《集成电路测试》课件 5-CD4511开短路测试实现流程_第1页
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项目3CD4511芯片测试添加标题项目3CD4511芯片测试二、CD4511开短路测试实现流程1．开短路测试实现方法CD4511芯片开短路测试方法，是在芯片的被测引脚加入适当的小电流，然后测试该引脚的电压。在向被测引脚施加−100uA电流进行开短路测试时，被测引脚的电压有以下3种不同情况。（1）引脚正常连接：电压在−1.2～−0.3V，大约在−0.6V左右，表示CD4511芯片为良品。（2）引脚出现短路：电压为0V，表示CD4511芯片内部电路有短路，通常是被测引脚与地之间有短路。（3）引脚出现开路：电压为无限小（负压），若钳位电压设置为4V，引脚出现开路时的电压为−4V，表示CD4511芯片内部电路有开路，通常是在被测引脚附近。这里主要测试CD4511芯片的输出引脚Ya⁓Yg是否存在对地短路或开路现象。任务9CD4511开短路测试程序设计添加标题二、CD4511开短路测试实现流程2．开短路测试流程图CD4511芯片的开短路测试流程如下：（1）对测试机的测试接口进行复位；（2）延时等待一段时间，通常延时10ms；（3）向被测引脚提供−100uA电流，并测量被测引脚的电压；（4）根据被测引脚电压，判断CD4511芯片是否为良品；（5）为防止上次参数测试留下的电量对下次造成影响，最后还需要适当延时，以提高测试的准确性；（6）打印（输出）CD4511开短路测试结果。任务9CD4511开短路测试程序设计添加标题二、CD4511开短路测试实现流程2．开短路测试流程图CD4511芯片的开短路测试流程图如右图所示：任务9CD4511开短路测试程序设计添加标题二、CD4511开短路测试实现流程3．开短路测试的测试机专用函数

在CD4511芯片开短路测试程序中，主要使用了_reset()、_wait()及_pmu_test_iv()等测

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