测量系统分析第四版.ppt

1、1 .测量系统分析测量系统2，测量系统分析基础和术语，并给特定的标记数字(或数值)以表示对这些特定特性的关系。 提供数值的过程定义为测量过程，指定的数值定义为测量值。 测量仪器(Gage )是用来获得测量结果的仪器。 工厂现场常用的装置，包括通/禁(go/no go device )。 3、测量系统分析的基础和术语，测量系统：用于量化测量单元和评价测量特性的仪器和测量仪器、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境和假设的集合。 标准：部件：设备：人员/程序：环境、S W I P E、测量、数值、分析、输入、输出、可接受的改进、测量系统，需要4个可操作的定义。 代替真值经常使用。 “真值”(Tr

2、ue value )项的真值。 不知道也不知道。 5、测量系统分析基础和术语，位置退化精度“接近”真值或可接受的标准值。 ASTM包含位置和宽度误差的影响。 在偏压(Bias )下观测到的测量值的平均值和基准值的差。 6、测量系统分析基础和术语，分析稳定性随时间变化的偏差值。 稳定的测量过程在位置上受到了统一控制。 别名：“漂移”(drift )“线性”(linearity )测量仪在正常动作范围内的偏差变化量。 多个独立偏差误差在测量仪动作范围内的关系。 由测量系统的系统误差构成。 7、测量系统分析基础和术语，分析幅度退化精度各重复读数之间“接近”的程度。 由测量系统的随机误差构成。 8、测

3、量系统分析基础和术语，重复性(Repeatability )一个评价者使用一种测量仪，对同一部件的某些特性进行多次测量时的劣化。 在固定且已定义的测量条件下，连续(短期)多次测量时的劣化。 一般称为E.V机器老化。 设备(测定器)的能力或潜力。 系统内部变差。 9、测量系统分析基础和术语，重现性不同的评价者使用相同的测量仪器，测量相同部件相同特性的测量平均值的劣化。 通常被称为A.V .的评价者会变差。 系统间的误差。 10、测量系统分析基础和术语、GRR或测量仪器的重现性和重现性(Gage RR )测量仪器的重现性和重现性：测量系统的重现性和重现性的联合估计。 衡量系统的能力：根据使用方法的

4、不同，包含或不包含时间的影响。 11、测量系统分析基础和术语，测量系统的统一修正特性，1 )充分的分辨率和灵敏度。 2 )被统一控制。 3 )产品控制、偏差小于公差。 4 )过程控制：显示有效的分辨率。 偏差小于制造过程的恶化。 12，分辨率1 )测量仪器可以检测并且忠实地显示相对于基准值的变化量。 2 )使用的测量器具的分辨率必须在被测量残奥仪表的允许误差的10%以下。 部件a、部件b、部件a、部件b、A=2.0 B=2.0、A=2.50 B=2.00、测量系统分析基础和术语、13、测量系统分析基础和术语Ndc=1.41(PV/GRR )。 14、测量系统可以分析基础和术语，指示极差的控制图

5、是否具有足够的分辨率，并且应该看到在控制限内有多少数据等级，通常可以被要求并接受大于5。 在过程恶化的SPC的极恶图中，15、分辨率不足的表现在极恶图中仅出现在控制极限内的1、2或3种可能极差时出现。 极差图表表示4种可能的极差值在控制极限内且超过1/4以上的极差值为零的情况。测量系统分析基础和术语、16、测量系统分析基础和术语、敏感性提供了可检测输出信号的最小输入。测定系统对被测定特性变化的灵敏度。 取决于测量仪器的设定修正(分辨率)、固有质量(OEM )、使用期间的维护、测量仪器和标准的操作状况。 通常记述为测定单元。 17、测量系统的老化对产品决定的影响，测量系统所需的特性控制产品，测量

6、系统的老化要比基于公差特性的公差评价测量系统小。 在过程控制中，应该指示测量系统的退化比过程的退化具有更小的有效分辨率。 测量系统可以基于第六劣化和/或来自测量系统的总劣化来进行评估。 偏差、重现性、重现性和线性应该是可以接受的。 18、测量系统恶化对产品决策的影响，图中： I的坏部件始终被视为坏部件II潜在的可能会做出错误决策III好部件始终被视为好部件。 19、测量系统的老化对产品决定的影响是，我们的目标是尽量正确决定产品的状态，所以做出以下选择：1)改善生产过程：减少过程老化，不生产落地产品。 2 )改善测量系统：减少测量系统误差，减少区域大小，使生产的所有产品都在区域内，从而降低出错的

