x荧光分析仪资料解析

1、NITON-XLtWZ 便携式XRF分析仪 强化培训课程,分析仪的技术原理 安全使用X射线仪器 样品的准备 标准的测试步骤 检测结果的理解 实验报告的编写,一、分析仪的技术原理,Radio Waves,Infrared,X-rays,Ultra-violet,Gamma rays,Energy Spectrum, keV,XRF Spectrometers,Optical Emission Spectrometers,The Energy Spectrum,Visible light,1,10,100,Lambda Angstrom = 12.4/ Energy keV,Wavelength,

2、 A,1.24,12.4,0.124,在样品中激发产生特征X-射线,XRF：X-Ray Fluorescence X射线荧光分析 当原子核的内层电子（如K层）受到外来X射线的照射时，会吸收能量而被激发； K层的外层相邻电子层（L层）会马上跃迁补充至K层。由于L层电子能量高于K层，多余的能量便以特征X-射线发散出来。称为亚X射线，又称为荧光。 每种原子的电子在跃迁时都以特征X-射线放射能量，根据此X-射线的特征和强度，就可进行定性和定量分析。,XRF 分 析 技 术,仪 器 内 部 结 构,XRF分析技术,1 从外部发出射线照射样品 2 使得样品原子中的电子逃逸并发射特征X-射线 3 仪器中的X

3、-射线探测器将特征X-射线转化为电子脉冲 4 从探测器产生的信号被放大并传输至微处理器以进行计数和运算 5 元素的强度数据被转化为含量数值；结果被储存 6 数据显示于操作屏幕 7 检测结果被存储在仪器内存中以便日后查看或者下载至电脑,二、安全使用X射线仪器,辐射种类以及危害 NITON公司XRF分析仪的安全性 如何安全使用仪器,核辐射的危害,核辐射的种类：中子 辐射无色无味，人类器官不能感知其存在！ 慢性照射在长时间内断断续续的暴露在低水平剂量的辐射环境下。慢性照射产生的 作用，只有在照射后的一段时间后，才可能被察觉。 急性照射是在很短的时间内受到大剂量的照射。在大多数情况下，大剂量的急性受照

4、能引起立即损伤，并产生慢性损伤。,仪器的安全性,仪器不通电、通电后非测试状态时完全没有辐射 仪器校正时在测试窗口辐射量低于0.3uSv/hr X射线光管启动时、窗口挡板打开时窗口正前方100 cm 处辐射量0. 028mSv/hr。 手握仪器把柄时扳机处辐射量是0.9uSv/hr。即要连续使用55555小时2314天6.4年，才会得到50 mSv的辐射 1mm的铁片即可屏蔽此仪器的X射线,如何正确使用仪器？,手握仪器测试时检测窗口朝外 使用数据线或者蓝牙远程遥控 使用台式测试架（可确保无任何辐射泄漏） 无测试架则要距离仪器12米，检测窗口不朝人,根据样品的材质分类： 金属材质(Metal Ma

5、terial)合金模式 聚合物材质(polymer material)塑料模式 电子零件及材料(PWB or Components)塑料模式 金属类：金属板材，支架等 聚合物类：塑料，泡沫，橡胶，海绵等 电子元器件类：线路板，电阻，电容等 其他类：涂料，颜料，绝缘漆，玻璃，陶瓷，胶木，墨水等,三 样品的准备,（一）均质样品的含义,Homogenous material：指不能通过机械方法分解成不同物质的物质，称之为均质物质。 样品全部为某一成分组成. 例如，由单一成分组成的塑胶、陶瓷、玻璃、金属、合金、纸张、木板、树脂、油漆。 “机械方法分解”指物质通过物理方法进行分解：例如拧开、切断、压碎、

6、研磨、刮削等等。,Sn = 88 Pb = 235 Zn = 57 Ti = 4%,Br = 46,Sn = 135 Zn = 167 Ti = 3.3%,Br = 265 Cd = 35 Pb = 50 Ti = 1.8%,Sn = 2300 Fe = 620 Zn = 4750 Ti = 0.42%,某些情况下，也可不分拆样品, 直接对电子零配件 （Component level 组件）最小单位的电子元器件，即通过常规工具可以分拆,但未损坏其功能的最小单元。 实例： 电子元器件部件如：印刷电路板；电阻；电容器；二极管；集成电路 机电部件如：接插件，电缆绝缘体 机械部件如：螺钉；经过表面处理

