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文档简介
1、06:58:32,第六章 原子发射光谱分析法,一、概述 generalization 二、原子发射光谱的产生 formation of atomic emission spectra 三、谱线强度 spectrum line intensity 四、谱线自吸与自蚀 self-absorption and selp reversal of spectrum line,第一节 原子发射光谱分析基本原理,atomic emission spectrometry,AES,basic principle of AES,06:58:32,一、概述 generalization,原子发射光谱分析法(atom
2、ic emission spectroscopy ,AES):元素在受到热或电激发时,由基态跃迁到激发态,返回到基态时,发射出特征光谱,依据特征光谱进行定性、定量的分析方法。 1859年,基尔霍夫(Kirchhoff G R)、本生(Bunsen R W) 研制第一台用于光谱分析的分光镜,实现了光谱检验; 1930年以后,建立了光谱定量分析方法; 原子光谱 原子结构 原子结构理论 新元素 在原子吸收光谱分析法建立后,其在分析化学中的作用下降,新光源(ICP)、新仪器的出现,作用加强。,06:58:32,原子发射光谱分析法的特点:,(1)可多元素同时检测 各元素同时发射各自的特征光谱; (2)分
3、析速度快 试样不需处理,同时对几十种元素进行定量分析(光电直读仪); (3)选择性高 各元素具有不同的特征光谱; (4)检出限较低 100.1gg-1(一般光源);ngg-1(ICP) (5)准确度较高 5%10% (一般光源); 1% (ICP) ; (6)ICP-AES性能优越 线性范围46数量级,可测高、中、低不同含量试样; 缺点:非金属元素不能检测或灵敏度低。O、S、N、X(处于远紫外);P、 Se、Te-难激发,常以原子荧光法测定),06:58:32,原子发射光谱分析法的应用,原子发射光谱分析在鉴定金属元素方面(定性分析)具有较大的优越性,不需分离、多元素同时测定、灵敏、快捷,可鉴定
4、周期表中约70多种元素,长期在钢铁工业(炉前快速分析)、地矿等方面发挥重要作用; 80年代以来,全谱光电直读等离子体发射光谱仪发展迅速,已成为无机化合物分析的重要仪器。,06:58:32,二、原子发射光谱的产生 formation of atomic emission spectra,在正常状态下,元素处于基态,元素在受到热(火焰)或电(电火花)激发时,由基态跃迁到激发态,返回到基态时,发射出特征光谱(线状光谱);,特征辐射,基态元素M,激发态M*,热能、电能,E,06:58:32,几个概念 激发电位(激发能):由低能态-高能态所需要的能量,以eV表示。每条谱线对应一激发电位。 电离电位(电离
5、能):原子受激后得到足够能量而失去电子电离所需的能量。以eV表示。 原子线:原子发射的谱线 离子线:离子发射的谱线 非共振线:激发态与激发态之间跃迁形成的光谱线 共振线:由激发态到基态跃迁所产生的谱线,激发电位最小最易激发谱线最强。,06:58:32,第一共振线(主共振线):由最低激发态(第一激发态)跃迁回基态所发射的辐射线。 主共振线具有最小的激发电位,最容易被激发,一般是该元素最强的谱线。 元素谱线表:I 表示原子发射的谱线; II 表示一次电离离子发射的谱线; III表示二次电离离子发射的谱线; 如Mg I 285.21 nm ;Mg II 279.55 nm; 同种元素的原子和离子所产
