CN115326367B 一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法及系统 (中电科思仪科技股份有限公司)_第1页
CN115326367B 一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法及系统 (中电科思仪科技股份有限公司)_第2页
CN115326367B 一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法及系统 (中电科思仪科技股份有限公司)_第3页
CN115326367B 一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法及系统 (中电科思仪科技股份有限公司)_第4页
CN115326367B 一种基于lm-tl的增益芯片参数自动测试方法及系统 (中电科思仪科技股份有限公司)_第5页
已阅读5页,还剩21页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

US2003161034A1,2003.08.28一种基于LM-TL的增益芯片参数自动测试方本发明提出了一种基于LM_TL的增益芯片参数自动测试方法及系统,涉及芯片测试技术领发明通过采用宽范围自由空间光外腔扫频激光射角度及不同激射中心波长的半蝶形封装增益2将样品增益芯片接入Littman_Metcalf型可调谐激光器,设置测试参数,做测试前准光选频元件,为液晶电池、可调谐滤波片和固定栅格滤波器,为高刻可调谐镜,用于实现光选频元件选择出的特定频率的光子在控制电路,受控制计算机控制,样品增益芯片驱动电流的加载,2.如权利要求1所述的一种基于LM_TL将样品增益芯片接入Littman_Metcalf型读取控制电路驱动样品增益芯片的驱动电流参数、致动器的空间3.如权利要求2所述的一种基于LM_T3对两组光功率分布数据进行分析,得到样品增益芯片4.如权利要求3所述的一种基于LM_TL的增益芯片在一组差值分布数据中,差值分布数据大于预先设定光功率值的第一个驱动电流值,5.如权利要求3所述的一种基于LM_根据设置的测试参数及光功率测试中得到的阈值电流,控制高精度恒温箱的模拟温对光波长分布数据进行分析,得到样品增益芯片的光6.如权利要求3所述的一种基于LM_TL的根据设置的测试参数及光功率测试中得到的阈值电流,控制高精度恒温箱的模拟温对放大自发辐射光谱分布数据进行分析,得到样品增益芯片的放7.如权利要求1所述的一种基于LM_T光功率差值分布数据中阈值电流以下相应两点功率差值小于预先设放大自发辐射光谱分布数据中相邻两点功率差值的绝对值大于等于预先设定的功率4光选频元件,为液晶电池、可调谐滤波片和固定栅格滤波器,为高刻可调谐镜,用于实现光选频元件选择出的特定频率的光子在控制电路,受控制计算机控制,样品增益芯片驱动电流的加载,权利要求1_7任一项所述的一种基于LM_TL的增益芯片参数自动测试方法中的5[0001]本发明属于芯片测试技术领域,尤其涉及一种基于LM_TL的增益芯片参数自动测[0002]本部分的陈述仅仅是提供了与本发明相关的背景技术信息,不必然构成在先技[0006]为克服上述现有技术的不足,本发明提供了一种基于LM_TL的增益芯片参数自动长的半蝶形封装增益芯片特征参数进行自动67[0037]光功率差值分布数据中阈值电流以下相应两点功率差值[0039]放大自发辐射光谱分布数据中相邻两点功率差值的绝对值大于等于预先设定的[0043]测试准备模块,被配置为:将样品增益芯片接入Littman_Metcalf型可调谐激光执行时实现如本发明第一方面所述的一种基于LM_TL的增益芯片参数自动测试方法中的步[0049]通过采用宽范围自由空间光外腔扫频激光源(Littman_Metc8进宽范围自由空间光外腔可调谐激光器产业的效表征样品增益芯片总体性能对LM_TL的兼容性、准确度易受人工标定筛选因素影响而导9[0067]Littman_Metcalf型可调谐激光器1的结构如图3所示,采用宽范围自由空间光外不同波导光束出射角度及不同激射中心波长的半蝶形封装增益芯片特征参数进行自动测度反射率典型值为0.0053dB带宽典型值优于80nm,用于自由空间光外腔强反馈种子源[0071]可调谐镜104,用于实现光选频元件103选择出的特定频率的光子在外腔实现振精度±1℃。[0081](7)控制计算机7,提供Littman_Metcalf型可调谐激光器中致动器105、支撑板动的样品增益芯片101的驱动电流参数、致动器105的空间位置参数、支撑板106的温度参角度下光功率分布数据P_A2[1~M][[0101]3)寻找差值分布数据D_P>THR_1(THR_1=1mW)成立的第一个驱动电流值IQ[TH_[0102]4)计算PI_A2迹线中驱动电流IQ[TH_1~M]区间内的相邻两点的斜率K寻找满足以[0104]输出最佳工作电流I_lm=IQ[TH_2],并将IQ[TH_1]与IQ[TH_2]之间的I_1个驱动[0105]5)将样品增益芯片阈值电流I_th存入STC[I_th]中,最佳工作电流I_lm存入STC[0113]2)绘制样品增益芯片激射波长随阈值电流变化分布迹线W_I、寻找驱动电流I_dc[1~I_1]条件下原始光波长分布数据中记录的光功率最大值所对应的光波长值WA_MAX[I_[0114]3)根据WA_MAX[I_dc[1]]定位工作于阈值电流点处的第一个激射中心波长点POS[0117]6)寻找驱动电流IQ[TH_2]条件下自动测试得到的原始光波长分布数据中记录的[0127]2)寻找ASE[1~S2][1~P2][1~G1]中激射中心波长W_C=((WA_D_E_WA_D_S)/2)[0130]5)计算ASE_C[ANG_1]下降至ASE_C[ANG_1]/2时所对应的分居W_C两侧的波长值分[0136]光功率差值分布数据中阈值电流以下相应两点功率差值[0138]放大自发辐射光谱分布数据中相邻两点功率差值的绝对值大于等于预先设定的[0143]测试准备模块,被配置为:将样品增益芯片接入Littman_Metcalf型可调谐激光

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论