CN114266153B 一种cmu测试方法、装置及系统 （章鱼博士智能技术(上海)有限公司）

司本发明提供了一种CMU测试方法、装置及系模拟器用于模拟BMU的功能；基于电池采样芯片电池采样芯片在BMU模拟器中对应的采集通道；发送第一测试指令，以使BMU模拟器按照通信协议将第一测试指令转换为第二测试指令发送至2基于所述电池采样芯片的数量及每个电池采样芯片的配置信息，配述第一测试指令转换为第二测试指令发送至所述待测CM所述配置信息包括：电池采样芯片实际连接的单体电芯数量及电池采样芯片获取所述当前电池采样芯片当前实际连接的单体电芯数量及当前实际使用的温度通按照当前实际连接的单体电芯数量，配置当前电池采样芯片在BMU模拟器中对应的单按照当前实际使用的温度通道，配置当前电池采样芯片在BMU模拟器中对应的温度采接收所述BMU模拟器发送的第一测试数据，所述第一测试数据为所述CMU发送的第二测试数据，按照所述通信协议将所述第二测试数据进行转换得到的测试数对所述BMU模拟器与所述待测CMU的通信协议和、各电池采样芯片在BMU模拟器中对应接收上位机发送的第一测试指令，所述第一测试指令为所述上位机获取待测CMU对应将所述第一测试指令按照所述通信协议转换为将所述第二测试指令发送至所述待测CMU，以使所述待测CMU基于所3接收所述待测CMU发送的第二测试数据，所述第二测试数据为将所述第二测试数据按照所述通信协议转换为第第一处理模块，用于基于所述电池采样芯片的类型，配置BM第二处理模块，用于基于所述电池采样芯片的数量及每个电池采样芯片的配置信息，的数量及每个电池采样芯片的配置信息，配置各电池采样芯片在BMU模拟器中对应的采集第一发送模块，用于向所述BMU模拟器发送所述第一测试指令，照所述通信协议将所述第一测试指令转换为第二测试指令发送至所述接收模块，用于接收上位机发送的第一测试指令，所述第一测试指模拟器与所述待测CMU的通信协议；基于所述电池采样芯片的数量及每个电池采样芯片的第二发送模块，用于将所述第二测试指令发送至所述待测CMU，以所述上位机用于获取待测CMU对应的电池采样芯片信息及测试需求，所述电池采样芯4信息包括：电池采样芯片实际连接的单体电芯数量及电池采样芯片实际使用的温度通道，所述BMU模拟器用于接收上位机发送的第一测试指令；将所述第一测试指令按照所述通信协议转换为第二测试指令；将所述第二测试指令发送至所述待测CMU，以使所述待测所述BMU模拟器还用于接收所述待测CMU发送的第二测试数据，所述第述待测CMU基于所述第二测试指令进行测试后生成的测试数据；将所述第二测试数据按照所述上位机还用于接收所述BMU模拟器发送的第一测试数据；对所述第一测试数据进5[0002]电池管理系统(Batterymanagementsystem，简称BMS)主要由单体监控单元简称AFE芯片来设计CMU，随之带来的问题就是在对CMU生产下线测试中需要频繁更换不同将所述第一测试指令转换为第二测试指令发送至所述待测C待测CMU发送的第二测试数据，按照所述通信协议将所述第二测试数据进行转换得到的测6[0016]获取所述当前电池采样芯片当前实际连接的单体电芯数量及当前实际使用的温[0017]按照当前实际连接的单体电芯数量，配置当前电池采样芯片在BMU模拟器中对应[0018]按照当前实际使用的温度通道，配置当前电池采样芯片在BMU模拟器中对应的温[0020]对所述BMU模拟器与所述待测CMU的通信协议和、各电池采样芯片在BMU模拟器中[0022]接收上位机发送的第一测试指令，所述第一测试指令为所述上位机获取待测CMU[0031]第一处理模块，用于基于所述电池采样芯片的类型，配置BMU模拟器与所述待