CN113312879B 芯片电路功能验证系统、方法、设备及存储介质 （北京燧原智能科技有限公司）

US2016320451A1,2016.本发明实施例公开了一种芯片电路功能验试输出结果和参考输出结果进行匹配以获取待2所述激励生成模块与所述执行模块、所述参考模型电所述执行模块还与所述待测电路电连接，用于根据所所述检验器与所述待测电路、所述参考模型电连接，所述软件仿真器，用于根据软件场景指令和指令流格所述自动化脚本，用于根据所述指令流数据确定对所述2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述执行模块包括至少一个定义接口函根据所述函数调用策略，在所述定义接口函数中获取分别与将各所述函数调用关联数据输入至匹配的所述目标定根据所述寄存器配置激励调用所述寄存器接口驱动器，根据所述数据配置激励调用所述数据接口驱动器，以对所述待测电路进行存储器配根据所述信号配置激励生成所述目标激励信号，并调用3所述监视模块，用于获取所述待测电路的所述测试输所述状态信号接口模块，用于获取所述待测电路的状态信所述寄存器接口监视器，用于根据寄存器接口通信协议获所述数据接口监视器，用于根据数据接口通信协议获取所述存储器后门访问接口模块，用于获取所述待测电路通过激励生成模块获取芯片软件仿真结果，并根据所述芯通过所述执行模块根据所述目标验证激励对待测电路进行参通过所述待测电路根据参数配置结果和所述目标激励通过检验器获取所述测试输出结果和所述参考输出结其中，所述通过激励生成模块获取芯片软件仿真结通过软件仿真器根据软件场景指令和指令流格式文件，生成所述芯片软件仿真结果，通过所述自动化脚本根据所述指令流数据确定对所述执行模块的函数调用策略和函8.一种电子设备，其特征在于，包括权利要求1-6任一项所述的芯片电路功能验证系45[0026]图6为本发明实施例二提供的一种基于芯片电路功能验证系统进行功能验证的流[0027]图7为本发明实施例二提供的一种基于芯片电路功能验证系统进行功能验证所需6[0036]图3是本发明实施例一提供的一种芯片电路功能验证系统的示意图，本实施例提SpeedIntegrateCircuitHardwareDescriptionLanguage，超高速集成电路硬件描述码或者VHDL代码、由其他语言编写以Verilog代码或者VHDL代码为中间产物生成的电路网[0039]具体的，芯片软件仿真结果可以是对待测电路130的软件应用场景对应的软件进制流可以用于推动待测电路130实现任意功能需要执行的动作，数据流可以用于提供待测7根据输入的目标激励信号得到相应的输出，即待测电路130可以在目标验证激励的推动下[0045]具体的，验证环境参数信息可以用于描述执行模块120所运行的环境的各参数的自动采集验证环境参数信息，也可以通过人工方法将验证环境参数信息编写至回调接口，执行模块120进行配置，从而实现在不同验证环境中底层接口电路的调用，确保执行模块120可以在不同验证环境中复用。[0047]相应的，待测电路130，用于根据参数配置结果和目标激励信号生成测试输出结[0048]具体的，参数配置结果可以是根据目标验证激励对待测电路130进行参数配置所据目标验证激励配置完成的待测电路130将目标激励信号作为输入所得到的结果，可以包[0052]具体的，参考输出结果可以是参考模型140根据目标验证激励的推动实现模拟出[0055]具体的，匹配结果可以用于描述测试输出结果和参考输出结果之间的匹配8功能验证结果可以用于描述待测电路130实际实现的功能是否可以满足芯片设计中的需可以得到相应的功能验证结果为待测电路130实际可以实现的功能满足芯片设计中的需[0057]示例性的，图4为本发明实施例提供的一种芯片电路功能验证系统的工作流程示意图。如图4所示，应用场景验证激励可以输入至验证环境中部署的参考模型和执行模块130中得以实现。配置目标覆盖信息可以用于描述硬件配置和软件配置的各种工作模式是否在待测电路130中得以实现。待测电路模式覆盖信息可以用于描述电路的各种工作模式[0061]相应的，功能覆盖统计模块可以在对待测电路130进行芯片电路功能验证的过程[0064]图5是本发明实施例二提供的一种芯片电路功能验证系统的示意块110的进一步细化为软件仿真器1101和自动化脚本1102，软件仿真器1101与自动化脚本9CF_TRANS_SET_MAILBOX;slave_id:0x700;mWaitMinusRef;cre_mode:kCreditZero;”符的规则，多维属性名定义格式，多维属性值定义格式和数值前缀规则。示例性的，语句符。函数调用关联数据可以是对执行模块120中定义的任意函数执行的调用操作中需要的数[0073]可选的，函数调用策略可以是用于对执行模块120中的激励接口函数进行调用的可以确定出需要调用执行模块120中预先定义的数据搬运方法的激励接口函数，并确定数发明实施例提供的一种基于芯片电路功能验证系统进行功能验证的流程示意图，图7为本发明实施例提供的一种基于芯片电路功能验证系统进行功能验证所需资源的示意图，其其验证周期比如图1和图2所示的现有技术中目标定义接口函数对待测电路130进行参数配置，并生成目标激励信号输入至待测电路[0078]其中，定义接口函数可以是执行模块120中预先定义的函数，用于控制待测电路[0079]示例性的，语句“cluster.cf_trans_set_mbx(0x700,0,0,0,0,0x0,1,kIncrementRef,kTriggerPositive,kCreditZero,kWaitMinusOne);”为示例性的目标置的激励，可以包括但不限于需要写入待测电路130中的数据处理和控制电路模块的寄存的电路信号来配置待测电路130的寄存器。数据接口驱动器可以用于将数据配置转换为符对应的完成对待测电路130的寄存器配置和存储器配置，以及生成目标激励信号输入至待[0094]示例性的，图9为本发明实施例提供的一种芯片电路功能验证系统的工作流程示述目标激励信号，并调用所述控制信号接口模块将所述目标激励信号输入至所述待测电步包括相对于处理器400远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至电子设[0115]输入装置420可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与电子设备的用户设行指令在由计算机处理器执行时用于实现本发明实施例提供的一种芯片电路功能验证系