无损检测 测量残余应力的X射线检测方法 第2部分：德拜环法

13.13.2的晶格应变εα1与cos“的线性关系计算表层应力的X射线衍射应力测量方法。3.3注：二维探测器包括成像板（IP）、光子计数探测器3.53.623.73.83.9无应变衍射角strain-freediffractionangleθ°“°德拜环方位角，德拜环上自顶点起沿顺时针方向的环向角度°德拜环方位角“对应的布拉格角ψ°衍射晶面法线倾角，即衍射晶面法线与试样表面法线之夹角ψ0°φ°衍射晶面法线方位角，衍射晶面法线在试样平面的投影与试样平面上某一指定方向之夹角°入射束方位角（又称测量方位角入射线在试样平面的投影与试样平面上某一指定方向之夹角°εα/德拜环方位角“对应的晶格应变{ℎkl}/晶面指数为(ℎkl)的晶面族εφψ/d0材料无应力状态的晶面间距εx,εy,εz/Yyz,Yzx,Yxy,/λL试样表面测量点至探测器中心的距离rα德拜环方位角“方向上的半径345r_2θ0.5.1.1平面应力分析_επ+α)+(ε__α_επ__α)]/2 _επ+α)_(ε__α_επ__α)]/2 注：采用多芯片拼接二维探测器时，四个方向的数据点应在统一探测平面坐标下取得，并应按附录B处理拼接边界6τxy——切应力，单位MPa；公式（11）表明εα1与cos“呈线性关系,公式（12）表明εα2与sin“呈线性关系。将公式(11)对cos“τxy=KK2M2···························M1——εα1和cos“线性拟合斜率，MM2——εα2和sin“线性拟合斜率，M5.1.2三维应力分析X射线测定的应力是X射线穿透深度内的加权平均应力，通786.1基本要求9注：对于特定材料与靶材，可以不去除Kβ辐——粗糙度Ra宜不大于10μm；同一“对应的“、“+π、-“和π-“四个方向均可可靠定峰，以及四方向应变计算和εα1-cos“拟合要求。注：任何打磨、抛光、喷砂、刮擦或磕碰均可能改变试样表层残余应力。经表面处理后的测量结果代表处理后表层9.1.1测量方案9.1.2参数设置9.1.2.1测量方向需要计算主应力和主方向时，应在试样表面至少选取三个方向的正应力进行测量；并按照GB/T9.1.2.3样品与探测器之间的距离。根据二维探测器的尺寸确定试样与探测器之9.1.2.4射线实际的照射位置和照射形状以及发散角。9.1.2.5德拜环方位角“应按预先确定的角度采样规则选取德拜环方位角“。用于拟合的εα1数据点应由有效四方向组构成，即同一“对应的“、“+π、-“和π-“b)每个有效四方向组的四个方向均应d)εα1-cos“曲线应通过原点的直线拟合9.2测量9.2.1预测量9.2.2开始测量9.2.2.1衍射强度曲线测量沿每个选定的德拜环方位角“的径向方向获取衍射强度与衍射角2θ的关系曲线，并按照GB/T9.2.2.2定峰方法应在每个德拜环方位角“的径向衍射强度曲线上确定衍射峰位2θα。衍射峰位可采用GB/T对每一个参与拟合的“，应取得“、“+π、-“和π-“四个方向的峰位。若某个方向因探测器边9.2.3应力计算g)在坐标系中分别绘制εα1-cosα和εα2-sin“曲线图，曲线均通过原点。j)应力结果（带正负符号并附ε__cos“和ε__sin“关系图；需要时应能提供原始数据；b)德拜环中心应