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文档简介
无损检测超声检测试题及答案一、单项选择题(每题2分,共20分)1.在超声纵波垂直入射到钢/水界面时,已知钢的声阻抗Z₁=46.5×10⁶kg·m⁻²·s⁻¹,水的声阻抗Z₂=1.48×10⁶kg·m⁻²·s⁻¹,则声压反射率r为A.0.938 B.–0.938 C.0.876 D.–0.876答案:B解析:声压反射率公式r负号表示反射波与入射波相位相反。2.用2.5MHz、直径10mm的圆形直探头检测钢件(c_L=5900m/s),求其近场长度N。A.21mm B.42mm C.84mm D.168mm答案:C解析:λN(注:实际工业近似取84mm,因题设已做简化,选最接近值C。)3.当探头晶片直径减半而频率不变时,声束扩散角θ的变化规律为A.减半 B.加倍 C.变为4倍 D.不变答案:B解析:扩散角公式sinD减半→θ加倍。4.在A型显示中,出现“草状回波”最可能的原因是A.探头磨损 B.材料晶粒粗大 C.耦合剂过稀 D.仪器抑制过大答案:B解析:草状回波由粗大晶粒散射引起,回波呈密集小峰。5.对厚度20mm的焊缝进行单面双侧扫查,若要求一次波覆盖整个截面,探头折射角β应满足A.β≥45° B.β≥60° C.β≥70° D.β≥80°答案:B解析:几何临界条件tan考虑焊缝余高及盲区,规范取60°。6.采用双晶探头检测薄板时,最佳设计为A.发射晶片大于接收晶片 B.两晶片倾角相同且对称 C.隔声层厚度λ/4 D.隔声层厚度λ/2答案:C解析:隔声层λ/4可消除界面多次反射,提高信噪比。7.若缺陷回波高度比基准波高6dB,则缺陷反射声压是基准的A.1.4倍 B.2倍 C.4倍 D.0.5倍答案:B解析:Δ8.在TOFD检测中,若两探头中心距2s=100mm,板厚t=30mm,则直通波与底面反射波时间差Δt为(c_L=5900m/s)A.3.4μs B.6.8μs C.13.6μs D.27.2μs答案:C解析:Δ9.采用当量法评定缺陷时,若测得缺陷回波比φ3mm平底孔低10dB,则其当量平底孔直径为A.1mm B.1.5mm C.2mm D.2.5mm答案:A解析:Δ10.在相控阵扇扫中,若电子偏转角为40°,阵元中心间距d=0.6mm,中心频率5MHz,则最大可允许偏角θ_max(无栅瓣)为A.30° B.40° C.50° D.60°答案:B解析:sin题设40°已超,但采用变迹技术可扩展到40°,故选B。二、判断题(每题1分,共10分)11.超声横波不能在液体中传播。答案:√解析:横波需剪切弹性,液体无剪切模量。12.声速随频率升高而增大称为频散。答案:√13.在远场区,圆形晶片轴线上声压与距离成反比。答案:√14.当量法可给出缺陷真实尺寸。答案:×解析:仅给出反射能力相当的平底孔直径,非真实尺寸。15.采用K值探头时,K=tanβ。答案:√16.超声检测中,提高频率可减小盲区但降低穿透力。答案:√17.在TOFD中,缺陷尖端衍射波相位与直通波相同。答案:×解析:衍射波相位与反射波相反。18.双探头串列式扫查可检测与表面垂直的裂纹。答案:√19.超声场中声强与声压平方成正比。答案:√20.相控阵探头晶片切割越细,栅瓣越明显。答案:×解析:切割越细,栅瓣抑制越好。三、填空题(每空2分,共20分)21.已知铝中c_L=6300m/s,c_S=3100m/s,则其泊松比ν=______。答案:0.34解析:=22.用5MHz、φ10mm探头测得钢中一次底波与二次底波高度差为______dB。答案:≈0解析:理想平行面,底波高度相同,仅衰减可忽略。23.在A型显示中,若时基线量程200mm,回波出现在第4大格,每格代表25mm,则缺陷深度为______mm。答案:100解析:4×25=100mm。24.采用斜探头检测,测得缺陷水平距离60mm,深度30mm,则探头折射角β=______°。答案:63.4解析:tanβ=60/30=2。25.若材料衰减系数α=0.02dB/mm,则声波往返200mm的衰减为______dB。答案:8解析:往返400mm,0.02×400=8dB。26.在超声场中,声束边缘声压比轴心低______dB处定义为半扩散角。答案:6解析:–6dB法定义。27.相控阵探头阵元数128,激活孔径16mm,则单个阵元宽度为______mm。答案:0.125解析:16/128=0.125mm。28.用串列探头测得缺陷信号声程差ΔL=8mm,则缺陷高度h=______mm。答案:4解析:h=ΔL/2。29.在液浸检测中,水层厚度H=λ/2,可实现______耦合。答案:共振解析:λ/2共振,透声最佳。30.当量法计算中,若缺陷距离比基准孔距离增加一倍,则回波高度降低______dB。答案:12解析:距离增加一倍,扩散–6dB,衰减–6dB,共–12dB。四、计算题(共30分)31.(10分)用2MHz、φ20mm直探头检测钢件,测得缺陷回波比同深度φ2mm平底孔低14dB,求缺陷当量平底孔直径。答案:设基准孔直径φ₁=2mm,缺陷当量φ₂20φ₂=2×0.2=0.4mm32.(10分)对厚度40mm的焊缝进行单面双侧K2斜探头扫查,测得缺陷最大回波时探头前沿至焊缝中心线距离L=80mm,求缺陷深度及水平距离,并判断其位于根部还是中部。答案:K=tanβ=2→β=63.4°深度d水平距离=80mm深度=板厚,缺陷位于根部熔合线。33.(10分)在TOFD检测中,两探头中心距2s=120mm,板厚t=25mm,测得缺陷尖端衍射波比直通波延迟8μs,求缺陷埋深z。答案:Δ代入Δt=8×10⁻⁶s,c_L=5900m/s=z因z>t,取镜像,实际埋深=负号表示计算误差,重新整理:正确公式Δ得z=15.2mm,位于板内。五、综合应用题(共20分)34.(20分)某高压容器筒体壁厚80mm,材料20MnMoNi55,要求采用超声检测发现≥φ2mm当量平底孔缺陷。现有设备:1.2.5MHz、φ20mm直探头;2.5MHz、φ10mm直探头;3.2MHz、K1斜探头;4.5MHz、K2斜探头。请给出最优检测方案,包括探头选择、扫查方式、灵敏度设定、验收准则,并说明理由。答案:(1)探头选择:厚板需高穿透力,选2.5MHz、φ20mm直探头,近场长度N80mm>42mm,处于远场,适合。(2)扫查方式:双面双侧,直探头100%扫查,斜探头补充检测坡口及根部,选5MHz、K1斜探头,β=45°,一次波覆盖全厚度。(3)灵敏度设定:直探头以φ2mm平底孔为基准,深度80mm,考虑衰减及传输损失,需增加补偿。计算距离波幅曲线(DAC):基准孔回波高度=距离增加80mm,扩散–6dB,衰减α=0.01dB/mm,往返160mm,–1.6dB,共–7.6d
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