7、风险。 20、测量系统分析的应用和时机，应用1 )接受新的测量设备的指导方针。 2 )一台测量仪器和另一台测量仪器的比较。 3 )评价怀疑有缺陷的测定器的依据。 4 )维护前后的测量仪器的比较。 分析时间1 )新生产的产品PV (部件老化)不同时。 2 )新的测量仪器EV (测量仪器变差)可能不同。 3 )新操作员AV (人员变差)可能不同。 4 )易损测定器，应注意其分析频率。 21、准备测量系统分析、测量系统校正图像制作在进行测量系统分析之前，制作测量系统分析校正图像。 修订计划内容如下。 )确定要分析的测量系统。 确定用于分析的测量对象的残奥仪表/大小或质量属性。 确定分析方法： )确定

8、测试环境确定分析人员和测量人员。 决定采样数和重复计数的次数。22、准备测量系统分析、准备测量仪器1 )关于具体的尺寸特性，选择与控制修正画面相关指定的测量仪器。 2 )确认分析的测量仪器经过检定/校正，合格。 3 )测定器的分辨率一般小于被测定残奥仪表的容许误差的1/10，在测定器计数中，如果可能的话，把最小刻度的一半。 测试操作员和分析师的选择)在分析测量系统时，测试者和分析师不能是同一个人。 为了使测试方法和测量结果与将来的生产和工艺变更的实际情况相一致，请优先选择在通常的状况下使用实际选定的测量仪实施测量的作业员/检查员作为测量作业员。 请选择精通测量系统分析方法的人作为分析人员。23

9、、准备测量系统分析、选择分析样品1 )样品选自实际生产或检验过程，尽量代表实际生产中存在的所有劣化。 2 )当一个测量仪器适用于多个规格的产品的尺寸特性测量时，在对该测量仪器测量系统进行分析时，选择一个工艺劣化最小规格的产品作为样品，以避免因过大的部件劣化而导致的分析结果的不准确。 3 )在每个样品编号上加上标签，但测试作业者事先不知道编号，以随机的顺序进行测量。 24、测量系统变坏的类型25、测量系统变坏的稳定性、稳定性，是测量系统在某个持续时间内测量相同标准或部件的单一特性时得到的测量值总变坏。 即，偏移的随时间的变化。26、测量系统劣化稳定性、27、测量系统分析案例稳定性、测量系统：对控

10、制订版中的自动型测量系统进行分析。 特性：关于管理修订计划中重要度高的品质特性。 样品：1PCS (可追溯到相关标准参考值的基准物料。 也可以是处于生产测定范围中间的样品)。参考值：只要测量系统稳定，参考值不要求已知。 测量周期：一天或每周一次。 重复次数：35次。 修正控制限制：输入适当的表格。 判定稳定：先判定r图后再判定Xbar图。 前分析测量系统稳定，后续为SPC中的控制用控制图。 保存支持分析的记录。 28、可能变得不稳定的要素、设备需要校正、缩短校正周期的设备、设备或夹具的磨损正常劣化或破损变形(校正器或部件)设备的质量不良修正或适应性维护不良：空气、动力、液体、过滤器、腐蚀、灰尘

11、， 使用清洁标准的磨损或破损标准的误差不适当的校准或标准设定机器进行牢固的设定修正或方法不同的测定方法缺乏作业准备、负载、夹具、技巧环境变化温度、湿度、振动、清洁错误的假设，应用的常数为应用零件数、位置、作业人员技能、疲劳、观测误差(非偏移量的大小表示测量系统的精度，偏移量越小越好，相反越差，30、测量系统分析偏移量、独立采样法、31、测量系统分析偏移量、偏移量分析方法和注意事项测量系统：对控制校正图像中的校正量型测量系统特性：关于管理修订计划中重要度高的品质特性。 样品：1PCS (可以作为上溯及相关标准的参考值的基准项目。 即使是生产测量范围中间的样品，也可以通过更高级的测量设备获得参考值

