CN114464529B 一种半导体器件的制备方法 (绍兴同芯成集成电路有限公司)_第1页
CN114464529B 一种半导体器件的制备方法 (绍兴同芯成集成电路有限公司)_第2页
CN114464529B 一种半导体器件的制备方法 (绍兴同芯成集成电路有限公司)_第3页
CN114464529B 一种半导体器件的制备方法 (绍兴同芯成集成电路有限公司)_第4页
CN114464529B 一种半导体器件的制备方法 (绍兴同芯成集成电路有限公司)_第5页
已阅读5页,还剩13页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

载盘等固定支撑,提高了晶圆加工制备的便利2将所述晶圆转移至第一载盘,将所述晶圆和所述第一载盘之间的将所述晶圆和所述第一载盘之间的至少部分周边间隙采用第二聚酰对所述晶圆的外周缘与所述凹槽的内周壁间的至少部分间隙采用第一聚酰3[0014]对所述晶圆的外周缘与所述凹槽的内周壁间的至少部分间隙采用第一聚酰亚胺4[0024]在所述晶圆的正面制备具有预设图案的聚酰亚胺层,并制备预设排列层间介质[0027]根据本发明的一些实施例,所述聚酰亚胺层的至少部分镂空区域对应切割道位[0046]本发明中说明书中对方法流程的描述及本发明说明书附图中流程图的步骤并非5[0055]根据本发明实施例的半导体器件的制备方法,通过将晶圆10的正面110键合至载板20完成晶圆10背面120的减薄和背面120元件工艺,然后将晶圆10转移至载盘310中完成[0058]S320,对晶圆10的外周缘与凹槽的内周壁间的至少部分间隙采用第一聚酰亚胺6[0072]根据本发明的一些实施例,聚酰亚胺层101的至少部分镂空区域对应切割道S1位[0074]下面参照附图以一个具体的实施例详细描述根据本发明的半导体器件的制备方[0077]在将晶圆10键合至载板20前,在晶圆10和载板20之间设置黏[0083]S320,对晶圆10的外周缘与凹槽的内周壁间的至少部分间隙采用第一聚酰亚胺720完成晶圆10背面120的减薄和背面120元件工艺,然后将晶圆10转移至载盘310中完成高89

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论