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容值差值大于第一分辨率时将锁存的历史电容电容值差值大于第二分辨率时输出表示电容变2述电容值差值大于第一分辨率时将锁存的所述历史电容时钟信号更新为所述实时电容时3所述第一分辨率进行求和得到第一求和结果，在所述第一求和结果的最高位为1时将锁存二分辨率进行求和得到第二求和结果，在所述第二求和结果的最高位为1时将常态输出表示电容无变化的指示信号翻转为表示电容变化的指示4对所述芯片引脚电容充放电并将所述芯片引脚电容的电容值转化为电容第一源极和第二源极分别连接所述差分比较器的第一漏极和第二漏极；二级运算放大电5较器的共源端，所述迟滞电阻的两端还分别连接第一开关管的漏极以及第二开关管的漏锁存计数结果处理得到所述实时电容时钟信号与所述历史电容时钟信号电容时钟信号在所述标准时钟信号处于低电平期间的周期个数作为所述实与其他每一位的值依次同或运算输出得到所和结果，在所述第一求和结果的最高位为1时将锁存的所述历史电容时钟信号更新为所述实时电容时钟信号，以及将所述电容值差值与所述第二分辨率进行求和得到第二求和结果，在所述第二求和结果的最高位为1时将常态输出表示电容无变化的指示信号翻转输出述电容检测系统控制所述电容采样模块将所述芯片引脚电容的电容值转化为电容时钟信锁存计数结果处理得到所述实时电容时钟信号与所述历史电容时钟信号6[0022]本实施例中的电容采样模块1和主控模块3可以集成在一块单独的电容检测芯片7对芯片引脚电容充放电并将芯片引脚电容的电容值转化为电容接第一反相器的输出端接收CLK_cap_n信号，Q3的栅极连接第二反相器的输出端接收CLK_8。锁存计数结果处理得到实时电容时钟信号与历史电容时钟信号的1时将常态输出表示电容无变化的指示信号翻转输出表示电容变化的号在标准时钟信号处于低电平期间的周期个数作为实时9频计数（模块内对电容时钟信号进行14次分频其本质为计算标准时钟信号的低电平为1154（十进制，过程为23.4/20.66*1018≈1153.74向上取整后为1154转化为取反过程为16383_1154=15229（十进制16383为14次分频结果14位二进制的最大值，即邻低位进位全加求和结果为100000000100101（二进制随后将全加求和结果中的最高00000C140C14C13C12C11C10C9C8（二进制第二分辨率为的值0011高位结果为1表示电容值差值大于第一分辨率，在第一求和结果的最高位为1时将锁存的历史电容时钟信号更新为实时电容时钟信号，具体情况如表1所示，由表1可以看到当两最小分辨率为1/128。1186步骤S1，电容检测系统控制电容采样模块将芯片引脚电容的电容值转化为电容时钟信号；时电容时钟信号时，计算实时电容时钟信号与锁存的历史电容时钟信号之间的电容值差数结果处理得到实时电容时钟信号与历史电容时钟信号

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