12、。 测定人数、重复次数： 1个评价者重复10次以上。 计算t值的判定：可以使用直方图进行判定，0需要在偏差的上下限之间接受，如果不能接受，根据需要进行补偿。32、测量系统分析情况偏移，置信区间优选包括一个残奥仪表的真值的范围(在希望概率的情况下，称为置信水平)。 在统一纠正检定中，信任等级通常表示在1.96的范围内。 33、可能引起过大偏差的原因、设备、设备或夹具的磨损设备使用需要校正基准磨损或损伤的线性误差的错误测量仪，准备不适当的校正或基准设定设备的质量不良设定校正或适应性不同的测量方法作业，加载、夹紧、技巧测量的特性不变化(测量仪或部件)环境温度、温度、温度35、测量系统分析线性、36、

13、测量系统分析案例线性、测量系统：控制校正图像中的校正量型测量系统需要分析。 (但是，也可以不分析在特定工序中使用或仅使用单一笔划的测量系统)。 特性：关于管理修订计划中重要度高的品质特性。 样品：5PCS (复盖整个工作范围)。 测定人数、重复次数： 1个评价者重复10次以上(尽量盲目测定)。 在EXCEL中输入数据。 修正ta，tb值。 判定： 0必须在偏差的上限、下限之间接受，如果不接受，则根据需要进行修正补偿。 保存支持分析的记录。37、可能导致线性误差，设备需要校准，以减少校准周期设备、设备或夹具的磨损维护不良空气、动力、液体、过滤器、腐蚀、灰尘、清扫标准的磨损或破损的标准误差最小/最

14、大不适当的校正或标准设定机器的质量不良设定或缺乏适应性的机器设定校正和方法错误的测定器的不同的测定方法根据作业准备、装载、夹紧、技巧测定尺寸，(测定器或零件)的变形量应用不同的环境温度、湿度、振动、清洁错误的假设的常数是应用零件的数量、位置没有作业人员的技能、疲劳、观测误差、38、测量系统变差类型的再现性和再现性，再现性是1个评价者采用1个测量设备，多次测量同一部件的同一特性时得到的测量值变差。 再现性是对不同的评价者使用相同的测定设备测定相同部件的相同特性时的平均值的劣化进行测定。 39、测量系统变差类型的重复性和再现性、重复性和再现性的联合估计。 可能包含了或者不包含时间的影响。 40、测

15、量系统分析情况的再现性和再现性，取得一个样品零件数n=10，按顺序编号，代表实际或所希望的过程变坏的范围。 选择3名测定者，a、b、c，要求盲测。 3人随机抽样检查。 把评价者测量的数据记录在数据表中。 41、测量系统分析案例的重现性和重现性、有效分辨率5、重现性和重现性的接受标准42、测量系统分析案例的重现性和重现性、使用过程的差异：取样用于表示预期过程的差异。 替代进程差异：当没有足够的样本来表示进程，并且存在具有相似差异的进程时使用的PP (或PPK )值：即使没有足够的样本来表示进程，但是存在具有相似差异的进程，或者新进程的差异比现有进程的差异大规格公差：测量系统用于此流程的分类，此流

16、程的PP小于1.0时使用。 43、测量系统分析工况的重现性和重现性，重现性大于重现性的原因是需要设备维护，需要改进测量仪器的夹具或固定装置，部件内的老化大于重现性。 可能是因为对评估人员如何进行该测量仪的训练测量仪校准，刻度不清的夹具需要帮助评估人员，44、测量系统分析案例的抽样方法是从过程中随机选择50个部件，对各部件进行编号。 选定的样品为1/3合格、1/3不合格、1/3模糊三位评价者，随机抽出零件检查，每人3次(要求盲检)，设定为1接受，0不能接受。 在表中输入数据。 45、测量系统分析案例的样本法、一致性判定Kappa用于测量两个评价者评价同一物体时的评价结论的一致性。 一般的比例法在Kappa值大于0.75时表示良好的匹配性，小于0.40时表示匹配性差。 Po=对角线单元中的校正值的总和/总校正数Pe=