7、的或涂层的外罩或内室；键（键盘中）；具有饰纹或涂层的玻璃；玻璃陶瓷件等,（二） 不分拆的非均质样品,简单分拆后的样品应该如何评价均质材料,A) 大表面积样品（应用于所有样品）： 针对XRF而言，判定测试材料的均匀度主要来自于视觉和一些有效的辅助信息。例如，样品在颜色、形状和形态上均表现的很均匀，则基本上该样品是均匀度很高，从而分析前无需再进行机械破坏处理。 典型实例如比较大的，延展过的塑料件，比如，CRT 监控箱，塑料壳，厚的传送带，金属合金等等。 测试样品的附加信息必须能够确证其均匀度。例如，许多塑料箱和金属外壳有油漆，甚至在塑料外壳内侧还敷有金属，这种情况下，测试就需要在没有油漆和没有内敷

8、金属的片断处进行，从而需要对样品进行部分的分解，但不是破坏。 金属件可能会被镀上另一种金属，如镀锌，镀镉，镀铬。这些可以通过相对比较高的镀层金属度数鉴别出来，铬有点例外，因为一般铬的镀层都很薄。当您要分析基托材料时，必须将所有的镀层都刮除，再进行检测。,简单分拆后的样品应该如何评价均质材料,B) 小面积样品： 小型电子元件同样需要处理均匀，仪器分析时可以照射分析选定的小型电子元件的片段。选定的样品片段必须看上去比较均匀，例如塑料包装、独立的焊接铅以及分离出来的聚合物等。当分析基托材料时，需要特别注意金属涂层，聚合物涂层的影响。必要时，必须机械去除涂层再进行检测。,简单分拆后的样品应该如何评价均

9、质材料,C) 涂层和薄的样品： 塑料样品和轻金属（如铝，镁或钛）必须达到5mm厚度；液体样品必须达到15mm厚度；其他金属达到1mm即可。 太小太薄的样品经常不能满足最小样品厚度和质量的检测条件。这种情况下，就必须采取一定的方法: 可将一定数量的同样的小样品放入检测杯内，再进行检测。 薄的同一样品可以叠加起来达到规定的最小检测厚度之后再进行检测。并且所有的样品同时必须完全覆盖检测窗口。 细电线和丝带电缆上的绝缘体不能够直接当作均匀体，而必须首先分离出金属线再检测。 大多数的电源线的直径远远超过5mm，就可以直接检测绝缘体材料。 电源线中的金属线必须在剥离后机械进行检测 。,四 样品的测试步骤,

10、（一）合金样品的测试,合金分析模式测试时间3060秒、对样品的面积、厚薄无要求 1、超小样品（最大不超过2 毫米x4毫米） 将样品叠放于标准X射线样品杯中。由于金属样品密度很高，所以不需 要叠加到更大的厚度。 2、 较大样品 选取较大及平整的样品表面（比如焊料棒/圈）进行检测。 3、 合金的几大豁免条款： 合金中允许添加Pb量：钢合金0.35，铝合金0.4，铜合金4 不锈钢中的Cr,塑料分析模式测试时间120200秒；样品须完全覆盖检 测窗口、厚度大于5mm 1、超小样品（最大不超过24mm） 将晶体管或电阻放在样品杯中进行叠放，叠放的厚度至少为5mm。 如果样品是嵌在塑胶带里，应将其剥离并取

11、出放入样品杯中再进行检测。 2、较大样品 在XLt797分析仪上放置一两个样品（例如集成电路块），以便完全覆盖分 析窗口（放置样品的具体数量由集成电路（IC）的尺寸决定）。 3、电缆和导线的绝缘层 剥下电缆和导线的绝缘外皮，并将它们放置在盖有聚酯薄膜的X射线样品杯 中进行检测。,（二）塑料样品的测试,小提示,有些情况下，当某些粗电缆的PVC绝缘外皮足够厚从而能够阻挡铜芯发出的X射线干扰时，我们也可以直接对其进行检测（但这对银芯或锡芯电缆并不适用）。 在具体操作过程中，建议用户先将直接检测电缆（不破坏）与检测剥离下来的绝缘外皮得出的两组数据进行比较，以确认该类样品的最佳处理方式。,精确分析时的样

