晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测-编制说明

国家标准《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验方法》

编制说明

一、工作简况

1、任务来源

根据《国家标准化管理委员会关于下达2023年第四批推荐性国家标准计划及相关标准外文版计

划的通知》要求，《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验方法》国家标准（计划号为

20231868-Z-339）由常熟阿特斯阳光电力科技有限公司牵头制定，全国太阳光伏能源系统标准化技术

委员会（SAC/TC90）归口管理，任务计划完成时间为2025年。

2、制定背景

光致衰减与再生恢复是光伏行业比较关注的热点。实证基地的研究结果表明，炎热气候条件下的

功率衰减问题不可忽视。此外高功率组件带来更高的组件工作温度，也会加剧LeTID的发生。此前业

界对LID问题认识不足，采用的测试温度较低，该项标准目的在于揭示组件的高温衰减风险。

目前，工业界和学术界对LeTID机理和影响的研究积累了一些实际经验。但是目前国内缺乏统一

的技术规范来指导光伏组件LeTID的测试。各组件厂商在LeTID的管理模式、技术成熟度、资源投

入等方面存在较大差异，质量管理风险不一。此外，不同原理或不同技术参数的LeTID测试方法，使

最终测试结果存在差异，形成一定技术风险。因此随着光伏行业技术的更新，测试标准及关键技术指

标均需要同步调整，这已成为行业面临的共性问题，对于促进产业结构调整，实现行业可持续发展具

有积极意义。

3、主要工作过程

2022年11月，向全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会（SAC/TC90）申请主编IECTS

63342:2022标准转化国家标准，并进行标准背景、技术内容、使用情况预研，形成草案初稿。

2022年12月，修改完善标准草案初稿及其他材料，上交由全国太阳光伏能源系统标准化技术委

员会审查。

2023年2月，标准材料通过审查，于“电子信息技术标准化服务平台”进行立项申报。

2023年3-12月，标准完成立项公示及立项答辩，完成立项流程。

2023年12月，按《国家标准化管理委员会关于下达2023年第四批推荐性国家标准计划及相关

标准外文版计划的通知》要求，《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验方法》国家标准（计

划号20231868-Z-339）计划正式下达。

1

2024年3月，在接到计划任务后，常熟阿特斯阳光电力科技有限公司积极组织内部技术力量组

成标准编制组。于2024年3月在内部召开了沟通会，确定了内部编制组成员及分工。

2024年4月8日，为保证标准制修订项目按时、高质量完成，加强过程管理，经研究，由秘书

处统一组织在北京召开《光伏组件安全鉴定第2部分：测试要求》等38项国家标准启动会暨标准化

知识培训会。

2024年6月28日，由牵头单位召开标准技术研讨会，就标准正文、技术内容进行讨论，根据与

会专的建议修改形成标准草案。

2024年7月31日，由秘书处组织召开国家标准《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验

检测》起草会，根据与会专家的意见和建议进行相应的修改，产出标准征求意见稿。

2024年8月，标准进入征求意见阶段。

二、标准编制原则、主要内容及确定依据

1、编制原则

本标准以科学性、合理性和可行性为原则。

本标准由IECTS63342:2022C-Siphotovoltaic(PV)modules-Lightandelevatedtemperatureinduced

degradation(LETID)test-Detection等同转化编制。

本标准格式依据GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》与

GB/T1.2-2020《标准化工作导则第2部分：以ISO、IEC标准化文件为基础的标准化文件起草规则》

的规则编写。

2、主要内容

本文件规定了地面用晶体硅光伏组件热辅助光致衰减测试，包括术语和定义、仪器装置、样品、

测试步骤、结果处理和报告等内容。本文件适用于地面用晶体硅光伏组件热辅助光致衰减测试方法。

主要技术内容：组件完成硼氧预处理后，将组件置于75℃的环境试验箱中，并用直流电源通以

弱电流，待组件进入复原阶段可停止电注入。检查外观、测试IV性能、EL，并分析LETID功率损失。

3、编制过程中解决的主要问题

英文翻译为中文后表达的连续、专业、清晰性。

4、修订前后技术内容对比

本标准转化自2022年发布的IECTS63342:2022C-Siphotovoltaic(PV)modules-Lightandelevated

temperatureinduceddegradation(LETID)test-Detection，初次编制，非修订。

三、试验验证情况及预期的效益

1、试验验证情况

2

为了验证该标准的科学性，有A和B两家单位提供了试验验证数据，试验样品PERC铝边框组

件和TopCON铝边框组件，每家共6块样品进行测试。试验结果如下：

A单位试验结果：

PERC铝边框组件测试结果如下：

功率衰功率衰功率衰减%

样品1样品2控制件3

减%减%

初始662.68-663.57-662.67-

B-O预处理661.710.15662.230.20--

Letid162h659.820.29661.880.05--

Letid162h*2659.140.10659.710.33661.930.11

样品1和样品2组件EL测试图如下:

