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文档简介
端子的镀层可降低多孔连接器的插入力
锡(Sn)钳(Pd)合金可以很好地降低端子的插入力。
汽车电子控制系统的最新进展导致电子控制单元和电路的数量增加,因
此,必要的连接器和端子的数量增加了。同时多孔连接器要求高插入
力,这使得组装操作困难。因此,对于降低插入力的端子镀层的需求不断
增长。我们已经开发了一种锡(Sn)合金电镀技术来代替广泛使用的锡电
镀。锡合金镀层可抑制连接器匹配期间的磨料磨损,并成功降低插入力。
关键词:低插入力,低摩擦,端子电阻,电镀Sn-Pd
1.介绍
如今,越来越多的汽车功能受到电子控制,以改善环境性能,安全性和舒
适性。这意味着电子控制单元的数量增加,这反过来又增加了连接到这些
单元的传感器和其他设备的数量,从而增加了单个单元中的电路数量以及
连接器上的端子数量。对于多孔连接器,在将连接器连接到车辆的过程
中,需要更大的力来使连接器配合(连接器配合力),从而降低了可使用
性。
通常,当配合力增加时,连接器结构往往被分开成很多子部件,或在连接
器中增加推杆(Lever)结构以承受增加的力。然而,为了确保乘客的舒适
性和便利性,分配给电子控制单元的安装空间正在缩小。这使得这些传统
解决方案变得困难,因为它们需要更多的空间,
由于这个原因,对开发新镀层的需求越来越高该镀层降低了连接器的指
入力和摩擦系数。从而即使针脚的数量增加,也可以将配合力保持在较低
水平。
住友电T通过开发独创的电镀技术来降低端子的插入力,从而制造了一种
具有更多针脚的连接器。
这个技术补充了连接器的大部分配合力。
2.接触磨损机制
固体之间的接触,表面总是存在一定的粗糙度因此实际接触面积比可见
接触面积小得多,如图1(a)所示。真正的接触区域出现在突起的尖端
之间,如图1(b)所示。这意味着接触压力变得非常高,并且在表面上
产生了强大的结合力,从而增加了附着力。当外力施加在两个表面之一上
时,粘附部分被剥离并形成新的粘附部分。重复此操作所需的力是粘合摩
擦力。⑴
传统上,回流锡(Sn)镀层已用于端子。这涉及将Sn镀到铜合金母材
上,并使用回流处理*1来熔化Sn并使其重结晶。在相同材料的两个零件
之间发生磨损时,高亲和力意味着发生牢固的粘附力,并且摩擦力增大。
Load
Apparentcontact
Realcontact
area
Apparentcontactarea》Realcontactarea
(b)Crosssectionofrealcontactarea
1A
图L实体表面之间的接触示意图
另外,由于两个表面的轮廓不同或其他原因,一个表面被推入另一个表
面。如图2所示,当一个表面为球形而另一个表面为平面,并且两个表面
彼此相对滑动时,球形表面将推入平面。随着被推入的球形表面的移动,
平坦表面与前面一起沿移动方向被挖出。挖掘所需的力是犁摩擦力。
当插入端子时,上述的粘着摩擦和犁式摩擦也会影响两个镀锡表面之间的
磨损。为减少插入力而开发的一种先前方法是镀上薄的Sn层,例如表1
所示的3层镀层。通过减小Sn层的厚度,表观硬度增加,犁摩擦和表面
变形减少。但是,降低摩擦系数的效果仅限于20%左右。
Load
(a)Pushinginof(b)Movementofpushed
sphericalsurfaceKinsphericals线ur采fa区c界e_____
图2.犁摩擦力
表1.镀锡的类型(代表性示例)
ReflowSnplating3layerplating
(IMC+2/Sn)(Ni/IMC/Sn)
SnI
Sn
PlatingIMC(Cu-Sn)
IMC(Cu-Sn)
StnictiireNi
CopperAlloyCopperAlloy
Snplatingthickness0.8pm0.3pm
IMCthickness0.4pm0.3jim
Nisubstrateplating
—0.5pm
thickness
