CN119510335A 一种ppg多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法 （深圳市埃伯瑞科技有限公司）_第1页
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道松坪山社区朗山路11号同方信息港一种PPG多通道光谱漫反射食物烘焙程度检本发明提供一种PPG多通道光谱漫反射食物光线照射在样品上能够反射回来的光线强度相2S1：选用多个单色光的光源或全波段光源以及S2：光线经过样品后产生发射，根据不同波长来进行判断；反射率是光线照射在样品上能够反射回来的光线强度相对于照射强度的比2.如权利要求1所述的一种PPG多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法，其特征在度，表示为x1,x2,x3,x4,x5，其中每个xi是3.如权利要求2所述的一种PPG多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法，其特征在4.如权利要求1至3中任意一项权利要求所述的一种PPG多通道光谱漫反射食物烘焙程5.如权利要求1至3中任意一项权利要求所述的一种PPG多通道光谱漫反射食物烘焙程3[0001]本发明涉及食物烘焙度检测方法技术领域，尤其涉及一种PPG多通道光谱漫反射传统的食物烘焙度检测采用连续性光谱检测，并采用单一的红外光源进行检测，波段的光谱强度，表示为x1,x2,x3,x4,x5，其4β=(XTX)_1XTy与现有技术相比，本发明一种PPG多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法通过在探测器就能得到比较强的信号，反之，探测器探测到反射率比较小的波长信号就较弱；[0012]图1是本发明一种PPG多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法的检测原理流程[0014]请参阅图1，本发明一种PPG多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法1包括以下5光谱强度，表示为x1,x2,x3,x4,x5，其中每个的光谱强度；agtron数值为y；所述多元线性回归模型则表示为y=β0+β1x1+β2x2+β3x3+β即实际agtron数值与通过模型预测的ag)_1XTy[0019]所述单色光的光源包括单色LED或激光光源；所述全波段光源包括多光谱的白光6[0022]这对于需要精确和准确的光学测量非常重要，尤其是在成像和光谱分析等应用[0023]采集到的光谱信号往往需要IV放大器或者数字型模拟前端将其转换成电压信号使用多元线性回归的方法来计算agtron的数值，假设你有五个波段的光谱强度，7在探测器就能得到比较强的信

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