A.17)计算减落系数D和减落因数DF。A.1.7.1样品及测试条件样品按第5.1和5.2条的规定选定、测试条件按A.1.1.2。A.1.7.2方法原理通过样品的自感L随温度变化的L～T曲线的最大值的80%点和20%点，作直线与无磁心线圈电感L₀线交，其交点为居里温度Tc。A.1.7.3测试仪器设备温控箱能控制的温度应高于被测材料样品的居里温度，升温速率应小于1℃/min,电感测试仪器，A.绕制测试线圈按A.,但导线的耐热温度应高于样品的居里温度。A.把绕有测试线圈的样品放入温度控制箱中，绕圈引出导线连接电感测试仪，组成测试系统。A.控温箱从室温开始，以小于1℃/min升温，作出或记录L～T线，如图A.3。A.在L～T曲线最大值下降部分，通过曲线上最大值80%和20%点作直线与空心线圈电感量L₀线相交，从交点得到被测样品的居里温度Tc。A.2高磁通密度下电磁性能参数的测量样品按第5.1和5.2条的规定选定。测量频率、峰值磁通密度以及测试温度，除按SJ/T9072.3-1997和IEC61332-2005外，也可根据实用要求规定。磁通密度波形为正弦波。电路图见图A.4。CP——电流探头(互感器);图A.4振幅磁导率测试电路..............................(A.18)N——电流绕组匝数；对于图A.4b):N=N₂=N从图A.4c)和图A.4d)计算μ如下：(A.19)Uav——绕组两端电压平均值，V;1——绕组中的峰值电流，A;A.凡适用于图A.4电路原理的测量装置及仪器均可采用。波失真应小于1%,在测量时间内，功率信号E的电压幅度A.电流探头(互感器)CP:N₁或Np绕组中的峰值电流i用CP测量。在使用频率范围，CP不应减小Î振幅和相应准确度，而且应是线性的，不会引起谐波。A.电阻器R:采用低温度系数的电阻器，其阻值误差不超过0.5%,而且在使用频率范围内，....................R——电阻值，Ω;A.据图A.4选定电路，组装测量系统。A.测量线圈：在样品周围上包1～2层绝缘纸(电容纸或黄蜡绸)后，在样品周围上均匀绕制测量线圈，在绕制时，尽可能地绕紧，以便使样品和绕圈之间、双绕组线圈之间的耦合系数尽可能趋于100%。测量线圈为双绕组时，绕组N₂外边均匀绕制励磁电流绕组N1,两绕组间最好有一层静电屏蔽。No和N,绕组导线线径的选定应使励磁电流流过时不发热。线圈匝数应根据使用仪器的灵敏度和测量准确度而定。A.根据规定的磁通密度和频率f,计算加在测量线圈两端的平均电压U=4BNA。A.测量之前，按5.3条的规定对样品进行处理，在(2±0.5)s,把励磁信号(Ua)加到样品，电流ì,测量时间应尽量短(≤10s),以免样品发热。A.测量的峰值电压U,值代入式(A.18)计算A。测得的峰值电流i,值代入式(A.19)计A.2.2功耗A.2.2.1样品及测试条件A.方法原理电路如图A.5,变压器T由被测样品和三个绕于样品上的绕组组成，N₁为电磁绕组，N₂为感应电压源，通过开关K切换(由a到b或由b到a)测量绕组N₃上的电压与电阻R上电压的电压之和U₁,以及两电压之差U₂,材料样品的总功耗P与U₁和U₂的平方差成正比。图A.5功耗测量的有效值法电路A.测量范围电磁绕组N₁,感应电压绕组N₂,测量绕组N₃均绕绕制在样品上，测量绕组N₃的匝数应使N₃上电压和电阻R上的电压同数量级，这两个电压数值越接近相等，功耗测量的准确度越高。A.测试仪器及设备功率信号源E输出阻抗应尽量低，输出电压为正弦波(有效值法对于波形失真不敏感)。测试期间，励磁振幅变化不应超过±0.2%,频率变化不应超过±0.2%。Um和Uav电压表有输入阻抗要高，其不准确度在±0.5%内。电阻R应为无抗电阻器，要求按A.。A.程序A..1按图A.5装置测量系统。开关的短路连接应尽可能贴紧开关，用低嗓音，单屏蔽，低电容电缆线把有效值电压连接到开关K。A..3测量前，按5.3条的规定对样品进行处理。在(2±0.5)s内，调节功率信号源输出，使其Uav表指示Uav值，在Um表上读取U₁值，然后开关K倒向另一位置读取U₂值，操作时间应在10s以内，以免样品发热。将读取的U₁和U₂值代入(A.22)式计算样品的功耗P。A.2.2.3乘积法A.方法原理乘积法基于功耗等于电压和电流的乘积。基本电路如图A.6所示。CP——电流探头(互感器);P=u·i=k·a...................................(A.22).................................式中：Urms——励磁线圈中两端电压的有效值；阻抗分析仪法适用于励磁波型为正弦波。P=Ums1mscosφ...........................(A.24)阻抗分析仪法适用于励磁波形为正弦波。d)模拟数学化法：图A.6中MI的模拟数字转换器将测试电压Ua(t)和Ub(t)采样转换成数字数据存储为Uai和Ubi,其中i是指采集的第i个信号样(i=1,2,3,…),采样周期内每个采样点i的瞬时功耗值，与UaiUbi成正比。如果测试周期采了n个样，则测得的功耗值P为：a——比例常数，其值取决于线路的分布。模拟数字化法适用于任意励磁波形。