CN111146247B 显示设备及其检查方法 （三星显示有限公司）

晶体管连接的第一数据线的像素和连接到与第二亮线晶体管连接的第二数据线的像素被配置2孔裂缝检测线，与所述孔区域相邻设置，所述孔裂缝检测第一检测线，包括与所述孔裂缝检测线的所述第一端连第二检测线，包括与所述孔裂缝检测线的所述第一端连测试控制器，被配置为将所述第一检测接收线电连接到所测试电压线，包括连接到所述第一检测传输线的第所述测试控制器包括连接到所述多条数据线的多个测试晶其中，所述多个测试晶体管中的第一亮线晶体管的第二电除了所述第一亮线晶体管的所述第二电极和所述第二亮线晶体管的所述第二电极之连接到与所述第一亮线晶体管连接的所述第一数据线的像素被配置为当在所述孔裂连接到与所述第二亮线晶体管连接的所述第二数据线的像素被配置为当在所述孔裂所述第一亮线和所述第二亮线设置在所述显示区域的中所述第一检测传输线连接到第一测试焊盘，第一测试电压被施加到所述第一测试焊所述第二检测传输线连接到第二测试焊盘，第二测试电压被施加到所述第二测试焊检测控制线，被配置为具有连接到第三测试焊盘的第一端和3第三检测线，包括连接到第四测试焊盘的第一端，其中所述所述显示区域的第一侧的边缘延伸并返回以连接包括在所述测试晶体管中的第三亮线晶第四检测线，被配置为具有连接到第五测试焊盘的第一端置为沿着所述显示区域的第二侧的边缘延伸并返回以连接到包括在所述测试晶体管中的第五检测线，包括连接到第六测试焊盘的第一端，其到所述可弯曲区域并返回以连接到包括在所述测试晶体管中的第五亮线晶体管的第二电第六检测线，包括连接到第七测试焊盘的第一端，其到所述可弯曲区域并返回以连接到包括在所述测试晶体管中的第六亮线晶体管的第二电所述第四测试焊盘和所述第六测试焊盘连接到所述第一测试焊盘，所述第五测试焊盘和所述第七测试焊盘连接到所述第二测试焊盘，所述第一检测传输线被配置为延伸到所述第四测试焊盘与所述第六测试焊盘之间的所述第二检测传输线被配置为延伸到所述第五测试焊盘与所述第七测试焊盘之间的连接到与所述第三亮线晶体管连接的数据线的像素、连接到与所述第六亮线晶体管连接的数据线的像素中的至少一个被配置为当测试电压被施加到所述将第一测试电压施加到第一检测线，所述第一检测线连接到孔缝检测线与设置在所述显示设备的显示区域中的孔区域相邻设置在所述显及通过第二亮线晶体管将所述第二检测线电连接到所述多条数据线中其中所述第一检测线包括连接到所述孔裂缝检测线的第一端的第一检测传输线和连4所述第二检测线包括连接到所述孔裂缝检测线的所述第一端的第二检测传输线和连通过连接到所述第一数据线的像素和连接到所述第二数据线的像素中的至少一个来在所述显示区域的中心部分处，第一亮线通过连接到所述第一数据线的所述像素发18.一种用于对显示设备进行检查的方法，所述显示设备包括多个像素和设置在显示通过包括在第一亮线和第二亮线中的多个像素来发射所述第一检测线包括连接到所述孔裂缝检测线的第一端的第一检测传输线和连接到所述第二检测线包括连接到所述孔裂缝检测线的所述第一端的第二检测传输线和连通过包括在第三亮线和第四亮线中的一条中的像素来发射光5[0002]诸如液晶显示器(LCD)或有机发光二极管显示器(OLED)的显示设备包括显示面[0004]特别地，近来研发出的柔性显示器可以在制造或使用期间被配置为弯折或弯曲测线的第一端连接的第一检测传输线和与孔裂缝检测线的第二端连接的第一检测接收线；6与设置在显示设备的显示区域中的孔区域相邻设置；将第二测试电压施加到第二检[0011]图2示出了根据本发明的示例性实施例的沿图1的线II-II'截取的显示设备的剖[0012]图3示出了用于示出根据本发明的示例性实施例的包括在图1的显示设备中的测[0014]图5A至图5C示出了根据本发明的示例性实施例的当将测试电压施加到显示设备[0016]图7示出了根据本发明的示例性实施例的沿图6的线VII-VII'截取的显示设备的[0017]图8示出了用于示出根据本发明的示例性实施例的包括在图6的显示设备中的测[0018]图9示出了根据本发明的示例性实施例的当将测试电压施加到图6的显示设备时[0019]图10示出了用于示出根据本发明的示例性实施例的在图6的显示设备中沿穿孔线7和图5A至图5C来描述根据示例性实施例[0030]像素PX中的每个像素可以包括至少一个开关元件、以及被连接于其上的像素电集成在显示面板100A中的晶体管。