GB/T 34362-2026无损检测适形阵列涡流检测

ICS19100

CCSJ0.4

中华人民共和国国家标准

GB/T34362—2026

代替GB/T34362—2017

无损检测适形阵列涡流检测

Non-destructivetesting—Eddycurrenttestingusingconformablesensorarrays

2026-07-02发布2027-02-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T34362—2026

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

原理

4………………………2

检测工艺规程

5……………2

仪器设备

6…………………2

校验

7………………………3

检测程序

8…………………3

检测结果评定

9……………4

检测记录和报告

10…………………………4

附录资料性适形阵列涡流检测示例

A()………………5

附录资料性典型的适形阵列式探头

B()………………10

Ⅰ

GB/T34362—2026

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件代替无损检测适形阵列涡流检测导则与相

GB/T34362—2017《》,GB/T34362—2017

比除结构调整和编辑性改动外主要技术变化如下

,,:

更改了文件的适用范围见第章年版的第章

a)(1,20171);

删除了部分术语和定义见年版的

b)(20173.4~3.10、3.12~3.13);

更改了部分术语和定义见年版的

c)(3.1、3.2、3.6,20173.1、3.2、3.11);

增加了部分术语和定义见

d)(3.3~3.5);

更改了原理见第章年版的第章

e)(4,20174);

删除了意义与用途见年版的第章

f)(20175);

删除了人员资格见年版的第章

g)(20176);

删除了影响因素见年版的第章

h)(20177);

增加了检测工艺规程的要求见第章

i)(5);

更改了仪器的要求见年版的

j)(6.2,20178.1);

更改了涡流阵列传感器的要求见年版的

k)(6.3,20178.2);

增加了参考试块的制作要求见

l)(6.4);

增加了操作辅助装置的要求见

m)(6.5);

更改了校准周期的要求见第章年版的

n)(7,20179.1);

删除了空载校准的要求见年版的

o)(20179.2);

删除了参考试块校准的要求见年版的

p)(20179.3);

删除了系统性能验证的要求见年版的

q)(20179.4);

增加了检测前的准备要求见

r)(8.1);

更改了检测基本步骤的要求见年版的

s)(8.2,201710.1);

删除了其他测量程序的内容见年版的

t)(201710.2);

删除了注意事项的要求见年版的

u)(201710.3);

增加了检测结果评定的要求见第章

v)(9);

增加了检测记录的要求见

w)(10.1);

更改了检测报告的要求见年版的第章

x)(10.2,201711)。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由全国无损检测标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC56)。

本文件起草单位爱德森厦门电子有限公司上海材料研究所有限公司清华大学

:()、、。

本文件主要起草人林俊明蒋建生林泽森丁杰黄松岭

:、、、、。

本文件于年首次发布本次为第一次修订

2017,。

Ⅲ

GB/T34362—2026

无损检测适形阵列涡流检测

1范围

本文件描述了利用适形阵列涡流检测导电材料不连续及电磁特性的无损检测方法

。

本文件适用于非铁磁性铁磁性金属材料及含有导电组分复合材料的适形阵列涡流检测

、。

注被检件带涂层或不带涂层表面形状平面或曲面

:,。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

无损检测术语涡流检测

GB/T12604.6

无损检测通用术语和定义

GB/T20737

无损检测仪器涡流检测设备阵列探头性能和检验

GB/T45391

3术语和定义

和界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T12604.6GB/T20737。

31

.

适形conformability

探头工作面外形与被检件检测部位轮廓之间的几何匹配关系

。

注几何匹配关系直接影响电磁耦合效能

:。

32

.

阵元arrayelement

阵列式探头中用于产生激励磁场测量磁通密度或其时间变化率的基本单元

、。

注1用于产生激励磁场的基本单元称为激励阵元通常为线圈

:,。

注2用于测量磁通密度