ReflowtreatmentAppliedApplied
Reductioneffectfor
20%
Coefficientoffriction
KT线羽底界
为了进一步减小摩擦,我们考虑使用如图3所示的具有交替的软层和硬层
的电镀结构来实现功能分离的电镀。该结构确保了与软层(Sn)的接触电
阻,并且在端子插入硬层期间支撑了负载,以抑制犁摩擦力和粘附摩擦
力。
以这种结构为理想模型,我们着眼于以下事实:锡和钳(Pd)的金属间化
合物(Sn-Pd合金)很坚硬并形成网状图案,并将其应用于低插入力镀
层。形成的镀层结构如图4所示。该镀层的特征在于,在软锡镀层的厚度
方向上形成硬质Sn-Pd合金,并在其外表面露出。Sn-Pd合金的量取决于
Pd的浓度,并且可以根据需要调整合金的量。
在开发的项目上,在回流处理的合金化中,形成了Ni,Sn和Pd层以获得
图4中所示的原始结构。
图4.Sn-Pd镀层的剖面结构
3.锡钮镀层性能
与常规的回流Sn镀层相比,我们评估了摩擦低的Sn-Pd镀层的性能。
图5示出了当端子史于配合状态时的横截面示意图。母端子在与公端子接
触的部分上具有球形突起。当插入端子时,公端子与母端子上的突出部之
间的摩擦力极大地影响插入力。因此,如图6所示,我们准备了一个扁平
的试件来模拟阳端子,并准备了一个凸起的测试件.3来模拟阴端子的突出
部分。每个试件都由铜合金制成板制成,厚度为0.25毫米。镀层规格如表
2所示。在凸起的测试件上,进行了被广泛用于连接器的回流Sn镀层。
对于平板,我们生产了两种不同的类型:一种带有回流锡镀层,另一种带
有锡-钳镀层。表3示出了在评估中使用的镀层的组合。
MaleterminalsMaleterminals
Basematerial
Platinglayer
Platinglayer
Basematerial
Protrudingpart
Femaleterminalsonfemaleterminal
图5.配合状态下的端子横截面示意图
Expandedcrosssectionoftip
ofembossedpart
图6.扁平试件和压纹试件
在这些条件下,我们评估了摩擦系数(3・1),耐磨损性(3・2),接触电
阻特性(3-3)和耐晶须“(3-4)o
表2.试件的电镀规格
SampleTypeofplatingPlatingconditionsReflowtreatment
Embossed
ReflowSnplatingSn1.0pmApplied
testpiece
ReflowSnplatingSn1.0pmApplied
FlattestpieceSn1.0pm
Sn-PdplatingApplied
Pd0.02pm
表3.用于性能评估的电镀条件的组合(3-1〜3)
ConditionEmbossedtestpieceFlattestpiece
①ReflowSnplatingReflowSnplating
②ReflowSnplatingSn-Pdplating
v线弟世羿
3-1摩擦系数
端子插入力取决于摩擦系数,较小的摩擦系数会导致较小的插入力。我们
验证了由于用Sn-Pd镀层替代Sn镀层,从而导致的摩擦系数降低的测
试。
图7显示了用于测量摩擦系数的方法的示意图。测试负载设置为3N,以
模拟多孔连接器中使用的小端子上的接触负载,另外,将滑动距离设置为
2mm,以模拟连接器配对时的端子插入距离。
图7.摩擦系数测量方法示意图
图8示出了在每个测试条件下的摩擦系数的测量结果。当滑动距离最大为
2mm时,回流Sn镀层的峰值为0.54,Sn-Pd镀的峰值为0.36,因此降
低摩擦系数的效果为33%。
0.8
u
o33%
w
」
」
」
0
P①
E
①
O
u
0.00.51.01.52.0
Slidingdistance(mm)七线束世界
图8.摩擦系数测量结果
3-2耐磨性
图9显示了在上一项的摩擦系数的测量过程中观察到的磨损痕迹的结果。
使用扫描电子显微镜(SEM)来进行观察。
图9.磨损痕迹的比较观察结果