开关元件可以依据由栅极线121传输来的栅极信号而导基板110可以包括各种塑料，例如聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚萘二甲酸乙二醇酯通过对显示面板的基板110进行冲压来形成。孔区域HA可以在显示区域DA中提供用于对诸8[0037]第一检测传输线DT1和第一检测接收线DR1可以设置在显示区域DA的左侧和上侧处的周边区域PA中。第一检测传输线DT1和第一检测接收线DR1可以连接到孔裂缝检测线HCD。第一检测传输线DT1和第一检测接收线DR1中的每一条可以包括被配置为沿着显示区[0039]第二检测传输线DT2和第二检测接收线DR2可以沿着显示区域DA的右侧和上侧设置在周边区域PA中。第二检测传输线DT2和第二检测接收线DR2可以连接到孔裂缝检测线HCD。第二检测传输线DT2和第二检测接收线DR2中的每一条可以包括设置在周边区域PA中DR2可以沿着显示区域DA的边缘在周边区域P测传输线DT2的第二端。测试电压线TVL被配置为将第一检测传输线DT1和第二检测传输线加到第一检测传输线DT1和第二检测传输线DT2的检测电压传输到测[0041]检测控制线DCL可以包括连接到第三测试焊盘P3的第一端、以及连接到测试控制[0043]测试控制器700可以设置在显示面板100A的周边区域PA中并且被连接到多条数据700可以与诸如像素PX的晶体管的构成元件一起直接形成在基板110上。数据驱动器(未示9试控制器700可以被配置为对连接到数据线171中的第一数据线的像素PX进行控制以响应700可以被配置为对连接到数据线171中的第二数据线的像素PX进行控制以响应于经过第由与数据线171中的第一数据线相连接的像素PX发射光来显示第一亮线。可以通过由与数和图5A至图5C来描述用于对这种显示设备进行检查的方[0047]有源图案130和130d可以设置在阻挡层120上。有源图案130和130d可以包括设置设置在周边区域PA中的有源图案130d重叠的导体150d、以及上述的栅极线121(参见图1)[0049]显示区域DA的有源图案130和与这种有源图案重叠的导体155可以构成晶体管裂缝检测线HCD可以设置在稍后将描述的第四导电层或第五导[0053]第一绝缘层141、第二绝缘层142和第三绝缘层160可以包括形成在晶体管TRa和连接到晶体管TRa和TRd的源区或漏区的导体170、电压传输线177、以及上述的数据线171[0056]钝化层180可以形成在第三导电层和第三绝缘层160上。钝化层180可以包括无机孔形成于设置在周边区域PA中的电压传输[0057]像素电极层可以设置在钝化层180上。像素电极层可以包括与显示区域DA中的每电极197可以通过钝化层180的接触孔被物理地和电气地连接到电压传输线177以接收公共[0058]像素限定层350可以设置在钝化层180和像素电极层上。像素限定层350可以具有的开口351内的部分。发射层370还可以包括设置在周边区域PA中并且设置在像素限定层上并且被连续地形成在像素PX上方。公共电极270可以被物理地和电气地连接到周边区域极191或公共电极270可以用作阳极而另一383中的至少一个以及至少一个有机层382可以交替堆叠。有机层382可以包括有机材料并[0065]无机层381和383的平面区域可以比有机层382的平面区域更宽，这允许两个无机[0066]包括在封装部分380中的有机层382的边缘可以设置在坝部350d与显示区域DA之一触摸绝缘层391可以设置在第四导电层上。第五导电层可以设置在第一触摸绝缘层391外部对象时对诸如触摸的存在或触摸的位置的触摸信相对应的多个测试晶体管T1至Tm。测试晶体管T1至Tm中的每一个可以分别连接到数据线[0071]测试晶体管T1至Tm的每个栅电极可以连接到检测控制线DCL。测试晶体管T1至Tm(k-1)的第二电极可以连接到第一检测接收线DR1，第(k+1)个测试晶体管T(k+1)的第二电极可以连接到第二检测接收线DR2，并且其他测试晶体管的第二电极连接到测试电压线T(k-1)和T(k+1))设置在数据线DL1至DLm之中显示区域DA的大致中心数据线与连接到第二亮线晶体管的第二测试数据线之间的间隔可以被配置为使得第一亮[0075]在下文中，将参考图4和图5A至图5C以及图1和图3来描述根据本发明的示例性实测试电压P1(V)和第二测试电压P2(V)可以具有相同的电压电平。