CN115494659B 一种液晶面板的检测方法及系统 （北京兆维电子(集团)有限责任公司）

司A,2021.09.07A,2015.05.13A,2020.03.27A,2020.09.25A,2021.10.01本发明涉及一种液晶面板的检测方法及系统，检测方法用于实现液晶面板的边缘检测或/域中的角坐标点和/或边缘轮廓；根据边缘轮廓据角坐标点以及边缘轮廓测量待测液晶面板的研磨精度检测结果和/或切割精度检测结果和/2获取所述测量结果图像的感兴趣区域中的角坐标点和根据所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的研磨精度，得到研磨精度检测结果；和/输出并存储所述研磨精度检测结果和/或切割精度检测结果和/或倒角精度根据所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的研磨精度，得到基于直线拟合法，根据所述待测液晶面板的边缘轮廓获取所述测量计算所述待测液晶面板的研磨区两侧边界线所对应的矩形提取所述测量结果图像中所述待测液晶面板边通过将所述待测液晶面板边缘缺陷图像与缺陷对比模型进行对比，将所述待测液晶面板边缘缺陷图像分别与多种所述缺陷对比模型进行3将经分类的所述待测液晶面板边缘缺陷图像按类别通过对所述测量结果图像中所述待测液晶面板的边界进行筛选，确定根据所述待测液晶面板的外边框确定所述感分别计算各个分段研磨区域中的所述研磨区将所有的分段研磨区域中的所述研磨区两侧边界线的宽度值取平7.根据权利要求1或5所述的液晶面板的检测8.根据权利要求1或5所述的液晶面板的检测根据预设倒角面积特征值、预设倒角宽度特征值以及预设倒角高度根据所述角坐标点以及所述边缘轮廓确定所述最终倒根据所述最终倒角的最小外接矩形，计算所述最终倒角的最终倒角9.一种液晶面板的检测系统，其特征在于，所述检4数据处理模块，用于提取所述测量结果图像的感兴趣区域，获取精度检测模块，用于根据所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的研输出模块，用于输出所述研磨精度检测结果和/或切割精度检测结果和存储模块，用于存储所述研磨精度检测结果和/或切割精度检测结根据所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的研磨精度，得到基于直线拟合法，根据所述待测液晶面板的边缘轮廓获取所述测量计算所述待测液晶面板的研磨区两侧边界线所对应的矩形5[0006]一种液晶面板的检测方法，所述检测方法用于实现液晶面板的边缘检测或/和缺[0010]根据所述边缘轮廓测量所述待测液晶面板的研磨精度，得到[0011]输出并存储所述研磨精度检测结果和/或切割精度检测结果和/或倒角精度检测6[0020]利用多种类型的液晶面板边缘缺陷样本数据对所述计算机视觉模型进行模型训[0024]进一步，存储所述边缘检测结果以及经分类的所述待测图像的感兴趣区能够在液晶面板的尺寸大小不一的情况下，提高液晶面板的检测通用性；[0035]进一步，根据所述待测液晶面板的边缘轮廓测量所述待7[0045]对所述二值图像中所述待测液晶面板的研磨区进行分段，得到多个分段研磨区[0049]进一步，根据所述待测液晶面板的边缘轮廓测量所述待[0053]利用自适应阈值算法，获取所述测量结果图像的感兴趣[0060]一种液晶面板的检测系统，所述检测系统用于对液晶面板进行边缘检测或/和缺8[0077]S4.根据所述边缘轮廓测量9[0087]将所有的分段研磨区域中的研磨区两侧边界线的宽度值取平均，得到研磨宽度[0092]利用自适应阈值算法，获取所述测量结果图像的感兴趣[0097]其中，所述倒角精度检测结果包括所述最终倒角宽度值以及所述最终倒角高度)2[0114]N1表示像素灰度大于目标和背景的分割阈值的像素个数；N[0117]本实施例通过将待测液晶面板边缘缺陷图像与缺陷对比模型进行对比识别