6、生的原子线和离子线都是该元素的特征谱线,习惯上统称为原子光谱。,06:58:32,三、谱线强度 spectrum line intensity,原子由某一激发态 i 向低能级 j 跃迁,所发射的谱线强度与激发态原子数成正比。 在热力学平衡时,单位体积的基态原子数N0与激发态原子数Ni的之间的分布遵守玻耳兹曼分布定律:,gi 、g0为激发态与基态的统计权重; Ei :为激发能;k为玻耳兹曼常数;T为激发温度; 发射谱线强度: Iij = Ni Aijhij h为Plank常数;Aij两个能级间的跃迁几率; ij发射谱线的频率。将Ni代入上式,得:,06:58:32,谱线强度,影响谱线强度的因素:
7、 (1)激发电位: E,I; (2)原子总密度:N , I。 (3)激发温度:T,I,但易电离。,06:58:32,由图可见,每条谱线有一个最合适的温度,在这个温度下,谱线强度最大。激发温度与所使用的光源和工作条件有关。,06:58:32,四、谱线的自吸与自蚀 self-absorption and self reversal of spectrum line,等离子体:以气态形式存在的包含分子、离子、电子等粒子的整体电中性集合体。等离子体内温度和原子浓度的分布不均匀,中间的温度、激发态原子浓度高,边缘反之。 自吸:中心发射的辐射被边缘的同种基态原子吸收,使辐射强度降低的现象。,元素浓度低时,
8、不出现自吸。随浓度增加,自吸越严重,当达到一定值时,谱线中心完全吸收,如同出现两条线,这种现象称为自蚀。 谱线表,r:自吸;R:自蚀;,06:58:32,第六章 原子发射光谱分析法,一、仪器类型与流程 types and process of AES 二、激发光源 excited lamp-house 三、光谱仪 spectrophotometer,第二节 原子发射光谱仪器,instrument of AES,atomic emission spectrometry,AES,06:58:32,原子发射光谱分析仪器的类型有多种,如:火焰发射光谱、微波等离子体光谱仪、感耦等离子体光谱仪、光电光谱仪
9、、摄谱仪等。 原子发射光谱仪通常由三部分构成:激发光源、分光系统、检测器。,一、 仪器类型与流程 types and process of AES,06:58:32,二、激发光源 excited lamp-house,光源的作用:为试样的气化原子化和激发提供能源。 对激发光源的要求: .必须具有足够的蒸发、原子化和激发能力; .高灵敏度和低检出限; .光源在工作过程中比较稳定; .光谱背景小; .结构简单,操作方便,使用安全。,06:58:32,(一). 直流电弧 直流电作为激发能源,电压220380V,电流5 30A; 两支石墨电极,试样放置在一支电极(下电极)的凹槽内; 使分析间隙的两电极
10、接触或用导体接触两电极,通电,电极尖端被烧热,点燃电弧,再使电极相距4 6mm;,06:58:32,发射光谱的产生,电弧点燃后,热电子流高速通过分析间隔冲击阳极,产生高热,试样蒸发并原子化,电子与原子碰撞电离出正离子冲向阴极。电子、原子、离子间的相互碰撞,使原子跃迁到激发态,返回基态时发射出该原子的光谱。 弧焰温度:高、40007000 K 可使约70多种元素激发; 特点:背景小,适合定性分析;,缺点:弧光不稳,再现性差;弧层厚,自吸严重;不适合高含量定量分析。 适用范围: 矿物和难挥发试样的定性、半定量和痕量元素的分析。,06:58:32,(二). 低压交流电弧,工作电压:110220 V。
11、 采用高频引燃装置点燃电弧,在每一交流半周时引燃一次,保持电弧不灭;,06:58:32,工作原理,(1)接通电源,由变压器B1升压至2.53kV,电容器C1充电;达到一定值时,放电盘G1击穿;G1-C1-L1构成振荡回路,产生高频振荡; (2)振荡电压经B2的次级线圈升压到10kV,通过电容器C2将电极间隙G的空气击穿,产生高频振荡放电;,(3)当G被击穿时,电源的低压部分沿着已造成的电离气体通道,通过G进行电弧放电; (4)在放电的短暂瞬间,电压降低直至电弧熄灭,在下半周高频再次点燃,重复进行;,06:58:32,特点:,(1)电弧温度高,激发能力强; (2)电极温度稍低,蒸发能力稍低; (