样品1

B-O预处理LeTID162h*2

样品衰减较小，与EL图匹配，基本无变化。

样品2

B-O预处理LeTID162h*2

样品衰减较小，与EL图匹配，基本无变化。

3

TOPCON铝边框组件测试结果如下：

功率衰功率衰功率衰减%

样品4样品5控制件6

减%减%

初始699.74-699.79-698.06-

B-O预处理698.950.11699.330.07--

Letid162h698.510.18699.050.11--

Letid162h*2698.110.06698.820.03697.850.03

样品4与样品5组件EL测试图如下:

样品4

B-O预处理LeTID162h*2

样品衰减较小，与EL图匹配，基本无变化。

样品5

B-O预处理LeTID162h*2

样品衰减较小，与EL图匹配，基本无变化。

4

B单位试验结果：

PERC铝边框组件测试结果如下：

功率衰功率衰功率衰减%

样品1样品2控制件3

减%减%

初始577.31-575.18-574.59-

B-O预处理575.490.32573.140.35--

Letid162h574.940.41573.030.37--

Letid162h*2572.680.80570.650.79573.650.16

样品1和样品2组件EL测试图如下:

样品1

B-O预处理LeTID162h*2

样品衰减较小，与EL图匹配，基本无变化。

样品2

B-O预处理LeTID162h*2

样品衰减较小，与EL图匹配，基本无变化。

5

TOPCON铝边框组件测试结果如下：

功率衰功率衰功率衰减%

样品4样品5控制件6

减%减%

625.52623.64624.85-

初始--

B-O预处理625.160.06622.330.21-

Letid162h624.120.22622.150.23--

Letid162h*2622.070.55621.370.36624.140.11

样品4与样品5组件EL测试图如下:

样品4

B-O预处理LeTID162h*2

样品衰减较小，与EL图匹配，基本无变化。

样品5

B-O预处理LeTID162h*2

样品衰减较小，与EL图匹配，基本无变化。

6

2、预期的效益

LETID(热辅助光致衰减)是晶体硅电池在较高温度和光照条件下面临的一种衰减模式，在P型单

多晶电池和N型电池中都会发生，这些技术近年来是行业主导技术。据统计，PERC电池现在占据了

全球市场的40%以上，预计其市场份额还将大幅增长。本标准的制订有助于快速判断晶体硅光伏组件

的LETID风险，评估抗LETID工艺措施的有效性，并最终提升光伏组件的户外发电能力。

我国光伏产业全面平价时代日益临近，留给光伏的收益空间已经很窄。对于光伏电站投资者和所

有者来说，需要一种能被承认的测试结果来规避LETID衰减风险，以降低投资收益损失的风险。对

LETID衰减率的理性分析，对于精确的电站发电性能建模、项目价值评估和可行性分析至关重要。

四、与国际国外同类标准对比情况

表1列举了国外关于热辅助光致衰减测试的相关标准。IECTS63342:2022规定了晶体硅光伏组件

LeTID的测试方法，IECTS63202-4及SEMIPV93规定了晶体硅光伏电池LeTID的测试方法。国内目前

有发布团体标准T/CPIA0041-2022晶体硅光伏电池热辅助光致衰减测试方法。

表1热辅助光致衰减测试相关标准

序号标准号标准名称标准适用范围

C-Siphotovoltaic(PV)modules–Lightand

IECTS晶体硅光伏组

1elevatedtemperatureinduceddegradation(LeTID)

63342:2022件

test–Detection

IECTSPhotovoltaiccells–Part4:Measurementoflight晶体硅光伏电

263202-4:20andelevatedtemperatureinduceddegradationof

池

22crystallinesiliconphotovoltaiccells

TestMethodforAcceleratedCellLevelTestingfor晶体硅光伏电

3SEMIPV93LightAndElevatedTemperatureInduced

池

Degradation(LeTID)SusceptibilityofSolarCells

晶体硅光伏组

4T/CPIA晶体硅光伏电池热辅助光致衰减测试方法

0041-2022件

五、采用国际国外标准情况

本标准等同采用IECTS63342:2022C-Siphotovoltaic(PV)modules-Lightandelevatedtemperature

induceddegradation(LETID)test-Detection

六、与有关法律、行政法规及相关标准的协调性

本标准符合国家有关法律、法规的要求，与现行国家强制性标准协调一致。

七、重大分歧意见的处理经过和依据

无

八、涉及专利的有关说明

本标准未涉及任何专利。

7

九、实施国家标准的要求及措施

本标准建议作为推荐性国家标准实施。

十、其它应予说明的事项

无

《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验方法》标准编制组

2024年07月31日

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国家标准《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验方法》

