CN114972766B 星载临边扫描光谱成像ccd中去除电机干扰的方法及介质 (中国科学院合肥物质科学研究院)_第1页
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文档简介

星载临边扫描光谱成像CCD中去除电机干扰本发明的一种星载临边扫描光谱成像CCD中去除电机干扰的方法及介质,通过对CCD数字图像进行处理,处理过程使用扫描电机PWM驱动频考列和像元读出时间,逐像元去定位干扰的位21.一种星载临边扫描光谱成像CCD中去除电机干扰的方法,其特征在于:包括以下步频率FMOTOR、CCD像元读出频率FCCD由设计数值得到,干扰波形频率FINTER可由示波器采集获REPREPREP3[0001]本发明涉及星载临边扫描光谱成像CCD技术领域,具体涉及一种星载临边扫描光量、功耗和体积的要求进行的取值。扫描电机控制上使用速度、位置、电流三闭环PID[0003]但同时该设计却带来了不可避免的干扰问题,图1中在桥式驱动电路和扫描电机DN值曲线部分为选取并显示出一行(1072个像元)像元的DN值(DigitalNumber),可以看[0005]电磁干扰和相关的噪声源是CCD相机系统最难解决的噪音问题。工程上通常针对4使用接地回路屏蔽或双绞信号线。针对CCD和敏感电子器件的屏蔽结构是减少EMIREPREP56复杂滤波及多尺度分析技术可能会有效,但海量的图像数据处理会导致运算效率的降低,[0036]基于图4对技术方案进行详细阐述,图4为CCD读出时序和扫描电机驱动时序关系读出频率为751KHz(周期:1.33uS,为减小CCD的读出噪声,像元读出频率通常在100(PWM波的上升和下降沿都会产生干扰)叠加在这25个像元中,由于读出频率和电机驱动频读出频率和PWM驱动频率是固定不变的。图5和图6分别给出了前60个像元的读出情况和中必出一个干扰波形,有下划线的标识点和没下划线的标识点分别对应是PWM波上升和下降7为(X1+25n-2,X1+25n+2)和(Y1+25n-2,Y1+25n+2),则干扰像元DN值通过权重线性插值回[0046]以上基于图4所述的处理扫描成像CCD电机干扰方法的取值,不限于以上具体数REP8(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM9

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