标准解读

《GB/T 47182-2026 微束分析 分析电子显微术 核壳颗粒壳壁厚度的测量方法》是一项国家标准,旨在为使用分析电子显微镜技术测定核壳结构纳米颗粒外壳层厚度提供标准化指导。该标准详细规定了从样品准备到数据分析的一系列步骤,确保不同实验室之间可以获得一致性和可比性的结果。

首先,在样品制备方面,标准建议采用适当的方法将核壳颗粒分散在基底上或嵌入树脂中,以利于后续的观测与分析。为了获得清晰的图像,还可能需要对样品进行适当的表面处理,比如镀膜处理等。

接下来是图像采集过程,这一步骤强调了选择合适的加速电压、放大倍数以及探测器类型的重要性,这些参数的选择直接影响到最终成像质量和数据准确性。此外,标准也指出了如何通过调整工作距离来优化图像质量。

对于实际测量环节,《GB/T 47182-2026》推荐了几种不同的测量技术,包括但不限于直接测量法(基于高分辨率TEM图像)、间接计算法(利用衍射花样信息)等。每种方法都有其适用范围及优缺点,在具体应用时需根据实际情况灵活选择。

最后,在数据处理部分,标准提供了关于如何从原始图像中提取有效信息并转化为壳壁厚度值的具体指南。这包括了如何识别核心与壳层边界、如何选取代表性区域进行统计分析等内容。同时,还强调了误差分析和不确定度评估在整个实验过程中的重要性,以保证所得到的结果具有较高的可靠性和再现性。


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....

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  • 即将实施
  • 暂未开始实施
  • 2026-02-27 颁布
  • 2026-09-01 实施
©正版授权
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GB/T 47182-2026微束分析分析电子显微术核壳颗粒壳壁厚度的测量方法_第4页
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文档简介

ICS7104050

CCSG.50.H30

;

中华人民共和国国家标准

GB/T47182—2026

微束分析分析电子显微术

核壳颗粒壳壁厚度的测量方法

Microbeamanalysis—Analyticalelectronmicroscopy—

Methodfordeterminingshellthicknessofparticleswithcore-shellstructure

2026-02-27发布2026-09-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T47182—2026

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

缩略语

4……………………2

试样的制备

5………………2

制备方法

5.1……………2

试样的要求

5.2…………………………2

仪器设备

6…………………2

设备要求

6.1……………2

设备校准

6.2……………3

壳层厚度的测量

7…………………………3

数字像的获取

7.1………………………3

的设置

7.2ROI…………………………4

均值强度曲线的获取

7.3………………4

测量位置的确定

7.4……………………7

壳层厚度的表达方式

7.5………………8

不确定度

8…………………9

附录资料性纳米核壳颗粒壳壁厚度测量示例

A()……………………10

概述

A.1………………10

中空核壳颗粒壁厚测量

A.2…………10

非球体中空核壳颗粒壁厚测量示例

A.3……………14

附录资料性元素面分布图测量壳层厚度示例

B()……………………19

概述

B.1…………………19

元素面分布图测量壳层

B.2……………19

参考文献

……………………24

GB/T47182—2026

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC38)。

本文件起草单位北京科技大学国标北京检验认证有限公司包头稀土研究院北京化工大学

:、()、、。

本文件主要起草人权茂华柳得橹贾荣光任旭东洪崧马通达

:、、、、、。

GB/T47182—2026

引言

核壳结构纳米材料是近年来兴起的新型纳米材料其独特结构整合了内外两种材料的特性相互

。,

补充赋予材料新性能目前多层级核壳材料不断涌现在储能催化医药电池气体存储及分离等

,。,,、、、、

领域应用广泛且经济效益显著

核壳材料壳层厚度是决定这类材料性能的关键技术指标之一为顺应我国科技发展趋势发展设

。,

计合理性能优良的微纳米级核壳材料亟需精准测量微纳米壳层厚度本文件旨在规范用透射电子显

、,。

微镜扫描透射电子显微镜测量微纳米级核壳颗粒壳层厚度的方法

/。

GB/T47182—2026

微束分析分析电子显微术

核壳颗粒壳壁厚度的测量方法

1范围

本文件描述了用透射电子显微镜扫描透射电子显微镜获取纳米级核壳材料水平

/(TEM/STEM)

投影图形并测量其壳层厚度的方法

(10nm~100nm)。

本文件适用于记录的微纳颗粒数字像以及配备能量色散射线谱仪或者电

TEM/STEMX(EDS)

子能量损失谱仪记录的元素面分布图测量壳层厚度适用测量颗粒核的直径范围为

(EELS)。10nm~

1μm。

本文件不适用于水平投影图形Z方向大于X方向Y方向的颗粒以及有复杂几何水平投影形状的

颗粒例如类似海胆状的纳米颗粒

,。

注主要原因是当被测量壳层厚度波动大于最小截面直径时本文件的不确定度将明显增大

:20%,。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

测量不确定度评定和表示

GB/T27418

微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

GB/T34002

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

31

.

核壳材料core-shellmaterial

由一种材料形成微纳米中空壳层或将另一种纳米材料包覆在内形

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