测器按照所述通信协议将所述第一测试指令转换为第二测试指令发送至所述待测CMU进行测7[0037]第四处理模块，用于将所述第一测试指令按照所述通信协议转换为第二测试指[0040]所述上位机用于获取待测CMU对应的电池采样芯片信息及测试需求，所述电池采数量及每个电池采样芯片的配置信息，配置各电池采样芯片在BMU模拟器中对应的采集通[0041]所述BMU模拟器用于接收上位机发送的第一测试指令；将所述第一测试指令按照测试数据为所述待测CMU基于所述第二测试指令进行测试后生成的测试数据；将所述第二测试数据按照所述通信协议转换为第一测试数据；将所述第一测试数据发送至所述上位[0043]所述上位机还用于接收所述BMU模拟器发送的第一测试数据；对所述第一测试数模拟器发送第一测试指令，以使BMU模拟器按照通信协议将第一测试指令转换为第二测试8[0046]本发明实施例提供了还提供了一种CMU测试方法及装置，通过接收上位机发送的在BMU模拟器中对应的采集通道，使得BMU模拟器可灵活用于由不同电池采样芯片设计的数量及每个电池采样芯片的配置信息，配置各电池采样芯片在BMU模拟器中对应的采集通CMU的电池采样芯片的信息，灵活配置BMU模拟器与待测CMU的通信协议及各电池采样芯片9[0054]下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲简称AFE芯片来设计CMU，随之带来的问题就是在对CMU生产下线测试中需要频繁更换不同可参照现有技术中的BMU的功能模拟软件设计思路加以实现，BMU模拟器2的研发过程并非[0060]关于上述上位机1及BMU模拟器2更进一步的描述参见下文对应方法实施例的相关组成待测CMU的电池采样芯片的信息，灵活配置BMU模拟器与待测CMU的通信协议及各电池芯片设计的CMU的测试中，通过按照配置的通信协议对上位机发送的测试指令进行转换后[0062]本发明实施例还提供了一种CMU测试方法，该方法应用于如图1所示的上位机1和上位机输入电池采样芯片的具体型号为MC3道的配置方式类似，如按照当前AFE芯片温度采集通道的开启编号，对应配置温度采集通[0073]其中，测试需求可根据用户需要进行灵活的设置，可以是对某一个CMU功能的验接收到菊花链通信协议帧后，按照通信协议进行解析后即可按照解析的指令执行相关功BMU模拟器中对应的采集通道，使得BMU模拟器可灵活用于由不同电池采样芯片设计的CMU的测试中，通过按照配置的通信协议对上位机发送的测试指令进行转换后下发CMU进行测测试后生成的测试数据，然后将测试数据作为有效数据封装为通信协议帧的形式发送至具体上位机对测试数据的分析方法可采用现有技术中对CMU测试得到的测试数据进行分析使BMU模拟器可以根据AFE型号的配置信息选[0096]4.BMU模拟器可以根据上位机[0097]本发明实施例提供的CMU测试方法的核心目的是可以生成配置代码和功能验证代同样可以生成对应的功能代码提供给真实的BMU工程代码使[0098]本发明实施例还提供了一种CMU测试装置，应用于如图1所示的上位机，如图3所[0101]第二处理模块103，用于基于电池采样芯片的数量及每个电池采样芯片的配置信协议将第一测试指令转换为第二测试指令发送至待测CMU进行测试。详细内容参见上述方组成待测CMU的电池采样芯片的信息，灵活配置BMU模拟器与待测CMU的通信协议及各电池芯片设计的CMU的测试中，通过按照配置的通信协议对上位机发送的测试指令进行转换后[0105]上述各个模块的更进一步的功能描述与上述对应方法实施例相同，在此不再赘组成待测CMU的电池采样芯片的信息，灵活配置BMU模拟器与待测CMU的通信协议及各