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文档简介
1、去胶工艺培训材料,去胶工艺简介,目前线上采用多种方式的去胶工艺 溶剂去胶:主要用于金属之后的去胶,如:SST,WCAKR01;WCDNS01。 氧化去胶:H2SO4/H2O2=10:1去胶、SC1(NH4OH/H2O2)去胶 干法去胶:有等离子去胶、紫外光分解法去胶等, 目前我们在用的干法去胶工艺主要采用Gasonic Aura 1000 /3510/IPC21011等离子体去胶,CSMC去胶工艺模块,A1000/3510干法去胶工艺,A1000/3510干法去胶工艺简介,Aura1000/3510干法去胶设备为一种等离子下游式去胶,其去胶方式可以更小地减少对硅片的等离子损伤,去胶使用气体主要
2、为O2,与光刻胶中的C反应生成CO,去胶温度一般为150-250。 O2在低压反应室中由于受到高频电场的作用,被激发成游离态氧原子O*,并发生反应: O2 O*+ O*;CXHY+ O* CO2 +H2O N2 的作用是阻止离化后的O*再次结合为O2以及增强离子轰击。,A1000设备结构原理图,3510设备结构原理图,A1000/3510设备基本参数,A1000/3510工艺原理,当反应气体进入PLASMA TUBE,流经PRE-FIRE SPARKER或UV时,SPARKER产生高压火花或UV激发气体,打破部分O2分子的分子键,并增强气体分子的能量,然后进入由磁电管产生1000W,2.45G
3、Hz的微波的PLASMA TUBE,进一步促使O2分子分解成游离基O1,O1是极不稳定的,具有很强的活性,与光刻胶中的主要成分C结合形成CO、CO2,由泵抽出工艺腔。,PLASMA的形成,工艺温度的控制:温度是影响去胶时间唯一一个也是最为重要的因素。温度越高去胶速率就越快。,1.A1000的工艺温度控制: A1000设备是通过3盏卤素灯(LAMP1 1000W/120V,LAMP2 250W/120V,LAMP3 1000W/120V)来加热的,其中LAMP1、LAMP3为高温灯,一般设定工作时间为10-15秒,LAMP2为低温灯,一般设定为工艺时间。 三盏卤素灯都打开可以很快的加热圆片,一般
4、10-13秒就能使圆片的温度达到200。 在工艺腔进行去胶工艺时,一般圆片被加热至250左右。 2.3510的温度:主要靠热板(一般设定为250)来预热圆片,为了增加去胶速率,圆片顶部的灯也开出一定的灯的强度,但灯的强度越大则腐蚀均匀性越差。,A1000的工艺过程简介,圆片传至工艺腔,门关上; 3盏卤素灯开始工作; 打开SOFT VALVE,腔体抽真空至10MT; 打开MAIN VALVE、THROTTLE VALVE,腔体抽至2MT; 压力达到2MT,开始通工艺气体(N2&O2); 系统检测参数,火花塞点火,加RF功率,开始去胶工艺; 关闭LAMP1&3 ,LAMP2继续工作; 到达设定工艺
5、时间,去胶工艺结束; LAMP2、RF功率、火花塞停止工作; 腔体充气至大气状态,圆片传至下料腔;,3510的工艺过程简介,圆片传至工艺腔,门关上; PIN把圆片放到热板上(大剂量注入后圆片去胶STEP1无须放到热板上); 打开SOFT VALVE,腔体抽真空至10MT; 打开MAIN VALVE、THROTTLE VALVE,腔体抽至2MT; 压力达到2MT,开始通工艺气体(N2&O2),如预设灯照,则灯打开。 系统检测参数,UV激发工艺气体,加RF功率,开始去胶工艺;灯到设定的时间后关闭。 到达设定工艺时间,去胶工艺结束; 腔体充气至大气状态,圆片传至冷却腔,冷却完毕下料到片架中。,其他及
6、其注意事项,为了保持A1000的工艺稳定,通常采用复合式菜单,如菜单BC、DE,即在进行去胶工艺之前,运行一个程序B、D,过程中打开卤素灯进行加热,并且通入工艺气体。采用复合程序去胶能增强去胶能力。但设备允许最多连续依次运行3个程序。 采用复合菜单可以大大缩短去胶工艺时间,A1000实验数据1(速率随工艺时间变化的关系),Recipe:A 4.5O2/0.5N2/RF on/2.5T/lamp(13-x-13),目前我们的速率监控时间,A1000实验数据2 (去胶能力随工艺时间变化的关系),Recipe:BC B:4.5O2/0.5N2/RF off/2.5T/lamp(9-15-9) C:4
7、.5O2/0.5N2/RF on/2.5T/lamp(9-x-9),A1000实验数据3 (去胶能力随灯照时间的变化关系),A1000第一片效应,A1000速率有波动,但基本是自第三片开始趋于稳定。,ICP2101去胶,ER21011是批处理干法去胶设备,属于圆筒型等离子腐蚀机 ,,IPC2101的速率情况,2个舟上圆片速率趋势图,氧化去胶-H2SO4/H2O2工艺,该去胶工艺主要是利用H2SO4/H2O2的强氧化性,将胶中的主要成分C、H氧化形成CO2和H2O,从而达到去胶的目的。,药液配比: H2SO4:H2O2=10:1(体积比); TEMPERATURE:120+/-10; PROCE
8、SS TIME:10MIN; WATER FLOW:5 CYCLES(QDR)/12MIN;,注意事项,H2SO4/H2O2去胶工艺不适用于AL后去胶; 进行去胶工艺前朝工艺槽补充200ML的H2O2(系统自动完成)或定期补充定量的H2O2; 换液周期:24Hours/30RUN;,氧化去胶工艺-SC1工艺,其主要作用是去除少量有机沾污和颗粒。缺点是可能会引起圆片表面的金属沾污和增加表面的微粗糙度。通过降低NH4OH的浓度可以限制圆片表面的腐蚀从而降低表面的微粗糙度,降低NH4OH和H2O2的浓度还可以提高对于颗粒的去除效果。 目前,该去胶工艺主要用于SDG、POLY及SD注入后的去胶清洗(即
9、干法去胶后去表面的胶丝或POLYMER清洗)。,SC-1液中的H2O2具有很强的氧化性,可以把有机物和无机物等杂质氧化成高价离子和氧化物而清除。氨水是充当络合剂的作用,与杂质离子形成络合物溶于水中被清除。,SC-1去胶机理:,SC-1由易分解的H2O2和易挥发的NH4OH组成,稳定性差,常温下贮存时的分解速率如下图所示,随着温度的增加,半衰期急剧缩短。,SC-1 BATHLIFE,药液配比: NH4OH:H2O2:H2O1:1:5或1:2:10(体积比) PROCESS TEMP:75+-5 或50+-5 ; PROCESS TIME=1.5MIN或10MIN; WATER FLOW:7 CY
10、CLES(QDR),注意事项,由于NH4OH易挥发、H2O2易分解,因此,该药液的BATH-LIFE时间较短,目前,规定换液2小时(1:1:6,75+-5 )或12小时(1:2:10,50+-5 )内有效; AL后的圆片不能使用该工艺去胶。,溶剂去胶,溶剂去胶主要是利用在溶剂中使聚合物溶胀并分解,溶于该溶剂,从而达到去胶的目的。 CSMC-HJ的溶剂去胶设备主要是SST,WCDNS01、WCAKR01。该工艺用于AL后层次的去胶及刻蚀后POLYMER清洗。,SOLVENTS:EKC270、IPA; PROCESS TEMP: 70+/-5(EKC)、室温(IPA) WATER FLOW: SPIN (WI
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