CN119413222A 光纤光栅传感器测试设备及测试方法 （天津市计量监督检测科学研究院）

本发明提供了一种光纤光栅传感器测试设采集处理装置，被配置为采集被测件的位移数2采集处理装置(4)，被配置为采集所述被测件(7)的位移数据，并2.根据权利要求1所述的光纤光栅传感器测试设备，其特征在于，所述采集处理装置3.根据权利要求1所述的光纤光栅传感器测试设备，其特征在于，所述采集处理装置4.根据权利要求1所述的光纤光栅传感器测试设备，其特征述第一载物台(22)和所述第二载物台(23)之间的所述被电机驱动器(243)，被配置为基于所述读数头反馈的所述实时位置数据进行调整并控驱动杆(242)，与所述第二载物台(23)螺纹连接，被构造为在所述步进电机3轴承(5)，设置于所述温箱(1)允许所述驱动杆(242)伸入所述8.根据权利要求6所述的光纤光栅传感器测试设备，9.一种根据权利要求1至8中任一项所述的光纤将被测件(7)安装于拉伸机构(2)上，调节所述拉伸机构(2)，使得所述被调节温箱(1)的温度至多个预设温度，采集多个所述预设在预设温度恒定的情况下，基于所述被测件(7)的应变测量范围，选取所述拉伸机构(2)将所述被测件(7)拉伸的多个预设位置，并采集多个所述预设位置对应的所述被测件4[0002]光纤光栅传感器是一种利用光纤中的光栅结构来感测外部物理量变化的传感波长变化，同时由于温度引起的热光效应和热膨胀作用也会导致光纤光栅反射波长的改5[0009]根据本发明的实施例，所述第一载物台和所述第二载物[0014]根据本发明的实施例，所述预设温度范[0020]图4示意性示出了根据本发明实施例的光纤光栅传感器测试设备的测试方法的流6[0025]在此使用的所有术语包括技术和科学术语具有本领域技术人员通常所理解的含相同或相近的附图标记来表示。在可能导致对本发明的理解造成混淆时，将省略常规结构或构造。[0028]光纤光栅传感器是一种利用光纤中的光栅结构来感测外7控制被测件7拉伸的精度以及被测件7的位移数据测量精度的影响。通过设置温箱1与拉伸件7的三维空间坐标的初始位移数据。在拉伸机构2移动至多个预设位置，将被测件7拉伸8[0042]在一种示例性实施例中，如图1和图3所示，采集处理装置4还包括铂电阻测温器[0044]根据本发明的实施例，在应变力恒定的情况下，调节温箱1的温度至初始预设温9图像采集装置41和处理模块采集被测件7的多个位移数据和对应的光纤光栅解调装置3采[0055]本发明的实施例还提出一种光纤光栅传感器测试设备的测试方法，包括操作[0056]图4示意性示出了根据本发明实施例的光纤光栅传感器测试设备的测试方法的流[0059]在一种示例性实施例中，预设温度范围为_3化配置。调节拉伸机构2使得被测件7处于拉紧状态。调整采集处理装置4的图像采集装置集装置41能够采集到被测件7的散斑图像，以基于散斑图像重建被测件7的三维空间坐标，围为30℃~+80℃。采集处理装置4中的铂电阻测温器42检测的被测件7的温度数据为T'T'…T',。通过光纤光栅解调装置3获取被测件在不同的温度数据中对应的波长数装置3获取被测件7对应的波长数据。基于位移数据和波长数据采用最小二[0070]根据本发明提供的光纤光栅传感器测试设备及测试方法，被测件7安装于拉伸机同时采集处理装置4采集被