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文档简介

背散射电子衍射 Electron Back-Scatter(ed) Diffraction（EBSD）,朱强,背散射电子衍射技术,基于扫描电镜（SEM）中电子束在倾斜样品表面激发出并形成的衍射菊池带的分析从而确定晶体结构、取向及相关信息的方法。 EBSD改变了以往织构分析的方法（X-ray衍射仪法）,并形成了全新的科学领域,称为“显微织构”将显微组织和晶体学分析相结合,背散射电子衍射仪结构图,样品（倾斜 70）; (CCD) 录像相机; SEM控制部件、接口; 控制 EBSD 实验的计算机及软件.,背散射电子衍射原理,背散射电子衍射花样的采集与标定,菊池带的自动识别原理,手工：繁重 自动识别问题：有效的定出程度较弱的菊池带Hough变换（霍夫变换） Hough变换：原始菊池花样上的一个点（XiYi）按 变成Hough空间的一条正选弦曲线，原始图中同一条直线上的不同点在Hough空间相交于同一点，原始图上的一条直线对应Hough空间一个点，菊池带的强度大幅度提高。一条菊池带变换后为一对最亮和最暗的点，间距为菊池带的宽度p。计算机按前5条最强的菊池带位置，夹角定出晶面指数和晶带轴指数并计算出取向。,背散射电子衍射的应用,织构分析； 晶粒间取向差分析

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