编制说明

一、工作简况

1、任务来源

根据《国家标准化管理委员会关于下达2023年第四批推荐性国家标准计划及相关标准外文版计

划的通知》要求，《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验方法》国家标准（计划号为

20231868-Z-339）由常熟阿特斯阳光电力科技有限公司牵头制定，全国太阳光伏能源系统标准化技术

委员会（SAC/TC90）归口管理，任务计划完成时间为2025年。

2、制定背景

光致衰减与再生恢复是光伏行业比较关注的热点。实证基地的研究结果表明，炎热气候条件下的

功率衰减问题不可忽视。此外高功率组件带来更高的组件工作温度，也会加剧LeTID的发生。此前业

界对LID问题认识不足，采用的测试温度较低，该项标准目的在于揭示组件的高温衰减风险。

目前，工业界和学术界对LeTID机理和影响的研究积累了一些实际经验。但是目前国内缺乏统一

的技术规范来指导光伏组件LeTID的测试。各组件厂商在LeTID的管理模式、技术成熟度、资源投

入等方面存在较大差异，质量管理风险不一。此外，不同原理或不同技术参数的LeTID测试方法，使

最终测试结果存在差异，形成一定技术风险。因此随着光伏行业技术的更新，测试标准及关键技术指

标均需要同步调整，这已成为行业面临的共性问题，对于促进产业结构调整，实现行业可持续发展具

有积极意义。

3、主要工作过程

2022年11月，向全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会（SAC/TC90）申请主编IECTS

63342:2022标准转化国家标准，并进行标准背景、技术内容、使用情况预研，形成草案初稿。

2022年12月，修改完善标准草案初稿及其他材料，上交由全国太阳光伏能源系统标准化技术委

员会审查。

2023年2月，标准材料通过审查，于“电子信息技术标准化服务平台”进行立项申报。

2023年3-12月，标准完成立项公示及立项答辩，完成立项流程。

2023年12月，按《国家标准化管理委员会关于下达2023年第四批推荐性国家标准计划及相关

标准外文版计划的通知》要求，《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验方法》国家标准（计

划号20231868-Z-339）计划正式下达。

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2024年3月，在接到计划任务后，常熟阿特斯阳光电力科技有限公司积极组织内部技术力量组

成标准编制组。于2024年3月在内部召开了沟通会，确定了内部编制组成员及分工。

2024年4月8日，为保证标准制修订项目按时、高质量完成，加强过程管理，经研究，由秘书

处统一组织在北京召开《光伏组件安全鉴定第2部分：测试要求》等38项国家标准启动会暨标准化

知识培训会。

2024年6月28日，由牵头单位召开标准技术研讨会，就标准正文、技术内容进行讨论，根据与

会专的建议修改形成标准草案。

2024年7月31日，由秘书处组织召开国家标准《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验

检测》起草会，根据与会专家的意见和建议进行相应的修改，产出标准征求意见稿。

2024年8月，标准进入征求意见阶段。

二、标准编制原则、主要内容及确定依据

1、编制原则

本标准以科学性、合理性和可行性为原则。

本标准由IECTS63342:2022C-Siphotovoltaic(PV)modules-Lightandelevatedtemperatureinduced

degradation(LETID)test-Detection等同转化编制。

本标准格式依据GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》与

GB/T1.2-2020《标准化工作导则第2部分：以ISO、IEC标准化文件为基础的标准化文件起草规则》

的规则编写。

2、主要内容

本文件规定了地面用晶体硅光伏组件热辅助光致衰减测试，包括术语和定义、仪器装置、样品、

测试步骤、结果处理和报告等内容。本文件适用于地面用晶体硅光伏组件热辅助光致衰减测试方法。

主要技术内容：组件完成硼氧预处理后，将组件置于75℃的环境试验箱中，并用直流电源通以

弱电流，待组件进入复原阶段可停止电注入。检查外观、测试IV性能、EL，并分析LETID功率损失。

3、编制过程中解决的主要问题

英文翻译为中文后表达的连续、专业、清晰性。

4、修订前后技术内容对比

本标准转化自