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文档简介
本发明公开了激光测距机原位校准方法及的配合实现原位校准系统与被测激光测距机光2校准主机,用于接收待测激光测距机的入射脉冲激光后进行光轴所述校准主机还用于基于光轴多级对准后的入射脉冲激光原位校准待测激光测距机激光参数测量模块,用于实现入射脉冲激光的光轴多级对准和测量反射镜接收回波模块的反射脉冲激光,和第四分束片分出来自激光参数测量模块的入射脉冲激光在聚焦透镜上聚焦后进入APD探测器进行测激光发射组件发出的回波激光脉冲依次经过电控光纤衰减器、反射式3.一种激光测距机原位校准方法,其特征步骤3,通过第一可见光成像组件和第二可见光成像组件对待测激光测距机的发射窗3窗口的几何中心分别与第一可见光成像组件和第二可见光成再进一步调整校准主机的姿态,使入射激光脉冲射入近红外CCD成像组件并使入射激重合;4.根据权利要求3所述的一种激光测距机原位校准方法,其步骤a2,激光参数测量模块接收到待测激光测距机的计算出测距脉冲功率与回波激光器输出的峰值功率Pl之间的衰步骤a4,待测激光测距机发射测距脉冲,经激光参数测步骤a5,若待测激光测距机没有达到临界稳定测距,步骤b2,待测激光测距机发射测距脉冲,经激光参数测步骤c2,待测激光测距机发射测距脉冲,经激光参数测4[0003]现有的检测校准设备大都是在实验室内对激光测距系统[0008]所述校准主机还用于基于光轴多级对准后的入射脉冲激光原位校准待测激光测主机模拟测距激光在空气中传输的时间及目标反射的回波功率以校准激光测距机的最大5[0017]入射脉冲激光从激光接收窗口进入激光参数测量模块后,依次经过第一分束片、机的发射光轴进一步对准(第二级对准);近红外C[0022]进入延时模块的入射脉冲激光在聚焦透镜上聚焦后进入APD探测器进行测量,延[0023]聚焦透镜将激光参数测量模块分束出的激光聚焦到APD探测器的焦平面上,再由APD探测器将光信号转化为延时电路启动的触发脉冲信号,延时电路按照上位机设定的模[0026]激光发射组件由1064nm光纤激光器、1540nm光纤激光器、1570nm光纤激光器、6入近红外CCD成像组件成像,记录此时脉冲激光光斑的质心在近红外CCD靶面上的坐标点[0032]步骤3,通过第一可见光成像组件和第二可见光成像组件对待测激光测距机的发计算出测距脉冲功率与回波激光器输出的峰值功率Pl之间的衰减倍率M2;78[0063]所述校准主机还用于基于光轴多级对准后的入射脉冲激光原位校准待测激光测[0071]入射脉冲激光从激光接收窗口进入激光参数测量模块后,依次经过第一分束片、[0074]进入延时模块的入射脉冲激光在聚焦透镜上聚焦后进入APD探测器进行测量,延9入近红外CCD成像组件成像,记录此时脉冲激光光斑的质心在近红外CCD靶面上的坐标点[0082]步骤3,通过第一可见光成像组件和第二可见光成像组件对待测激光测距机的发[0084]再进一步调整校准主机的姿态,使入射激光脉冲射入近红外CCD成像组件并使入透过率,L1和Lmax分别为原位校准系统中的原位校准仪的工作距离和激光测距机的最大测1表示最大测程测试时的大气衰减系数,对1.06um计算出测距脉冲功率与回波激光器输出的峰值功率Pl之间的衰减倍率M2;[0106]计算出被测激光测距机的理论消光比S,再与系统实测出待测激光测距机的消光
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