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文档简介

1、数字集成电路测试与可测试设计,思考题,测试的对象是什么？ 测试的目的是什么？ 测试的内容是什么？ 测试的方法是什么？ 测试的工具是什么？ 测试的平台是什么？ 测试的未来是什么？,第一章 引言,1.1 测试哲学 1.2 测试的作用 1.3 数字与模拟VLSI测试 1.4 VLSI发展趋势对测试的影响,1.1 测试哲学,什么是VLSI测试？ 在实验中运行被测系统并分析其响应结果，以判断此系统是否正确运转。,测试的三个组成部分： 1. 运行被测系统 2. 分析其响应 3. 做出正确判断,1.1 测试哲学,验证、测试和诊断 验证（verification）：验证系统级或寄存器传输级功能是否正确 测试（

2、testing）：测试裸片（die）或芯片（chip）功能是否满足设计要求 诊断 (diagnose)：诊断裸片或芯片失效的原因,1.1 测试哲学,测试的风险,1.2 测试的作用,作用：检验产品是否存在问题。 好的测试过程可以将所有不合格的产品挡在到达用户手中之前。 测试失败的可能原因： 1. 测试本身存在错误； 2. 加工过程存在问题； 3. 设计不正确； 4. 产品规范有问题。,1.3 数字与模拟VLSI测试,输入、输出信号 测试仪器 测试方法和理论 失效判别方式,输入信号,输出响应,1.4 VLSI发展趋势对测试的影响,提升芯片的时钟频率,即时测试 ATE的成本 EMI,1.4 VLSI发展趋势对测试的

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