第三测试电压P3(V)可以是与第一测试电压P1(V)和第二测试电压P2(V[0077]施加到第三测试焊盘P3的第三测试电压P3(V)可以通过检测控制线DCL被施加到管T1至Tm可以通过栅极导通电压的第三测试电[0078]在测试时段t1-t2期间，栅极驱动器可以将栅极导通电压的栅极信号施加到栅极Tm传输到数据线DL1到DLm的高电平电压的第一测试电压P1(V)和第二测试电压P2(V)可以[0080]例如，施加到第一测试焊盘P1的高电平电压的第一测试电压P1(V)可以通过第一检测传输线DT1、孔裂缝检测线HCD和第一检测接收线DR1被施加到第一亮线晶体管的第二第一测试电压P1(V)的低电平电压施加到第一测试数据线。高电平电压的第一测试电压P15B所示，包括连接到第一测试数据线的像素PX的像素阵列PC(k-1)可以在视觉上被识别为[0081]例如，施加到第二测试焊盘P2的高电平电压的第二测试电压P2(V)通过第二检测并且通过第二亮线晶体管被传输到第二测试数据线。当在第二检测线M2和孔裂缝检测线示，包括连接到第二测试数据线的像素PX的像素阵列PC(k+1)可以在视觉上被识别为第二表明在第二检测线M2或孔裂缝检测线HCD中没有发生裂缝。显示器上的第一亮线的出现表明在第一检测线M1或孔裂缝检测线HCD中没有发生裂缝。第二亮线的出现可以被确定为第[0085]在下文中，将参考图6至图8来描述根据本发明的另一示并且将参考图9来描述根据本发明的另一示例性实施例的显示设备的检查方法。将主要描沿图6的线VII-VII'截取的显示设备的剖视图。图8示出了用于示出包括在图6的显示设备显示的测试结果的示例。图10示出了用于示出沿图6的显示设备中的穿孔线CL切割的显示[0087]参考图6中所示的显示面板100B的示例性实施例，周边区域PA可以包括被配置为弯曲的区域。尽管可弯曲区域BA在图6所示的示例性实施例中被示出为设置在周边区域PA三检测线M3可以被配置为从周边区域PA内的第四测试焊盘P4起在第二方向D2上沿着显示四检测线M4可以被配置为从周边区域PA内的第五测试焊盘P5起在第二方向D2上沿着显示可以被设置为比第二检测线M2更靠近基板试控制器700'。第六检测线M6可以从第七测试焊盘P7延伸到基板110的右边缘处的可弯曲焊盘P7可以沿着周边区域PA中的基板110的下边缘在第一方一部分。图10示出了在示例性实施例中沿着穿孔线CL切割之后的基板110的周边区域PA的[0094]在示例性实施例中，第一测试焊盘P1和第二测试焊盘P2可以设置在基板110的周第二测试焊盘P2可以设置在比穿孔线CL更靠近基板110的下边缘焊盘P1的第一检测传输线DT1可以从第一测试焊盘P1朝向第四测试焊盘P4与第六测试焊盘到第二测试焊盘P2的第二检测传输线DT2可以从第二测试焊盘P2朝向第五测试焊盘P5与第[0097]另外，由于第一测试焊盘P1和第二测试焊盘P2在显示设备的测试工艺之后被移以减小用于显示设备的测试工艺的测试焊盘及一检测线M1和第二检测线M2可以相对于坝部350d而向内设置(例如，在显示区域DA与坝部晶体管T(k-a)的第二电极可以连接到第三检测线M3，第(k+a)个测试晶体管T(k+a)的第二电极可以连接到第四检测线M4，第二测试晶体管T2的第二电极可以连接到第五检测线M5，测线M3的测试晶体管T(k-a)被称为第三亮线晶体管。连接到第四检测线M4的测试晶体管T(k+a)被称为第四亮线晶体管。连接到第五检测线M5的测试晶体管T2被称为第五亮线晶体三亮线晶体管的数据线DL(k-a)被称为第三测试数据线。连接到第四亮线晶体管的数据线亮线晶体管连接到第三测试数据线的像素PX中。第二测试电压P2(V)可以被写入到通过第四检测线M4和第四亮线晶体管连接到第四测试数据线的像素PX中。第一测试电压P1(V)可测试电压P2(V)可以被写入到通过第六检测线M6和第六亮线晶体管连接到第六测试数据线显示面板100B的可弯曲区域BA的左侧部表明显示面板100B的可弯曲区域BA的右侧