光学计量员职业技能模拟试卷含答案

光学计量员职业技能模拟试卷含答案工种：光学计量员等级：中级时间：120分钟满分：100分---一、单项选择题（每题1分，共30分）1.光学计量中，用于测量角度的仪器是（）。A.千分尺B.万能角度尺C.游标卡尺D.比长仪2.在光学计量中，检定望远镜的仪器通常是（）。A.光波干涉仪B.测长机C.自准直仪D.立式光学计3.光波干涉仪主要用于测量（）。A.表面粗糙度B.平面度C.直线度D.角度偏差4.光学计量中，平行平面的检定通常使用（）。A.平晶B.平板C.千分尺D.测角仪5.立式光学计主要用于测量（）。A.外径B.内径C.平面度D.角度6.光学计量中，用于测量长度的仪器是（）。A.光学比较仪B.测长机C.千分尺D.万能角度尺7.光波干涉仪的原理是基于（）。A.光的衍射B.光的干涉C.光的折射D.光的散射8.光学计量中，用于测量平行平面的仪器是（）。A.平晶B.平板C.千分尺D.测角仪9.光学计量中，检定圆柱度的仪器通常是（）。A.千分尺B.测长机C.圆度仪D.立式光学计10.光学计量中，用于测量角度偏差的仪器是（）。A.万能角度尺B.自准直仪C.千分尺D.测长机11.光学计量中，检定平行平面的仪器通常是（）。A.平晶B.平板C.千分尺D.测角仪12.光学计量中，用于测量表面粗糙度的仪器是（）。A.表面粗糙度仪B.光波干涉仪C.测长机D.万能角度尺13.光学计量中，检定平面度的仪器通常是（）。A.平晶B.平板C.千分尺D.测角仪14.光学计量中，用于测量长度的仪器是（）。A.光学比较仪B.测长机C.千分尺D.万能角度尺15.光学计量中，检定角度的仪器通常是（）。A.万能角度尺B.自准直仪C.千分尺D.测长机16.光学计量中，用于测量平行平面的仪器是（）。A.平晶B.平板C.千分尺D.测角仪17.光学计量中，检定圆柱度的仪器通常是（）。A.千分尺B.测长机C.圆度仪D.立式光学计18.光学计量中，用于测量角度偏差的仪器是（）。A.万能角度尺B.自准直仪C.千分尺D.测长机19.光学计量中，检定平行平面的仪器通常是（）。A.平晶B.平板C.千分尺D.测角仪20.光学计量中，用于测量表面粗糙度的仪器是（）。A.表面粗糙度仪B.光波干涉仪C.测长机D.万能角度尺21.光学计量中，检定平面度的仪器通常是（）。A.平晶B.平板C.千分尺D.测角仪22.光学计量中，用于测量长度的仪器是（）。A.光学比较仪B.测长机C.千分尺D.万能角度尺23.光学计量中，检定角度的仪器通常是（）。A.万能角度尺B.自准直仪C.千分尺D.测长机24.光学计量中，用于测量平行平面的仪器是（）。A.平晶B.平板C.千分尺D.测角仪25.光学计量中，检定圆柱度的仪器通常是（）。A.千分尺B.测长机C.圆度仪D.立式光学计26.光学计量中，用于测量角度偏差的仪器是（）。A.万能角度尺B.自准直仪C.千分尺D.测长机27.光学计量中，检定平行平面的仪器通常是（）。A.平晶B.平板C.千分尺D.测角仪28.光学计量中，用于测量表面粗糙度的仪器是（）。A.表面粗糙度仪B.光波干涉仪C.测长机D.万能角度尺29.光学计量中，检定平面度的仪器通常是（）。A.平晶B.平板C.千分尺D.测角仪30.光学计量中，用于测量长度的仪器是（）。A.光学比较仪B.测长机C.千分尺D.万能角度尺---二、多项选择题（每题2分，共20分）1.光学计量中常用的仪器包括（）。A.千分尺B.万能角度尺C.光波干涉仪D.测长机E.自准直仪2.光学计量中，用于测量角度的仪器包括（）。A.千分尺B.万能角度尺C.自准直仪D.测长机E.立式光学计3.光学计量中，用于测量长度的仪器包括（）。A.