CN113866584B 一种功率半导体器件功率循环测试电路和测试方法 （科威尔技术股份有限公司）_第1页
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一种功率半导体器件功率循环测试电路和本发明公开了一种功率半导体器件功率循环测试电路和测试方法，包括至少一条测试支所述二极管的负极通过被测半导体器件后接所2所述加热电流源的输出端接所述电流旁路模块，所述电流旁路模二极管D1的正极，所述二极管D1的负极通过被测半导体器件后接所述电流旁路模块的负所述测试电流源的负极接所述被测半导体器件的一端，正极接所述二极管D4的正极，所述二极管D4的负极接所述被测半导体器件的功率半导体器件功率循环测试电路的测试方法为：每条测试支路开始功率循环测试数据采集模块实时监测多个被测半导体器件的导通电压以及加热电流源2.根据权利要求1所述的一种采用功率半导体器件功率循环测试电路的测试方法，其3.根据权利要求1所述的一种采用功率半导体器件功率循环测试电路的测试方法，其4.根据权利要求1所述的一种采用功率半导体器件功率循环测试电路的测试方法，其5.根据权利要求1所述的一种采用功率半导体器件功率循环测试电路的测试方法，其6.根据权利要求1所述的一种采用功率半导体器件功率循环测试电路的测试方法，其7.根据权利要求6所述的一种采用功率半导体器件功率循环测试电路的测试方法，其8.根据权利要求1所述的一种采用功率半导体器件功率循环测试电路的测试方法，其3[0002]功率循环测试设备既可以对包括混合动力汽车及电动汽车和列车在内的汽车和[0003]公开号为CN108646163A的中国发明专利申请公开了一种半导体器件的功率循环[0005]本发明所要解决的技术问题在于：解决测试电路中直流所述二极管的正极，所述二极管的负极通过被测半导体器件后接所述电流旁路模块的负[0010]所述测试电流源的负极接所述被测半导体器件的一端，正极接所述二极管的正4循环测试时，加热电流源输出预设的电流流过二极管对多个被测半导体器件施加负载电[0024](2)本发明通过采用多只并联的场效应管替代IGBT模块作为辅助测试电路，达到[0025](3)本发明采用多支路测试结构，可扩展测试容量，提高测试效率和测试的灵活5路2和第三测试支路3均采用相同的电路结构，因此本实施例主要对第一测试支路1进行详[0036]同时多只场效应管并联的方式相比IGBT模块作为辅助测试电流具有导通损耗低、[0039]数据采集模块U5有多通道高速高精度差分信号采集端口，实时监测被测件DUT1、6[0041]第一测试支路1开始功率循环测试时，加热电流源P1输出预设的电流流过二极管[0045]同理第二测试支路2中，加热电流源P2通过电流旁路模块U2和二极管D2为DUT5、半导体器件连接；栅极电源模块U4的四路独立的栅极电压控制这四个半导体器件的通断；数据采集模块U5监测第二测试支路2的电流及四采集模块U5监测第三测试支路

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