CN119492780A 一种红外成像绝缘子环氧树脂内部缺陷检测方法及系统 (贵州电网有限责任公司)_第1页
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一种红外成像绝缘子环氧树脂内部缺陷检本发明公开了一种红外成像绝缘子环氧树通过采用阵列式气泡缺陷布置和精确的模型构2获取气泡缺陷的个数,根据气泡缺陷的个数设置相同数量的所述卤素灯的亮度卤素灯采用综合亮度差标准方法,反射透射各选3环氧树脂模型的内部缺陷的影响因素包括不同缺陷深度同一缺陷直径的影响因素和不同所述不同缺陷深度同一缺陷直径的影响因素的判构建多组不同缺陷深度同一缺陷直径的环氧树脂判断所述不同缺陷直径同一缺陷深度的影响因素的判构建多组不同缺陷直径同一缺陷深度的环氧树脂判断环氧树脂模型的内部缺陷影响的影响因素还包括不同卤素灯开构建环氧树脂判断模型,并对环氧树脂判断模型进行计算不同卤素灯开启时长下缺陷点和非缺陷点的温度差ΔTL,设定时长差异阈值Δ4i和di+1之间。8.一种红外成像绝缘子环氧树脂内部缺陷检测所述信息判断模块用于对内部缺陷的影响因素进行判断,获得环氧树9.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存被处理器执行时实现权利要求1~7任一所述的红外成像绝缘子环氧树脂内部缺陷检测方5[0002]盆式绝缘子属于高压电力设备中非常核心的部件,主要[0008]第一方面,本发明实施例提供了一种红外成像绝缘子环氧树脂内部缺陷检测方67中:所述环氧树脂模型的内部缺陷影响的影响因素还包括不同卤素灯开启时长的影响因8i和di+1之间。[0064]第二方面,本发明实施例提供了一种红外成像绝缘子环氧树脂内部缺陷检测系9[0125]所述环氧树脂模型的内部缺陷的影响因素包括不同缺陷深度同一缺陷直径的影热激励功率设置为10000W/m2,激励时间为6s,系统地采集了第12s时不同缺陷深度下同缺陷深度设定,系统地研究了不同深度的气泡缺陷对环氧材料缺陷处表面温度的影响,趋势,缺陷点与非缺陷点温差减小表明气泡缺陷对表面温度的影响随深度的增加逐渐减与非缺陷点温差增大表明气泡缺陷对表面温度的影响随直径的增[0142]环氧树脂模型的内部缺陷影响的影响因素还包括不同卤素灯开启时长的影响因i和di+1之间;℃,非缺陷点背景温度为23.47℃,计算缺陷点与非缺陷点温差为0.21℃,本实施例中红外实现如上述实施例提出的实现红外成像绝缘子[0170]本实施例提出的存储介质与上述实施例提出的数据存储[0177]通过表2可以看出,实施例1在多个关键指标上都优于现有的多波长红外成像技漏检率降至2.5显著降低了检测中的遗漏风险,实施例1减少了复杂波长融合过程中的

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