12、3)电弧稳定性好,使分析重现性好,适用于定量分析。,适用范围:金属、合金中低含量元素的定量分析。,06:58:32,(三).高压火花,(1)交流电压经变压器T后,产生1015kV的高压,然后通过扼流圈D向电容器C充电,达到G的击穿电压时,通过电感L向G放电,产生振荡性的火花放电;,(2)转动续断器M,2, 3为钨电极,每转动180度,对接一次,转动频率(50转/s),接通100次/s,保证每半周电流最大值瞬间放电一次;,06:58:32,高压火花的特点:,(1)放电瞬间能量很大,产生的温度高,激发能力强,某些难激发元素可被激发,且多为离子线; (2)放电间隔长,使得电极温度低,且弧焰半径较小。
13、蒸发能力稍低,适于低熔点金属与合金的分析; (3)稳定性好,重现性好,适用定量分析;,缺点: (1)灵敏度较差,但可做较高含量的分析; (2)噪音较大。,06:58:32,(四).电感耦合等离子体光源,主要部分: 高频发生器 作用:产生高频电流 等离子体炬管 三层同心石英玻璃管组成 感应圈 供气系统 试样雾化器,光源,06:58:32,炬管与雾化器,三层同心石英玻璃炬管置于高频感应线圈中,等离子体工作气体从管内通过,试样在雾化器中雾化后,由中心管进入火焰;样品引入使用Ar(性质稳定、不与试样作用、光谱简单)。 外层Ar从切线(利用离心作用在炬管中心产生低气压通道,以利于进样)方向进入,冷却作用
14、,保护石英管不被烧熔,中层Ar用来点燃等离子体;,06:58:32,原理,当高频发生器接通电源后,高频电流I通过感应线圈产生交变磁场(绿色)。 开始时,管内为Ar气,不导电,需要用高压电火花触发,使气体电离后,在高频交流电场的作用下,带电粒子高速运动,碰撞,形成“雪崩”式放电,产生等离子体气流。在垂直于磁场方向将产生感应电流(涡电流,粉色),其电阻很小,电流很大(数百安),产生高温。又将气体加热、电离,在管口形成稳定的等离子体焰炬。,06:58:32,06:58:32,ICP的特点,1激发温度高,有利于难激发元素的激发,可测定70多种元素。 2ICP稳定性好,精密度高,相对标准偏差约1%。 3
15、基体效应小。光谱背景小。具有好的检出限。 4准确度高,相对误差为1%,干扰少。 5自吸效应小 缺点:仪器价格贵,测定非金属元素时,灵敏度较低。,适用范围:溶液;高低微含量金属;难激发元素。,06:58:32,Vista世界上分析速度最快的全谱直读ICP-AES,06:58:32,小结,电极头温度,放电温度,06:58:32,三、光谱仪 spectrophotometer,光谱仪的作用是将光源发射的电磁辐射经色散后,得到按波长顺序排列的光谱,并对不同波长的辐射进行检测与记录。 光谱仪按照使用色散元件的不同,分为棱镜光谱仪和光栅光谱仪;按照光谱记录与测量方法的不同,又分为摄谱仪和光电直读光谱仪。,
16、光栅摄谱仪比棱镜摄谱仪有更大的分辨率。 摄谱仪在钢铁工业应用广泛。 性能指标:色散率、分辨率、集光能力。,06:58:32,(一)棱镜摄谱仪,照明系统 准直系统 色散系统 记录系统,06:58:32,感光板与谱线黑度 摄谱法是用感光板记录光谱。感光板主要由感光层和玻璃片基组成。感光层又称为乳剂,由感光物质(卤化银)、明胶和增感剂组成。 将光谱感光板置于摄谱仪焦面上,接受被分析试样的光谱作用而感光,再经过显影、定影等过程后,制得光谱底片,其上有许多黑度不同的光谱线。然后用影谱仪观察谱线位置及大致强度,进行光谱定性及半定量分析。用测微光度计测量谱线的黑度,进行光谱定量分析。 感光板上谱线的黑度与作
