CN119417839A 一种金属粉末中的杂物含量检测系统及方法 （江苏威拉里新材料科技有限公司）

一种金属粉末中的杂物含量检测系统及方法尤其涉及一种金属粉末中的杂物含量检测系统像素点的曲率与像素点所处凸边缘中像素点的2获取金属粉末灰度图像中的各超像素块，所述超像素块中通过三点法确定所述超像素块的凸边缘中像素点的曲率，将各确定所述超像素块中凸边缘的圆形程度，所述圆形程度与所述使用电子显微镜获取金属粉末的显微图像，对所述显微图像进预设边缘凹陷检测经验阈值；通过角点检测算法得到超像素块边获取所述闭合区域面积与所述凸包总面积的比值，若比值小于或;第b个凸边缘中包含的像素点个数，Qabc表示第a个超像素块的第b个凸边缘中第c个像素将所述凸边缘中像素点的曲率均值与所处超像素块中所有凸边缘中像素点的曲率均;3表示第a个超像素块的第b个凸边缘的圆弧度，Dab表示第a个超像素块的第b个凸边缘的;式中，Dab表示第a个超像素块的第b个凸边缘的曲率差异度，kab块的第b个凸边缘中包含的像素点个数，Qabc表示第a个超像素块的第b个凸边缘中第c个确定所述超像素块的圆形程度区分可信度，所述圆形程度区分;;预设阈值；将所述杂物可能性大于所述阈值的超像素块记为杂物超像获取所述金属粉末灰度图像中杂物超像素块与金属粉末超求1_9任一项所述的一种金属粉末中的杂4[0003]现有公开号为JP2010127702A的专利申请文件公开了绝缘树脂组合物中金属粉末[0004]上述方案虽然可以检测并辨别绝缘树脂中存在的最大长度为50μm以上的金属粉末异物，但是对于待处理对象的要求较高且未记载如何调整X射线照射角度以得到异物检5[0010]本发明考虑到金属粉末灰度图像中的背景区域在进行超像素分割时会和灰度值较低的杂物区域合并在一起，因此通过去除背景区域降低背景区域对杂物含量检测的影[0012]根据本发明提供的一种金属粉末中的杂物含量检测方法;块的第b个凸边缘中包含的像素点个数，Qabc表示第a个超像素块的第b个凸边缘中第c个边缘中像素点的曲率均值的差值作为第二差值，确定所述超像素块中凸边缘的曲率差异;Hab表示第a个超像素块的第b个凸边缘的圆弧度，Dab表示第a个超像素块的第b个凸边缘的曲率差异度。6;像素块的第b个凸边缘中包含的像素点个数，Qabc表示第a个超像素块的第b个凸边缘中表示绝对值符号。;式中，xa表示第a个超像素块的可信圆形程度，Ea表示第a个超像素块的圆形程;7[0024]通过参考附图阅读下文的详细描述，本发明示例性实施方式的上述以及其他目图4为本发明实施例提供的一种去除背景区域后的金属粉末灰度图像的超像素分明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，[0029]基于此，本发明实施例公开一种金属粉末中的杂物含量检测方法，请参见图1所8电子显微镜获取金属粉末的显微图像，对显微图像进行灰度化处理得到金属粉末灰度图于超像素块分割结果中存在将实际颗粒区域或杂物区域划分为多个相邻超像素块的情况，见图3所示，图3为本发明实施例提供的一种金属粉末灰度图像的超像素分割结果示意图。筛选个数L=3，将连通域包含像素点的数量大于经验筛选个数的黑色掩膜区域记为背景区9测经验阈值可以预设为TS=0.02。边缘凹陷检测经验阈值具体;式中，Ea表示第a个超像素块的圆形程度区分可信度，Ba表示第a个超像素块的凸边缘个数，kab表示第a个超像素块的第b个凸边缘中包含的像素点个数，Ja表示第a个可以基于凸边缘中各像素点的曲率得到凸边缘的;块的第b个凸边缘中包含的像素点个数，Qabc表示第a个超像素块的第b个凸边缘中第c个[0056]上式中，表示第a个超像素块的第b个凸边缘中像素点的曲率的曲率均值与像素点所处超像素块的所有凸边缘中像素点的曲率均值的差值作为第二差边缘的圆弧度和曲率差异度计算超像素块中凸边缘的圆形程度，圆形程度与圆弧度正相;像素块的第b个凸边缘中包含的像素点个数，Qabc表示第a个超像素块的第b个凸边缘中表示绝对值符号。越大，说明第a个超像素块的第b个凸边缘与第a个超像素块中其他凸边缘的曲率差距越;Hab表示第a个超像素块的第b个凸边缘的圆弧度，Dab表示第a个超像素块的第b个凸边缘的曲率差异度。[0065]上式中，(1-(1-Has)XDas)表示第a个超像素块的第b个凸边缘为标准圆低时，无法直接判断超像素块区域是存在重叠的金属粉末颗粒区域还是杂物不规则边缘，度区分可信度较低时，圆形程度取值应更接近0.5以减少存在重叠的金属粉末颗粒被;式中，xa表示第a个超像素块的可信圆形程度，Ea表示第a个超像素块的圆形程[0071]上式中，(1-E)x0.5表示凹边缘对可信圆形程度的贡献量，当圆形程度区分;像素块的可信圆形程度较高且灰度均值较高时，该超像素块更接近圆形且整体颜色偏白，次检测当前的金属粉末中的杂物含量时，若金属粉末中的杂物含量均值超过杂物含量阈性与超像素块的凸边缘的圆形程度负相关；通过超像素块的杂物可能性与阈值的比较结[0