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文档简介

块状样品制备方法CONTENTS目录01制样要求样品制备02制样要求01制样要求1.对于非断口的金属块状试样,应尽可能的磨成平面,并进行简单的抛光,这样不但可以去除金属表面的氧化膜,也可以消除表面应变层。用超声波清洗去除表面的杂质,但要保证试样的面积应大于10mm×10mm。2.对于薄膜试样,其厚度应大于20nm,并在做测试前检验确定基片的取向,如果表面十分不平整,根据实际情况可以用导电胶或者橡皮泥对样本进行固定,并使样品表面尽可能的平整。3.对于片状、圆柱状的试样会存在严重的择优取向,造成衍射强度异常,此时在测试时应合理的选择响应方向平面。4.对于断口、裂纹的表面衍射分子,要求端口尽可能的平整并提供断口所含元素。样品制备02样品制备请在此处输入您的文本请在此处输入您的文本,请在此处输入您的文本,请在此请在此处输您的文本,请在此处输您的文本请在此处输您的文本,请在此处输您的文本内容及其格式。点击此处添加标题用石蜡或者橡皮泥将块状样品固定在窗口内,样品要与样品板平齐。谢

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