TFT模组培训.ppt

1、模组不良简介,PI team 2008-01-16,液晶模组结构简介 1.模组不良简介 2.不良命名(Defect code)相关,LCDLiquid Crystal Display 液晶显示器 TFT-LCDThin Film Transistor LCD 薄膜晶体管液晶显示器 由于TFT-LCD具有体积小、重量轻、低辐射、低耗电量、全彩色化等优点，因此在各类显示器上得到了广泛的应用,基本概念,TFT-LCD基本结构,背光板模組:提供光的來源. 上下偏光板，TFT Glass Substrate，液晶：形成偏振光，控制光线的通过与否。 彩色滤色膜：提供TFT LCD紅，綠，藍(光的三原色)的

2、來源。 ITO透明导电层：提供透明的导电通路。 Spacer：提供一固定高度給彩色滤光片和TFT Glass Substrate, 控制盒厚，作为灌入液晶時的空間及作为上下两层Glass的支撑。,组件介绍,Array 制程与半导体制程相似，但不同的是将薄膜晶体管制作在玻璃基底上而非晶圆上； Cell 制程是将前段Array基板与彩色滤光片的玻璃基板贴合，并在两片玻璃基板间滴入液晶(LC) ； 模组组装制程是将Cell制程后的面板与其它如背光单元、电路、外框等多种零组件组装的过程。,TFT-LCD制程,Color Filter Fabrication Process TFT Array Proc

3、ess Liquid Crystal Cell Process Module Assembly Process,Cell 制程,PI前清洗,CF,TFT,PI涂布,预考,固考,配向,PI Line,Rubbing Line,Rubbing后清洗,UV照射,框胶,点胶,Seal Oven,液晶滴下,CF,TFT,ODF Line,衬垫料,贴合,一次切割（自动）,二次切割（手动）,Edge Grind,Cleaner,POL Attach,CELL,CF,TFT,背光源及结构,Cell工程,Module工程,TFT工程,TFT-LCD不良分析,1.模组不良,不良的种类 电学性不良(ELECTRIC

4、AL DEFECT) 外观性不良(APPEARANCE DEFECT) 目视性不良(VISUAL DEFECT),Pixel(亮点、暗点、连续,间距 ) Line Defect (Y-向亮线，X-向亮线,X薄亮线,Y薄暗线) OPEN (DATA OPEN ,GATE OPEN,COMMON OPEN ) SHORT (DGS,GGS,DDS ) ESD(DATA ESD,GATE ESD) 其他,1.1电学性不良,现象：暗画面下以像素为单位的亮点；白画面下R，G，B下对应的像素暗点.分为个数、连续和间距三种类型. VIEW ANGLE：正视 产生原因：Array不良（Gate、S/D、Act

5、ive、ITO等）和Cell内异物、Scratch等造成.,Pixel类,暗点,暗点3连续,亮点,亮点4连续,亮点一个 暗点一个 亮点间距 亮点四连续,现象：X向或Y向亮线. VIEW ANGLE：正视 产生原因：Pad部Line间Open或Short；Array Metal Remain，Cell内金属异物、C/F突起引起上下间short、Common Short.,Line Defect类,Y向L/D,X向L/D,X亮线 Y亮线,现象：浅灰色亮或暗线，灰度不均，有的部分很不明显. VIEW ANGLE：正视 产生原因：ESD造成Data和Repair Line短接或者在Repair工序对D

6、O没有维修成功也可能造成弱线.,Line Defect类,Y向,X向,X薄亮线 Y薄暗线,现象：Data线从中间断开. VIEW ANGLE：正视 产生原因：Chemical Attack、Array Photo工程的PR原形Open，其他P/T及Scratch等造成.,OPEN类,DATA OPEN,现象：Gate线从中间断开. VIEW ANGLE：正视 产生原因：Chemical Attack、Array Photo工程的PR原形Open，其他P/T及Scratch等造成.,OPEN类,GATE OPEN,现象：Data和Gate cross状亮.线，交叉部分可见异物 VIEW ANGL

