CN119446243A 一种存储测试装置及测试方法 (合肥康芯威存储技术有限公司)_第1页
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文档简介

区宿松路3963号智能装备科技园D3栋本发明提供了一种存储测试装置及测试方为第一供电电流,并记录对闪存芯片的供电电2处理器,所述处理器通过多个通道与待测机电性连接,其中所述待工作链控制模块,用于配置并调用所述待测机的工作链,其中功耗计算模块,电性连接于多个所述待测机,在所述工作链到所述节点切换次数或所述温度切换次数大于等于所3获取多个待测机,并将多个待测机安装在所述存储测试装置配置并调用所述待测机的工作链,在所述工作链的每个节点根据所述第一供电电流和所述第二供电电流,以及对所述待测机的4温度控制模块,所述温度控制模块用于控制所述存储测试装置的放置环境温度;5第一供电端口的电流为所述第一供电电流,所述第二供电端口的电流为所述第二供电电6[0028]本发明提供的存储测试装置用于测试闪存存储器,且具体用于测试内嵌式存储源端口,并为处理器300、内存芯片400和插座700供电。其中,处理器300为中央处理器78唤醒待测机的步骤、对待测机进行短时间断电的步骤和对待测机进行长时间断电的步骤,9控制唤醒待测机的指令例如为再发送一次CMD5。控制待测机进行掉电的指令例如为CMD6。个待测机的第一功耗数据和第二功耗数据。处理器300读取各个待测机的第一功耗数据和

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