12、品前处理,手工碎板：用剪刀将剪至不大于21010 cm3，对于电气零件，其尺寸不得大于 4x4cm2，塑料材料的样板其尺寸不得大于5x5mm2。 粗磨：将样板碎至直径1mm左右。如有需要，可用液氮预冷冻样板。对于不含金属成分的有机物样板，建议使用低温研磨机。 混匀：粗磨后样板在进一步磨碎前，需用搅拌器搅拌均匀，搅拌时间约为45分钟。 压成实心塑料块,精确分析时使用样品杯,当样品厚度超过5mm时，检测结果将趋于稳定,（三）混合型样品的测试,电路板部件：大型电容器的引脚或主体部分可以使用合金分析模式进行检测，而绝缘外皮（下图中的蓝色封装材料）应当在剥除后，用塑料分析模式检测。如果只是需要对RoSH

13、指令所禁止的元素进行筛检，用户可以使用塑料分析模式检测全部元件并判断相关元素浓度是否超标，从而实现以无损检测的方式拒绝不达标的部件。,样品的测试要点总结,在不要求手持检测的情况下，建议用户使用台式测试架以及电脑和NDTr软件遥控XRF分析仪，这样能使操作更简便、安全、重复性更高。 任何样品都应与检测窗口直接接触。（同时也需要保护好检测窗口的塑料薄膜，绝对不允许被任何物件刺破而掉入仪器内） 在筛检样品时，对大多金属样品而言，建议的分析时间为30秒，而对于密度较低的样品（比如聚合物），我们建议对其检测120秒。如果被分析元素（比如Cd和Pb)的浓度低于200ppm那么分析时间应当延长到200秒，以

14、获取更精确的分析数据。,为了确认分析结果，用户最好应至少每2小时重复一次校准步骤(Calibrate Detector)以及标准品测试 ，并在检测任务完全结束之前重复这一步骤。如果公司内部的质量保证/质量控制（QA/QC）程序比上述所述的要求更加严格，那么应该按照相应QA/QC的程序进行操作。 用户可以按照公司现行的质量保证/质量控制（QA/QC）程序对本操作程序作出调整或整合，但不能背离NITON在此正式推荐的要点，除非在和NITON LLC进行商议并获核准之后。,XRF检测结果： 合格（Pass） 超标（Fail）“*” 可疑件（Inconclusive）“？” 由于电子产品的多样性和复杂

15、性，以及业内人士的经验，我们建议最终用户在使用XRF分析仪时，根据自身的实际情况来设定合格区、超标区和可疑区。,五、检测结果的理解,RoHS指令,欧盟第2002/95/EC号指令Restriction of Hazardous Substances,简称 “RoHS”，自2003年2月13日起成为欧盟范围内的正式法律 ，自2006年7 月1日起，所有在欧盟市场上出售的电子电气设备中 镉(Cd) 100ppm 铅(Pb) 1000ppm 汞(Hg) 1000ppm 六价铬(Cr6+) 1000ppm 聚溴联苯(PBB) Pb 700 ppm,Cr 700 ppm,待测样品 (e.g. PC Bo

16、ard, Housing, Display),Screening with EDXRF,RoHS Compliant “Pass”,Br 300 ppm Cr, Hg, Pb Hg 700 ppm,Methods: EPA 3060A, 7196A Diphenylcarbazide,Methods: ED-XRF, AAS,Methods: ED-XRF, ICP-AES,130 Cd 70 ppm,Methods: ED-XRF, ICP-AES,PBB/PBDE,Cr+6,Hg,Pb,Cd,Hg, Pb 1300ppm Cd 130 ppm,RoHS NonCompliant “Fail

17、”,Inconclusive,KEY IR = Infrared Spectroscopy HPLC = High Performance Liquid Chromatography AAS = Atomic Absorption Spectroscopy EDXRF Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Spectroscopy ICP-AES = Inductive Coupled Plasma Atomic Emission Spectroscopy,ASTM F963-96a,EN71-3,Pb含量约为 1200 mg/kg,检测数据的光谱图,附：如何查看、比较数据的光谱图,双击数据,得到一个光谱图1450，蓝色,最小化此窗口，再双击其他数据，可以得到重叠的三个光谱图。,如图所示，单击选项“X-ray Line List”,出现此栏后，找到“Cd”，单击，在光谱图上会出现“CdKa”和“CdKb”,（1）将鼠标移动到“Cdka”左边一点点，按下左键，不要松开拉到“CdKb”右边一点点，放开就看到一个黑色的被选择区域。,（2）找到“fit”键，单击。,放大后的CdKa和CdKb区域波峰较小，不方便观察，则可将鼠标放在CdKa线附近，按下键盘上的“”键将光谱图放大到所需程度即可。,金属元素参考峰(IEC