7、E：正视 产生原因：Short处的金属Remain或导电P/T造成.,SHORT 类,DATA GATE SHORT,现象：一般为Gate向相邻的一条亮线和一条暗线. VIEW ANGLE：正视 产生原因：Pad部或Fan-Out部Scratch、P/T及Array Remain引起Pad间Short.,SHORT 类,GATE GATE SHORT,现象：一般为Data向相邻的一条亮线和一条暗线. VIEW ANGLE：正视 产生原因：Pad部或Fan-Out部Scratch、P/T及Array Remain引起Pad间Short.,SHORT 类,DATE DATE SHORT,现象：主要

8、为Gate或Data Pad处发生白色或黑色楔形连续亮点，部分ESD也可能会造成Line Defect；对Vgh和Vgl调定敏感. VIEW ANGLE：正视 产生原因：工程中的TFT器件发生静电击穿，多发于Pad部.合理设置IONIZER及设备接地，减少人手触摸Pad部可减小ESD的发生机率.,ESD类,GATE ESD DATA ESD,GATE ESD,DATA ESD,崩边 崩角 CRACK 外观其他,1.2外观不良,现象：Pad 部发生破损 VIEW ANGLE：正视 产生原因：碰撞或者装置故障,压力不适.,崩边,Gate部,Data部,崩边,现象：Align 十字Mark等处破损.

9、 VIEW ANGLE：正视 产生原因：搬送过程中装置异常造成.,Align#1,Align#2,Align#3,崩角,崩角,现象：Pad或是显示区均有可能发生Crack； 产生原因：搬送装置有问题,受重压,基台突起等.,CRACK 类,TFT and CF 大裂纹,3.3 目视性不良,各种Mura(周边，垂直/水平线，Rubbing，Block，未确认等) GAP类(黑Gap,白Gap ) SPOT类(黑点,白点) Particle类(线性, 圆形, 其他） Scratch (TFT, CF, Cell内，Touch) C/F不良(BM盲失，Pixel盲失，色Mura，C/F P/T) Za

10、ratsuki (Align, P/T, Domain，etc) Bubble (Large, Small, 其他) Seal leak ETC (BNU, Contact Miss, 过充满，未充进) 偏光片不良(气泡,异物,划伤,水纹),Mura 类不良,现象：Panel 边缘泛白，灰画面 下视认性强. VIEW ANGLE：正视 产生原因：周边部Gap异常.,周围Mura,左右Mura,上下Mura,Mura 类不良,现象：在中间灰度下，Gap部分的颜色与其他位置处相比较黑或较白；指压后产生水波纹现象. VIEW ANGLE：正视 产生原因：Panel受到挤压后Cell Gap异常， G

11、ap变厚产生白Gap，变窄产生黑Gap；也有部分Gap由异物引起，Gap中心可见异物性亮点.,黑Gap，白Gap,Mura 类不良,现象：白色带状. VIEW ANGLE：正视 产生原因：前段滚轮等设备挤压造成，灰画面下易检。,垂直白BLOCK Mura 水平白BLOCK Mura,Mura 类不良,现象：白色带状. VIEW ANGLE：正视 产生原因：前段滚轮等设备挤压造成，灰画面下易检。,垂直白线 Mura 水平白线 Mura,Mura 类不良_LINE,现象：Panel右侧黑色的条状不良，通常伴有白条状的周边Mura发生. VIEW ANGLE：正视 产生原因：Rubbing工程时，T

12、BA（预倾角)在Glass的边缘比内部低，所以造成L/C分子旋转不完全.,垂直黑线 Mura,Mura 类不良-RUBBING,现象：Rubbing角方向的线组，以一定间隔发生. VIEW ANGLE：正视 产生原因：Rubbing cloth上有P/T.,Rubbing 单,Mura 类不良_RUBBING 类,现象：Rubbing方向的线组，以一定间隔发生. VIEW ANGLE：正视 产生原因：Rubbing cloth上有P/T.,Rubbing Mura 双,黑点，白点,现象：黑色或白色的小斑点，多为圆形；形似Gap但是指压后没有水波纹出现. VIEW ANGLE：正视 产生原因：黑