17、用其上的总曝光量有关。曝光量 等于感光层所接受的照度 和曝光时间 的乘积; H = E t 式中,H为曝光量,E为照度,t为时间。,06:58:32,感光板上谱线黑度,一般用测微光度计测量。 黑度S定义为透过率倒数的对数,故 S = lg1/T = lg i0 / i 感光板上感光层的黑度S与曝光量H之间的关系极为复杂,很难用简单的数学公式表达,通常用图解法S-lgH表表达。 若以黑度S为纵坐标,曝光量的对数lgH为横坐标,得到的实际的乳剂特征曲线。,06:58:32,乳剂特征曲线,乳剂特征曲线表示曝光量的对数与黑度之间关系的曲线。可分为四部分:AB部分为曝光不足部分,BC部分正常曝光部分,C
18、D为曝光过量部分,DE为负感部分(黑度随曝光量的增加而降低部分)。 S0是曲线与纵坐标的交点,它表示感光板乳剂未曝光部分受显影液作用的黑度,称为雾翳黑度。,06:58:32,在光谱定量分析中,通常需要利用乳剂特征曲线的正常曝光部分,因为此时黑度和曝光量的对数之间可用简单的数学公式表示: (lgH lgHi ) Hi是感光板的惰延量,可从直线延长至横轴上 的截距求出。1/Hi 决定感光片的灵敏度。 为相应直线的斜率,称为感光板的“反衬度”。它表示感光板对光信号的敏感程度。与波长有关,但在250-350nm范围内几乎不变。 大,易感光,对微量成分的检测有利; 小,感光慢,黑度均匀,对定量分析有利。
19、 定量分析用的感光板, 值应在左右。光谱定量分析常选用反衬度较高 的紫外型感光板,定性分析则选用灵敏度较高的紫外型感光板。,06:58:32,(二)光栅摄谱仪,06:58:32,色散率,表示不同波长的光谱线色散开来的能力。 实际工作中,习惯用倒线色散率表示:,倒线色散率指单位距离上两根谱线的波长差。,06:58:32,分辨率,R=/KN=Klb 注:为两谱线的平均值,为它们的差值。 K 光栅级次 N 刻痕总数 l 光栅宽度(mm) b 光栅刻痕密度(mm-1) 实际分辩率:指摄谱仪的每毫米感光板上所能分辩开的谱线的条数。或在感光板上恰能分辨出来的两条谱线的距离。,分辨率(R):根据瑞利准则分辨
20、清楚两条相邻光谱线的能力。,06:58:32,两种分光元件的比较,分光原理不同,折射和衍射。 棱镜的波长越短,偏向角越 大,而光栅正好相反。 (3). 光栅光谱是一个均匀排列光谱, 而棱镜光谱是一个非均匀排列光谱. (4)光栅光谱中各谱线排列是由紫到红(光),棱镜光谱中各谱线排列是由红到紫(光). (5)光栅的谱级重叠,有干扰,要考虑消除;而棱镜不存在这种情况。 (6). 光栅适用的波长范围较棱镜宽.,06:58:32,原子发射光谱分析对单色器的要求是: 1、色散率大且与波长无关; 2、分辨率大(能分开Fe三线0.03nm); 3、集光本领强(使分析所需的波长的能量达到最大),目前常用中阶梯光
21、栅光谱仪,06:58:32,(三)光电直读光谱仪,光电直读是利用光电法直接获得光谱线的强度; 两种类型:多道固定狭缝式和单道扫描式;,一个出射狭缝和一个光电倍增管,可接受一条谱线,构成一个测量通道; 单道扫描式是转动光栅进行扫描,在不同时间检测不同谱线;,多道固定狭缝式则是安装多个(多达70个),同时测定多个元素的谱线;,06:58:32,凹面光栅与罗兰圆,多道型光电直读光度仪多采用凹面光栅; 罗兰圆:Rowland(罗兰)发现在曲率半径为R 的凹面反射光栅上存在着一个直径为R的圆,不同波长的光都成像在圆上,即在圆上形成一个光谱带;,凹面光栅既具有色散作用也起聚焦作用(凹面反射镜将色散后的光聚
22、焦)。,06:58:32,特点 :,(1) 多达70个通道可选择设置,同时进行多元素分析,这是其他金属分析方法所不具备的; (2) 分析速度快,准确度高; (3) 线性范围宽, 45个数量级,高、中、低浓度都可分析; 缺点:仪器昂贵,维护费用高; 出射狭缝固定,只能检测有限的固定元素;,06:58:32,第六章 原子发射光谱分析法,一、光谱定性分析 qualitative spectrometric analysis 二、光谱定量分析 quantitative spectrometric analysis 三、特点与应用 feature and applications,第三节 定性、定量分析
