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第页GB/T32563-2016相控阵超声检测方法考试试卷及答案第一部分:单选题(共20题,每题5分,满分100分)1.GB/T32563-2016标准适用于哪类工件的相控阵超声检测?[单选题]*金属材料制承压设备(正确答案)非金属材料构件木质复合材料混凝土结构构件答案解析:

根据GB/T32563-2016标准的范围规定,本标准适用于金属材料制承压设备的相控阵超声检测。2.相控阵超声检测中,下列哪个参数用来描述换能器阵元中心间距的术语是?[单选题]*晶片间距阵元节距(正确答案)孔径间距晶元间隙答案解析:

GB/T32563-2016中定义,相控阵换能器相邻阵元中心之间的距离称为阵元节距。3.相控阵超声检测中,沿超声波传播方向缺陷定位的轴向分辨率不取决于下列哪个因素?[单选题]*晶片频率阵元数量(正确答案)脉冲宽度声束波长答案解析:

轴向分辨率主要由超声频率、脉冲宽度和波长决定,阵元数量主要影响声束偏转聚焦能力,不直接决定轴向分辨率。4.GB/T32563-2016规定,相控阵超声检测用的探头,入射点偏差应不大于多少?[单选题]*0.5mm1mm(正确答案)2mm5mm答案解析:

根据标准中探头性能校验要求,相控阵探头入射点偏差应不大于1mm。5.相控阵超声检测中,电子扫查指的是以下哪种扫查方式?[单选题]*探头沿工件表面机械移动的扫查不移动探头,通过切换激活阵元实现声束位置移动的扫查(正确答案)人工手持探头沿焊接方向移动的扫查设备带动探头整体沿工件轴向移动的扫查答案解析:

GB/T32563-2016中定义,电子扫查是不移动探头,通过依次激活不同的阵元组,使声束沿换能器阵列方向移动的扫查方式。6.GB/T32563-2016规定,检测前应对相控阵检测系统进行灵敏度校准,校准应使用什么试块?[单选题]*对比试块(正确答案)参考试块标准试块校准试块答案解析:

根据标准规定,检测灵敏度应采用与被检工件材质、声阻抗相近的对比试块进行校准。7.相控阵超声检测中,扇形扫查也被称为?[单选题]*线性扫查S扫查(正确答案)B扫查C扫查答案解析:

扇形扫查是通过改变声束偏转角实现一定角度范围的扫查,也称为S扫查。8.下列关于相控阵超声检测聚焦深度的描述,正确的是?[单选题]*聚焦深度越大,焦点处声束宽度越大(正确答案)聚焦深度越大,焦点处声束宽度越小聚焦深度与声束宽度无关聚焦深度越小,焦点处声束宽度越大答案解析:

相控阵超声检测中,聚焦深度越大,焦点处的声束宽度越大,聚焦能力越弱。9.GB/T32563-2016规定,当采用对接接头相控阵检测时,一次扫查覆盖范围应满足什么要求?[单选题]*覆盖整个焊缝截面,且至少超出焊缝每侧10mm(正确答案)仅覆盖焊缝熔合线即可,不需要超出焊缝边界覆盖整个焊缝截面,且至少超出焊缝每侧5mm覆盖焊缝母材区域,不需要覆盖焊缝余高答案解析:

根据标准中扫查范围的要求,对接接头相控阵检测一次扫查应覆盖整个焊缝截面,且每侧超出焊缝边界不少于10mm。10.相控阵超声检测中,声束偏转的原理是?[单选题]*通过控制不同阵元的激发延迟时间改变波前相位(正确答案)通过改变探头压力改变声束方向通过改变激励频率改变声束方向通过改变耦合剂厚度改变声束方向答案解析:

相控阵超声实现声束偏转和聚焦的核心原理是通过控制各阵元的激发延迟时间,改变合成波的波前相位,从而改变声束方向。11.GB/T32563-2016规定,检测灵敏度校准后,每隔多长时间需要复校一次灵敏度?[单选题]*不超过4小时(正确答案)不超过8小时不超过12小时不超过24小时答案解析:

根据标准要求,灵敏度校准后,每隔不超过4小时需要复校灵敏度,若灵敏度偏差超过允许范围,应重新校准。12.相控阵超声检测中,楔块的主要作用是?[单选题]*改变声束入射角度,实现波形转换,避免表面杂波(正确答案)固定探头,防止探头磨损,增加耦合效果吸收杂波,提高信噪比,降低检测灵敏度改变超声频率,缩小声束宽度,提高分辨率答案解析:

相控阵探头楔块的作用是将横波折射到工件内,改变声束入射角度,实现波形转换,同时避免探头直接接触工件产生表面杂波。13.GB/T32563-2016规定,相控阵检测系统的水平线性误差应不大于?[单选题]*1%2%(正确答案)5%10%答案解析:

根据标准中仪器性能要求,相控阵超声检测系统的水平线性误差应不大于2%。14.当相控阵检测厚壁工件时,一般采用哪种聚焦方式获得更好的检测效果?[单选题]*动态聚焦(正确答案)固定焦距聚焦无聚焦浅深度聚焦答案解析:

动态聚焦可以根据检测深度调整聚焦位置,在不同深度都能获得较好的聚焦效果,适合厚壁工件检测。15.下列哪种缺陷适合用相控阵扇形扫查进行检测?[单选题]*坡口未熔合(正确答案)表面划痕表面气孔板材分层答案解析:

焊接坡口未熔合通常处于不同角度位置,扇形扫查可以通过多角度声束覆盖,更容易检出这类取向不同的面状缺陷。16.GB/T32563-2016规定,缺陷定量时,测量缺陷长度应采用哪种方法?[单选题]*6dB法(正确答案)12dB法20dB法端点峰值法答案解析:

标准规定,缺陷长度测量一般采用6dB法,对于较短缺陷也可以采用端点峰值法,通用方法为6dB法。17.相控阵超声成像中,能够显示缺陷截面图像的扫查成像方式是?[单选题]*B扫查(正确答案)C扫查D扫查A扫查答案解析:

B扫查显示的是垂直于扫查方向的工件截面超声图像,可以直观显示缺陷在截面上的位置和形态。18.耦合剂的作用不包括下列哪一项?[单选题]*排除探头和工件之间的空气改善声能透射,减少声能损失降低探头磨损,润滑探头表面改变声束偏转角,提高偏转精度(正确答案)答案解析:

耦合剂的作用是排除空气、传递声能、润滑减少探头磨损,不会改变声束的偏转角度,声束偏转角由探头阵元延迟控制。19.GB/T32563-2016规定,下列哪种情况不需要重新进行系统灵敏度校准?[单选题]*更换不同型号探头后检测过程中灵敏度调整后,复校偏差超出范围时同一操作人员连续检测同一规格工件,检测时间未超过4小时时(正确答案)仪器更换不同检测通道后答案解析:

标准规定灵敏度每隔不超过4小时复校一次,未超过4小时且灵敏度无异常时不需要重新校准。20.根据GB/T32563-2016,检测报告中不需要包含下列哪项内容?[单选题]*被

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