光学比较仪B.测长机C.千分尺D.万能角度尺E.立式光学计4.光学计量中，用于测量平面度的仪器包括（）。A.平晶B.平板C.千分尺D.测角仪E.自准直仪5.光学计量中，用于测量平行平面的仪器包括（）。A.平晶B.平板C.千分尺D.测角仪E.自准直仪6.光学计量中，用于测量圆柱度的仪器包括（）。A.千分尺B.测长机C.圆度仪D.立式光学计E.自准直仪7.光学计量中，用于测量角度偏差的仪器包括（）。A.万能角度尺B.自准直仪C.千分尺D.测长机E.立式光学计8.光学计量中，用于测量表面粗糙度的仪器包括（）。A.表面粗糙度仪B.光波干涉仪C.测长机D.万能角度尺E.立式光学计9.光学计量中，常用的检定仪器包括（）。A.平晶B.平板C.千分尺D.测角仪E.自准直仪10.光学计量中，常用的测量仪器包括（）。A.千分尺B.万能角度尺C.光波干涉仪D.测长机E.自准直仪---三、判断题（每题1分，共10分）1.光学计量中，千分尺主要用于测量角度。（×）2.光学计量中，光波干涉仪的原理是基于光的干涉。（√）3.光学计量中，平晶主要用于测量平行平面。（√）4.光学计量中，测长机主要用于测量长度。（√）5.光学计量中，万能角度尺主要用于测量角度。（√）6.光学计量中，自准直仪主要用于测量角度偏差。（√）7.光学计量中，表面粗糙度仪主要用于测量表面粗糙度。（√）8.光学计量中，圆度仪主要用于测量圆柱度。（√）9.光学计量中，立式光学计主要用于测量外径。（√）10.光学计量中，平晶主要用于测量平面度。（√）---四、简答题（每题5分，共20分）1.简述光学计量中，光波干涉仪的原理及其应用。2.简述光学计量中，平晶的用途及其检定方法。3.简述光学计量中，测长机的用途及其操作步骤。4.简述光学计量中，自准直仪的用途及其原理。---五、计算题（每题10分，共20分）1.某光学元件的平行平面度为0.005mm，使用平晶进行检定，平晶的厚度为0.1mm，干涉条纹间距为0.02mm，求该光学元件的平行平面偏差。2.某圆柱体的圆柱度为0.01mm，使用圆度仪进行测量，圆度仪的测量范围为0-100mm，测量时分为10个等分，每个等分的测量值为0.005mm，求该圆柱体的圆柱度偏差。---答案及解析一、单项选择题1.B2.C3.B4.A5.A6.B7.B8.A9.C10.B11.A12.A13.B14.B15.A16.A17.C18.B19.A20.A21.B22.B23.A24.A25.C26.B27.A28.A29.B30.B二、多项选择题1.B,C,D,E2.B,C3.A,B,C4.A,B,D,E5.A,B,D6.C,D7.A,B8.A9.A,B,D,E10.B,C,D,E三、判断题1.×2.√3.√4.√5.√6.√7.√8.√9.√10.√四、简答题1.光波干涉仪的原理及其应用：-原理：光波干涉仪基于光的干涉原理，通过比较参考光束和测量光束的相位差，来测量光学元件的表面形貌、平行度等参数。-应用：光波干涉仪广泛应用于光学元件的检定，如平面度、平行平面度、圆柱度等的测量。2.平晶的用途及其检定方法：-用途：平晶主要用于测量光学元件的平行平面度。-检定方法：将平晶放置在待测光学元件上，通过观察干涉条纹的形状和间距，来判定光学元件的平行平面度。3.测长机的用途及其操作步骤：-用途：测长机主要用于测量长度和尺寸。-操作步骤：首先将测长机调零，然后将待测工件放置在测长机上，通过移动测头，读取测量值。4.自准直仪的用途及其原理：-用途：自准直仪主要用于测量角度偏差。-原理：自准直仪基于自准直原理，通过比较反射光束和参考光束的相位差，来测量角度偏差。五、计算题1.平行平面偏差计算：-公式：平