23、方法,atomic emission spectrometry,AES,qualitative and quantitative analysis methods,06:58:32,一、 光谱定性分析 qualitative spectrometric analysis,定性依据:元素不同电子结构不同光谱不同特征光谱 1. 元素的分析线、最后线、灵敏线 分析线:复杂元素的谱线可能多至数千条,只选择其中几条特征谱线检验,称其为分析线; 最后线:浓度逐渐减小,谱线强度减小,最后消失的谱线; 灵敏线:最易激发的能级所产生的谱线,每种元素都有一条或几条谱线最强的线,即灵敏线。最后线也是最灵敏线; 共振
24、线:由第一激发态回到基态所产生的谱线;通常也是最灵敏线、最后线;,06:58:32,2. 定性方法,标准光谱比较法: 最常用的方法,以铁谱作为标准(波长标尺);为什么选铁谱?,06:58:32,标准光谱比较定性法,为什么选铁谱? (1)谱线多:在210660nm范围内有数千条谱线; (2)谱线间距离分配均匀:容易对比,适用面广; (3)定位准确:已准确测量了铁谱每一条谱线的波长。 标准谱图:将其他元素的分析线标记在铁谱上,铁谱起到标尺的作用。 谱线检查:将试样与纯铁在完全相同条件下摄谱,将两谱片在映谱器(放大器)上对齐、放大20倍,检查待测元素的分析线是否存在,并与标准谱图对比确定。可同时进行
25、多元素测定。,06:58:32,06:58:32,3. 定性分析实验操作技术,试样处理 a. 金属或合金可以试样本身作为电极,当试样量很少时,将试样粉碎后放在电极的试样槽内; b. 固体试样研磨成均匀的粉末后放在电极的试样槽内; c. 糊状试样先蒸干,残渣研磨成均匀的粉末后放在电极的试样槽内。液体试样可采用ICP-AES直接进行分析。,06:58:32,(2) 实验条件选择 a. 光谱仪 在定性分析中通常选择灵敏度高的直流电弧;狭缝宽度57m;分析稀土元素时,由于其谱线复杂,要选择色散率较高的大型摄谱仪。,b. 感光板及曝光时间 感光板:一般采用灵敏度高的紫外型感光板; 曝光时间:既要有足够的
26、曝光时间以保证痕量元素谱线在感光板上显现一定黑度,又要防止过度曝光使光谱背景增大。,06:58:32,光谱半定量分析 与目视比色法相似,测量试样中元素的大致浓度范围。 可采用谱线黑度比较法和光谱呈现法 谱线黑度比较法:测定一系列不同含量的待测元素标准光谱系列,在完全相同条件下(同时摄谱),测定试样中待测元素光谱,选择灵敏线,比较标准谱图与试样谱图中灵敏线的黑度,确定含量范围。 光谱呈现法:同一元素的不同谱线黑度不同,浓度越低,留下的谱线越少 应用:用于钢材、合金等的分类、矿石品位分级等大批量试样的快速测定。,二、 光谱定量分析 quantitative spectrometric analys
27、is,06:58:32,2. 光谱定量分析,(1) 发射光谱定量分析的基本关系式 在条件一定时,谱线强度I 与待测元素含量c关系为: I = a c a为常数(与蒸发、激发过程等有关),考虑到发射光谱中存在着自吸现象,需要引入自吸常数 b ,则:,发射光谱分析的基本关系式,称为塞伯-罗马金公式(经验式)。自吸系数 b 随浓度c增加而减小,当浓度很小,自吸消失时,b=1。,06:58:32,(2) 内标法基本关系式,影响谱线强度因素较多,直接测定谱线绝对强度计算难以获得准确结果,实际工作多采用内标法(相对强度法)。 在被测元素的光谱中选择一条作为分析线(强度I),再选择内标物的一条谱线(强度I0),组成分析线对。则:
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