e)矢量谱法：用网络分析仪测试Ua和U₆信号的基波电压和谐波电压的有效值Uak和Ub,同时测量这些电压间相角Pk,此处的k是指k次谐波数(k=1,2,3,…),样品的功耗值P为：式中：a——比例常数，其值取决于线路的分布。矢量谱法适用于任意励磁波形。f)正交功率法：图A.6中的MI模拟数字转换器将测试电压Ua(t)和U₆(t)采样转换成数字信号，经FFT(快速傅立叶变换)处理，获得基波电压和谐波电压的有效值Uak和U,同时获得两个电压间相角φk,被测样品的功耗P为：a—比例常数，其值取决于线路的分布。正交频率法适用于任意励磁波形。A.仪器设备所用仪器设备应符合下列条件：a)Es励磁功率源：输出阻抗尽量低，输出电压为正弦波，测试时间内励磁电平幅度变化不大于0.2%,DB44/T1349—2014对于V-A-W表法和阻抗分析仪法，在使用频率范围内，励磁功率源输出电压总谐波失真应小于1%。b)电流探头(互感器)CP和电阻器R同A.和A.;c)测试仪表MI,在规定条件下，能满足乘积法测量功耗原理和准确度的要求。A.测量程序A..1测量线圈：按A.,200kHz以上应采用双绕组测量线圈。A..2选定测试仪器MI,组装测试系统，计算Ua值：Uα=4JNBA。A..3测量之前，按5.3条的规定对样品进行处理，在(2±0.5)s内，调节功率信号源输出，使其在MI测试仪上Uav表指示Uay值，在10s以内在MI测试仪上读取功耗值。A.2.2.4功率损耗密度计算。功率损耗密度由式(A.28)和(A.29)给出：P=P/Ve....................................(A.28)P——功率损耗(体积)密度，kw.m³;P——功率损耗(质量)密度，kW·kg;A.2.3性能因数A.2.3.1样品及测试条件A.样品按第5.1和5.2条的规定选择。A.测量的频率，材料功耗极限，除从IEC61332:2005中选取外，也可根据实际要求规定。A.2.3.2方法原理采用A.2.2测量功耗的方法，测量样品功耗随磁通密度或功耗随频率的变化曲线，在材料功耗极限A.2.3.3测量程序A.规定工作频率fn,求Bmax。在规定频率fn下，改变磁通密度B,测出对应的Pv,作出Pr-B曲200f.BT)下，改变频率f,测出对应的Pv,作出P-fPy(kw/)Pv,200Ba图A.8(规定Bn)Pv-f曲线A.测量P时，可根据使用情况选择用A.3.3.1和A.3.3.2方法。A.3磁滞回线及饱和磁通密度、剩磁、矫顽力的测量A.3.1样品样品按第5.1和5.2条的规定选择。A.3.2测试条件磁场强度(kA·m¹):1.2(μ₁>1000);3(1000≥μ>500);10(500≥μ₁>100);20(μ₁≤100)。测试温度：25℃;100℃。A.3.3方法原理剩磁Br、矫顽力Hc。基本原理电路见图A.9。G——励磁电源；L——被测样品；N₁——样品测试线圈初级绕组；N₂——样品测试线圈次级绕组；M——无电抗电阻器；C——电容器；Uc——电容C上电压；U₃——A1放大器输出电压；Ua——A1放大器输出电压；A₁——B通道高增益放大器；R——H通道增益放大器；Gx---磁滞回线及饱和磁通密度Bs、剩磁Br、矫顽力Hc的记录(显示)器。图A.9RC积分法基本原理电路图A.9中，N₂绕组的端电压为：.................................由于A₁为高增益放大器，则下列式子成立：得到样品中的磁化场：..................................................A—放大器A2的放大倍数；Ae——样环有效磁路截面积；注：本条的图和公式电压电流符号为测量状态(直流)磁带回线的符号，在测量交流磁滞回线时；应加峰值符号：“^”,例如U(Ue)转换成U。(UR),Un(Ua)转换成Uₙ(UR)等。按A.3.3选用的(直流或交流)磁滞回线测量仪，应符合材料要求的测量准确度。A.3.5.1测试线圈为双绕组绕，在样品上包1～2层绝缘纸(电容纸或黄蜡绸)后，均匀地绕上N₁和A.4.1(直流)电阻率A.4.1.1样品长方形样品圆柱形样品长1长15555通常情况下，样品中(直流)电场强度E≤0.1kV/m。测试温度按第5.4条要求。A.方法原理在样品两端做电极，采用电压电流法(见图A.9a)或电阻计法(见图A.9b)测量样品的电阻率，两种方法测量电阻率计算如下：E图A.11电阻率测量电路a)用电压表流法测量样品的电阻率按式(A.35)计算…p——样品的电阻率，Ω·m;1——样品的电极间距，m;b)用电阻计法测量样品电阻率按式(A.36)计算：p——样品的电阻率，Ω·m;1——样品的电极间距，m;R——样品的电阻值，Ω;I——测试电流，A。A.测量仪器凡适用于图A.9电路原理的直流电源，直流电压表，直流电流表，绝缘电阻计或惠斯登电桥等仪器均可采用。采用的仪器应满足材料电阻率测试条件和准确度的要求。A.测量程序按表A.1选定样品。按A.选定测量仪器，按图A.9电路组装测试装置(系统)。当采用电压电流法时，两电极加直流电压U(E≤0.1kV/m),测定直流电流I,用(A.35)式计算样品电阻率p。当采用电阻计法时，测定样品的电阻R,用(A.36)式计算样品电阻率p:在接触电阻不可忽略的场合，须改变电极间距，进行两次测量，电阻率p(Ω·m)计算如下：a)电压电流