利用回流Sn镀层,摩擦系数随着滑动距离的进行而增加。这是因为随着
移动的进行,大面积的区域被挖出回流的Sn镀层,并反复附着在凸起侧
的Sn上。这导致锡在凸起测试片上大量积聚。
相比之下,对于Sn-Pd镀层,即使在滑动试件之后,摩擦系数也保持不
变。通过Sn-Pd电镀,硬质合金支撑了负载并防止凸起部分被推入,从而
抑制了挖掘和磨损。此外,也认为由于Sn与暴露在表面上的Sn-Pd合金
部件之间的粘合力弱,因此减小了摩擦系数,并且具有抑制粘合剂磨损的
效果。
3-3接触电阻特性
我们测量了负载接触电阻以评估连接可靠性,这是连接器镀层的重要特
征。
评估的方法是如图10所示,将凸起压纹测试片压在平坦测试片上。我们
在垂直方向施加的负载从0N缓慢升高到40N,同时使10mA电流通
过,并使用四端子法测量接触电阻。
图11示出了负载接触电阻的测量结果。当负载增加时,接触电阻减小。
这是因为实际接触面积随负载的增加而增加。(3)关于此属性,回流Sn镀
层与锡钳镀层之间没有看到很大的差异,均显示出良好的效果。
Load
0->40N
Loadcell、
Embossed
testpiecedo
CD
JLJLJ
Flattest
piece线束世界
图io.负载接触电阻特性测量示意图
①ReflowSnPlating②Sn-Pdplating
(
Ca
EE
))
88
UU
2S
SS
一
s一s
①①
」
」
l1
o
eE
lU
u
o0
o。
010203040010203040
Contactload(N)Contactload(N)
-------------七点交斟
图11.负载接触电阻特性比较
3-4抗晶须
在与母端子或零件压入壳体的接触点上,将外力施加到公端子上的镀层。
当未施加回流处理的Sn镀层受到外部应力时,镀层表面可能会产生晶
须。
通常,通过将Sn熔化然后在回流处理中使其重结晶,是的Sn镀层的内部
应力得到缓解,可以有效抑制晶须的产生。对于Sn-Pd镀层,人们认为对
晶须的抵抗力要比对回流Sn镀层更大,这是因为,除了进行回流处理
外,硬质Sn・Pd合金还可以承受外部应力并减轻纯锡的负荷。而且几乎没
有纯锡是晶须的来源。因此,为了评估Sn-Pd镀层的优越性,我们实施了
球形压痕测试(日本电子和信息技术产业协会正ITARC-5241),该测试
使用的苛刻条件会在回流Sn镀层上产生晶须。图12显示了用于球体压痕
测试的方法。使用的测试条件是3N的测试负载,持续72小时。
图12.球形压痕测试示意图
图13显示了测试后拍摄的SEM图像。在回流锡镀层上,锡在压痕周围变
形并观察到晶须。另一方面,在Sn-Pd镀层上可以看到压痕,但是没有晶
须。
这些结果表明,Sn-Pd镀层比回流Sn镀层具有更高的抗晶须性。
图13.球形压痕测试后镀层表面状况
4.产品示例应用
4・1连接器配合力
图14所示为对具有Sn-Pd镀层的多孔公连接器进行配合力评估的结果的
示例。母连接器经过回流镀锡,只有公连接器上的镀层被改变。如果将常
规回流Sn镀层的配合力设为100%,则使用Sn-Pd镀层可使连接器的配
合力降低33%。
界
世
求,小,
纥下电镀0接
:中卸触的0,中
.程或接关2。后试
过入后相存加次测
装插次n保增十储
组次十S中阻对存
辆多器与氛电温
而配
车要接气触器高
)长
例在需连气接接的
增
m示,则下空的连行
果间
m常,拔的层将进。
(效通题时。阻
少和C镀使后
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e减入6S即
k估或物1十的
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no估评障合在器锡
r使回果
oit评性故即化品接镀
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久生了间样的连流
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