数电实验实验一逻辑门功能测试及其应用研究

数电实验实验一逻辑门功能测试及其应用研究第一页，共16页。①检查数电试验箱是否工作正常第二页，共16页。①检查数电试验箱是否工作正常第三页，共16页。②检查芯片功能是否完好将芯片的缺口对着左边，对应针脚插入管座；缺口端将芯片的左上针脚接Vcc，右下针脚接GND；缺口端根据芯片的引脚结构图以及真值表进行验证。第四页，共16页。③准备一定数量的导线将万用表拨到欧姆档，10欧姆倍率；将导线两端直接接到万用表的“+”、“*”端；观察万用表的电阻读数，如较小则导线好；如较大则导线不好。第五页，共16页。④准备3根探头线按图进行自校准接线，观察是否出现方波；将探头线的黑端子也接到自校准钩子上，观察是否出现一根“0”电平线；第六页，共16页。⑤准备1付万用表表笔

直接将表笔短接，观察万用表的电阻读数第七页，共16页。二实验内容内容一：TTL与非门逻辑功能（电压传输特性）的测试

要求自己设计电路，测试TTL的电压传输特性，得到电压传输特性的曲线。

设计步骤如下：

（1）了解TTL与非门（74LS00）的引脚结构图123456714131211109874LS00Vcc3A3B3Y4A4B4Y1A1B1Y2A2B2YGND

可见：芯片74LS00有14个引脚，左上针脚接Vcc，右下针脚接GND，含有4组与非门（每一组左边两个引脚为输入，右边引脚为输出）。第八页，共16页。实验内容一设计步骤如下：

（2）自己设计电路Vcc1A1B1Y电位器74LS00123Vcc14GND7ViV0第九页，共16页。实验内容一设计步骤如下：

（3）验证所用与非门芯片（74LS00）的逻辑功能正确观察：

当拨动开关往上拨时，指示灯是否灭；当拨动开关往下拨时，指示灯是否亮即是否满足与非门的逻辑关系Y=A·1

如果逻辑关系不正确，则建议更换芯片！第十页，共16页。实验内容一设计步骤如下：

（4）设计表格测量，画出电压传输特性曲线Vi/伏00.20.30.50.80.91.01.11.21.52.03.05.0V0/伏注意点：将红表笔放在Vi待测点，调节电位器使电压值为0伏，然后将红表笔放在V0待测点，将测量值写入表格中，依次进行。。。万用表直流电压档量程的选择——

2.5V

与10V

量程第十一页，共16页。二实验内容内容二：用三态门实现三路信号分时传送的总线结构。框图如图所示，功能如表所示

。

第十二页，共16页。实验内容二设计步骤如下：

（1）了解三态门（74LS244）的引脚结构图123456789102019181716151413121174LS244Vcc

1Y11Y21Y3

1Y4

1G1A11A2

1A3

1A4

GND

可见：芯片74LS244有20个引脚，左上针脚接Vcc，右下针脚接GND，含有2组三态门（每组三态门有4位对应输入、输出,实验时选一位即可）。Vcc2G

2A42A32A2

2A12Y42Y3

2Y2

2Y1

GND

第十三页，共16页。实验内容二设计步骤如下：

（2）自己设计电路1234561191218218119第十四页，共16页。实验内容二设计步骤如下：

（3）静态验