CN119511050A 一种二极管芯片光电性能测试装置及使用方法 (济南兰星电子有限公司)_第1页
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文档简介

一种二极管芯片光电性能测试装置及使用为一种二极管芯片光电性能测试装置及使用方对芯片的插针进行牵引,使插针主动进入定位2可受压弯折的弹片(4411所述弹片(4411)的顶部转动连接在缺口(4410)内,且弹片4.根据权利要求2所述的一种二极管芯片光电性能测试装置,其特征在于:所述顶针5.根据权利要求2所述的一种二极管芯片光电性能测试装置,其特征在于:所述滑座6.根据权利要求3所述的一种二极管芯片光电性能测试装置,其特征在于:所述滑槽38.一种二极管芯片光电性能测试装置的使用方法,使用如权利要求1_7任一项所述的45[0013]所述滑座表面相对连接脚的一侧开设有缺口,且缺口内设置有可受压弯折的弹6[0030]请参阅图1至图11,本发明提供一种技术方案:一种二极管芯片光电性能测试装7[0037]旋柱445的上下两端均开设有螺旋状的斜边448,滑槽441的内底壁及内顶壁上均上侧顶针449则沿上侧斜边448推动旋柱445及齿槽446复位,使得滑座442再次下移时能够槽441内,连接脚3上开设有供弹片4411穿过的通槽4412,滑座442下移过程中,挤压弹片[0043]嵌块44135的侧表面开设有与限位条44137相配合的弧形斜槽441310,抵块4413989

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