JIS C 61300-3-27-2012 光纤连接器和无源组件.基础试验和测量规程.第3-27部分-多路连接器插头的孔位测量方法

C61300-3-27:2012(IEC61300-3-27:1997)序文 11適用範囲及び概要 11.1適用範囲 1 12兒装置 2 24個別規格に規定する事項 5C61300-3-27:2012(IEC61300-3-27:1997)この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調查会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実用新案権に関わる確認について,責任はもたない。JISC61300の规格群には,次に示す部舢成がある。JISC61300-1第1部:通則JISC61300-2-2第2-2部:繰返しかん合試験JISC61300-2-12第2-12部：落下街紧試验JISC61300-2-14第2-14部:光パワ一損傷のしきい値試験JISC61300-2-15第2-15部:黏合部ねじり試験JISC61300-2-17第2-17部:低温試験JISC61300-2-18第2-18部:高温試験JISC61300-2-19第2-19部:高温高湿試験(定常状態)JISC61300-2-22第2-22部:温度サイクル試験JISC61300-2-45第2-45部:浸水試験JISC61300-2-46第2-46部:湿熱サイクル試験JISC61300-2-47第2-47部:熱衝撃試験JISC61300-2-48第2-48部:温湿度サイクル試験JISC61300-3-2第3-2部:シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性JISC61300-3-3第3-3部:插人損失及び反射減衰量変化のモ二タ方法JISC61300-3-4第3-4部:損失測定JISC61300-3-6第3-6部:反射減衰量測定JISC61300-3-15第3-15部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定JISC61300-3-16第3-16部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定JISC61300-3-26第3-26部:光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定JISC61300-3-28第3-28部:過渡損失測定JISC61300-3-30第3-30部:多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置測定JISC61300-3-31第3-31部:光ファイバ光源の結合パワー比測定JISC61300-3-36第3-36部:光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定日本工業規格JISC61300-3-27:2012(IEC61300-3-27:1997)基本試験及び測定手順一第3-27部:andmeasurementprocedures—Part3-27:Measurementmethodfortheholelocationofamultiwayconnectorplug序文この規格は,1997年に第1版として発行されたIEC61300-3-27を基に,技術的内容及び構成を変更するなお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。IEC61300-3-27:1997,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-27:Examinationsandmeasurements—Measurementmethodfortheholelocationofamultiwayconnectorplug(IDT)なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“一致している”こにあるプラグ端面中心から規定の距離だけ離れた位置の点として規定する(図1参照)。プラグ端面の次の寸法は,コネクタの機械的及び光学的性能を満たすために正確に測定しなければなら2C61300-3-27:2012(IEC61300-3-27:1997)これらの寸法は,画像処理技術を用いた非接触測定機器によって測定する。&図1一距離(L)及び位置ずれ(P)の定義次の装ǔで構成する。a)CCD力メラ付き頭微鏡(CCD)b)画像処理装置(I)d)拡散照明が可能な光源(LAMP)f)可動台駆動装置(SD)穴位置の計算は,次の方法によって,それぞれの穴位置測定ごとに行っても,全ての穴位置測定の最3C61300-3-27:2012(IEC61300-3-27:1997)MlCCD測長器(DM)SDSD光源(LAMP)光源(LAMP)CPU(CPU)CPU図2ーコネクタ穴位置の測定装置例3.2通電後,測定装置の温度が安定するまで十分な時間をとる。3.3可動台(S)の上にプラグのガイドピン穴の中心軸が可動台のX-Y面に対して垂直になるようにプ3.4ガイドピン穴及び光ファイバ插入穴を照明する。3.5測長器(DM)を使ってステージの原点を決めて記録する。画像処理装置(I)を使ってモニタ画面上の(X,Y)マーカを表示する。可動台を動かしたとき,モニタ画面上の(X,Y)座標は可動台の移動によ3.6測定対象のガイドピン穴がモニタ画面上で観測できるように可動台を移動する。3.7一方のガイドピン穴画像の円周上の3点以上の(X,Y)位置を記録する。円周上の測定点に対して計4YO>XL(Xi.%)(Xp,Y2)(XYai)YX(Xp.Y)/L(XY)\(XY)図4一光ファイバ揮入穴中心の基準位置の決定3.11モ二タ上で測定対象の光ファイバ捕入穴の像を観測できるように可動台を移動する。3.12それぞれの光ファイバ插入穴画像の円周上の3点以上の座標(X,Y)を記録する。円周上の測定点にC61300-3-27:2012(IEC61300-3-27:1997)((XY