CN112185453B 读干扰测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备 （深圳佰维存储科技股份有限公司）

道平山社区留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区4、8栋1层-3层及4栋4层US2015278014A1,2015.10.01数据确定待测试闪存待测试的块及其对应的待获取到一个可以明确需要数据搬移或刷新的读2获取待测试闪存的设备信息，根据所述块信息、页信息和对所述待读取区域进行连续读操作直至所述待测试的块的实际ECC值大于所述预设所述对所述待读取区域进行连续读操作直至所述待测试的块的实际ECC值大于所述预在对所述待读取区域进行连续读操作的过程中，根据所述对所述数据块对应的检验频率进行调整，以一预设调整幅度将其调小到一预设检验频率所述检验频率是指在进行预设次数的读操作后，去获取一次当前读所述根据所述块信息、页信息和设备信息确定所述待测试闪存待测根据所述设备信息确定所述待测试闪存的物理块信息，根据所述根据所述页编号在确定出的所述待测试的块中进行检索，确所述根据所述块信息、页信息和设备信息确定所述待测试闪存待测根据所述设备信息确定所述待测试闪存的物理块信息，根据所述起3根据所述起始页编号在确定出的每一块待测试的块中进行检索根据每一块待测试的块的待读取起始页和所述页数确定每一块待测试的块对应的待从所述待读取区域的起始地址开始根据所述读长度连续访问同一地址并在执行每次读操作时，按照随机顺序从待测试的块中选取一所述待测试闪存待测试的块及其对应的待读读取模块，用于对所述待读取区域进行连续读操作直至所述待测试的块的实际ECC值所述对所述待读取区域进行连续读操作直至所述待测试的块的实际ECC值大于所述预在对所述待读取区域进行连续读操作的过程中，根据所述对所述数据块对应的检验频率进行调整，以一预设调整幅度将其调小到一预设检验频率所述检验频率是指在进行预设次数的读操作后，去获取一次当前读4处理器执行时实现如权利要求1-5任意一项所述的一种读干扰测试方法中的8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储5[0011]对所述待读取区域进行连续读操作直至所述待测试的块的实际ECC值大于所述预[0017]读取模块，用于对所述待读取区域进行连续读操作直至所述待测试的块的实际6算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述一种读干扰测试方法中的各个步应的待读取区域，对待读取区域进行连续读操作直至所述待测试的块的实际ECC值大于预[0032]对所述待读取区域进行连续读操作直至所述待测试的块的实际ECC值大于所述预7[0044]根据每一块待测试的块的待读取起始页和所述页数确定每一块待测试的块对应[0048]从所述待读取区域的起始地址开始根据所述读长度连续访问同一地址并执行读[0055]所述对所述待读取区域进行连续读操作直至所述待测试的块的实际ECC值大于所8[0058]由上述描述可知，通过设置检验频率，根据检验频率进行实际ECC值的获取并比[0061]由上述描述可知，通过对待测试的块在不同的读操作次数下对于的ECC值进行保[0066]读取模块，用于对所述待读取区域进行连续读操作直至所述待测试的块的实际述计算机程序被处理器执行时实现上述一种读干扰测试方法中的[0071]本实施例中可以通过开发一个测试软件来实现对特定NAND闪存的读干扰的自动9[0083]S4、对所述待读取区域进行连续读操作直至所述待测试的块的实际ECC值大于所[0085]从所述待读取区域的起始地址开始根据所述读长度连续访问同一地址并执行读测试结果就可以直观地确定出需要进行数据搬移或者刷新的读次数[0094]根据每一块待测试的块的待读取起始页和所述页数确定每一块待测试的块对应[0100]当实际ECC值达到或超过预设ECC值时，则停止对该实际ECC值对应的数据块的读[0103]所述对所述待读取区域进行连续读操作直至所述待测试的块的实际ECC值大于所加精确的确定出需要执行数据搬移或刷新的读次[0114]读取模块，用于对所述待读取区域进行连续读操作直至所述待测试的块的实际行时实现上述实施例一至实施例三任意一个所述的一种读干扰测试方法中的上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述实施例一至实施例三任区域进行连续读操作并根据检验频率获取待测试的块对应的实际ECC值与预设ECC值进行[0123]所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只