13、点主要为PI膜Dimple性Pinhole或PI膜划伤引起；白点主要为Cell内异物、Spacer Cluster、PI损害和污染、PI Coating的不完全等因素导致.,SPOT 类,现象：一般情况下造成亮点或连续，并且不良部分明显可见异物. VIEW ANGLE：正视 产生原因：Cell工程中的Hard P/T、Lint和Organic造成.,圆形 PARTICLE 线形 PARTICLE,PARTICLE 类,现象：CF Scratch，TFT Scratch和Cell Scratch两种类型. VIEW ANGLE：正视 产生原因：可以通过观察Scratch处的BM是否完好来判断Sc

14、ratch是发生在TFT还是CF.工艺中TFT基板或CF基板受到划伤.ASSY工程前多为PI膜Scratch；成盒后多为Cutting工程造成的表面Scratch.,CELL Scratch CF Scratch, TFT Scratch,Scratch类,Cell scratch,CF Scratch,现象：类似被手抹过的痕迹，甚至是手印或指印. VIEW ANGLE：正视 产生原因：PI Coating后被手或其他物品接触过.,Scratch类,Touch,现象：BM盲失在黑色画面下显示为白色的小亮点；Pixel盲失部分在相应的色Pattern下也显示为白色. VIEW ANGLE：正视

15、产生原因：大部分为C/F原材料不良.但BM和Pixel盲失同时出现时，CF被Scratch的可能性很大.,C/F类,BM 盲失,Pixel 盲失 RED 象素 GREEN 象素 BLUE 象素,现象：色Pattern下，不良区域的颜色明显与其它区域不同. VIEW ANGLE：正视 产生原因：C/F原材料不良.,Blue色Mura,C/F类,Red 色Mura,Green色Mura,现象：R，G，B的小亮点，多发生于Panel的边角和中心位置. VIEW ANGLE：正视 发生原因：在Rubbing 工艺进行时由于 Rubbing Cloth的摩擦产生的较小的PI膜碎屑导致.,Zaratsuk

16、i类(象素边缘漏光),漏光 P/T,现象：满屏绿色毛绒状，正视几乎不可见. VIEW ANGLE：侧视角可视性强 产生原因:Rubbing深度过浅致使此处PI层的取向力减弱导致不良发生.由于C/F上绿色的亚像素高度最高，且多发生于Green PXL的边角处.,Zaratsuki类,漏光 Domain,现象：黑画面处漏光现象，部分位置发白Pixel周边部存在漏光现象，有视角依赖性. VIEW ANGLE：正视 产生原因：TFT和CF在ASSY Align时发生Miss；Array ITO CD大或CF的BM过窄.,Zaratsuki类,漏光 Align,现象：不点灯即可见，变换画面始终为黑色.

17、VIEW ANGLE：正视 产生原因：ASSY Align工程中基板间存在Air或N2气泡.,Bubble类,Bubble（L）,现象：不点灯即可见，变换画面始终为黑色. VIEW ANGLE：正视 产生原因：ASSY Align工程中基板间存在Vac.,Bubble类,Bubble（S）,现象：不点灯即可见，变换画面始终为黑色. VIEW ANGLE：正视 产生原因：ASSY Align工程中基板间存在Vac.,Bubble类,Bubble其他,现象：Panel四周不规则树支状，多呈深绿色或黑色；不点灯也可见. VIEW ANGLE：正视 产生原因：由于Sealant Dispense后到U

18、V CURE间隔过长造成L/C与Sealant接触或是Sealant的宽窄不均导致部分断开，空气冲入也会造成Seal leak.,Seal Leak,Seal leak,SEAL GAP,现象：白色边Mura VIEW ANGLE：正视 原因：边框处cell Gap异常或者其它原因 注释：对应产线上之前出现的非背光原因的萤火虫现象,面片内气泡,底片内气泡,现象：从TFT面看现象与面片内气泡相同，从CF面看颜色比面片内气泡深，且位置较深，在玻璃下方. VIEW ANGLE：正视 产生原因：贴片压力不足,偏光片-气泡,底片异物(particle),面片异物(particle),偏光片-异物,现象：明显可见的. VIEW ANGLE：正视 产生原因：作业环境洁净度不够；操作员触摸污染LCD.,面片异物(绒毛),底片异物