GSM手机的生产测试标准

GSM手机的生产测试标准（草稿）拟制审核批准一、前言此测试标准针对生产后的整机的电性能和配件的测试，以及生产出货的包装，生产中的整机环境测试标准，对于IQC的来料检查以及结构件的检验标准不在此标准内容以内，请参考IQC检验标准以及结构检验标准。二、标准的制定根据标准GB28281987YD/T12142002、ETSIGSM0501的手机标准制定本标准。三、手机整机（PCBA）的性能测试（指标）生产后的手机经校准后必须经过手机性能的测试，测试标准必须经过标准YD/T12142002、ETSIGSM0501的手机标准。利用AUTOTESTBAYAGILENT8960测试。试验的标准大气条件见表1。表1温度（）相对湿度（）气压（KPA）153520758610631、开机性能指标表2检验项目标准测试环境开机电压36V版本待机电流6MHZ分辨带宽100KHZ视频带宽300KHZ1GHZ4GHZ分辨带宽1MHZ视频带宽3MHZ峰值保持激活传导性杂散发射MS位于空闲模式100KHZ1GHZ6MHZ分辨带宽100KHZ视频带宽300KHZ1GHZ4GHZ分辨带宽1MHZ视频带宽3MHZ峰值保持激活辐射性杂散发射MS在空闲模式30MHZ880MHZ57DBM880MHZ915MHZ59DBM915MHZ1000MHZ57DBM1GHZ1710MHZ47DBM1710MHZ1785MHZ53DBM1785MHZ4GHZ47DBM灵敏度CLASSII102DBMBER24在信道1,62,124设置MS发射功率等级为5阻塞CLASSII98DBMBER24阻塞电平FR600KHZ16MHZ43DBMFR16MHZ3MHZ33DBM915MHZFR3MHZ23DBM在信道1,62,124设置MS发射功率等级为5表5（续）检验项目标准测试环境FR3MHZ980MHZ23DBM835MHZ915MHZ0DBM980MHZ1000MHZ0DBM邻道干扰CLASSII82DBMBER24干扰电平FR200KHZ73DBMFR400KHZ41DBMFR600KHZ33DBM在信道62设置MS发射功率等级为5互调抑制CLASSII98DBMBER24干扰电平49DBM在信道62设置MS发射功率等级为5同频干扰CLASSII82DBMBER24干扰电平91DBM在信道62设置MS发射功率等级为5DCS1800M的性能指标表6检验项目标准测试环境频率误差01PPM设置MS发射功率0,信道513,700,884相位误差5均方根值20（峰值误差）设置MS发射功率等级0,15信道513,700,884功率时间包络10US6DBC18US30DBC28US70DBC在信道513,700,884设置MS发射功率等级0,15瞬态切换频谱功率等级15FC400KHZ23DBMFC600KHZ26DBMFC1200KHZ32DBMFC1800KHZ36DBM功率等级0FC400KHZ22DBMFC600KHZ24DBMFC1200KHZ24DBM在信道513、700、884设置MS发射功率等级0,15RBW30KHZVBW100KHZ峰值控制测量机密第8页2010113FC1800KHZ27DBM连续调制频谱FC200KHZ30DBC或36DBMFC250KHZ33DBC或36DBMFC400KHZ60DBC或36DBMFC600KHZ1800KHZ60DBC或51DBMFC1800KHZ6000KHZ功率等级065DBC或51DBM功率等级1559DBC或51DBMFC6000KHZ功率等级077DBC或51DBM功率等级1571DBC或51DBM在信道700设置MS发射功率等级0,15RBW30KHZVBW30KHZ1800KHZRBW100KHZRBW100KHZ平均测量50个脉冲在MS接收频段杂散发射925MHZ935MHZ67DBM935MHZ960MHZ79DBM1805MHZ1880MHZ71DBM在信道513设置MS发射功率0传导性杂散发射给MS分配一个信道100KHZ1GHZ36DBM1GHZ1710MHZ30DBM1710MHZ1785MHZ36DBM1785MHZ1275GHZ30DBM在信道700设置MS发射功率等级0峰值控制测量机密第9页2010113表6（续）项目标准测试环境传导性杂散发射MS位于空闲模式100KHZ880MHZ57DBM880MHZ915MHZ59DBM915MHZ1000MHZ57DBM1GHZ1710MHZ47DBM1710MHZ1785MHZ53DBM1785MHZ1275GHZ47DBM辐射性杂散发射MS分配一个信道30MHZ1GHZ36DBM1GHZ1710MHZ30DBM1710MHZ1785MHZ36DBM1785MHZ4GHZ30DBM在信道700设置MS发射功率等级0峰值控制测量辐射性杂散发射MS位于空闲模式30MHZ880MHZ57DBM880MHZ915MHZ59DBM915MHZ1000MHZ57DBM1GHZ1710MHZ47DBM1710MHZ1785MHZ53DBM1785MHZ4GHZ47DBM灵敏度CLASSII100DBMBER24在信道513，700，884设置MS发射功率等级0机密第10页2010113表6（续）项目标准测试环境阻塞CLASSII96DBMBER24阻塞电平FR600KHZ16MHZ43DBMFR16MHZ3MHZ33DBM915MHZFR3MHZ23DBMFR3MHZ980MHZ23DBM835MHZ915MHZ0DBM980MHZ1000MHZ0DBM在信道513，700，884设置MS发射功率等级0邻道干扰CLASSII82DBMBER24干扰电平FR200KHZ73DBMFR400KHZ41DBMFR600KHZ33DBM在信道700设置MS发射功率等级为0互调抑制CLASSII96DBMBER24干扰电平49DBM在信道700设置MS发射功率等级为0同频干扰CLASSII82DBMBER24干扰电平91DBM在信道62设置MS发射功率等级为535手机整机ALERT的人机界面测试人机界面包括振动、振铃、回音、免提、显示、LED、按键、RTC时钟、SIM卡等等。四、手机配件电池电芯的测试指标和方法对电池一般要进行容量测试、循环寿命测试、环境适应性测试和安全保护性测试，只有所有测试都通过的电芯才能考虑使用，安全和质量才有保证，锂电的执行的国家标准是GB/T182872000及金属化物镍电池的执行标准GB/T182882000。主要测试其性能包括电压（高于37V）、内阻（用DK3000）、NTC电阻值、ID电阻值、电池容量等，国家标准测试的项目要求如下电池的试验流程见表7机密第11页2010113表7组号试验项目试验要求及方法样品数量允许不合格数电池卡扣可靠性试验4111电池外观检测试验41202C5A放电试验4131C5A放电试验414高温试验4152低温试验4163荷电保持能力417高温潮湿试验4184振动试验419环境适应性自由跌落试验4110过充电保护试验41115安全保护性过放电保护试验4112短路保护试验4113重物冲击4114热冲击4115过充电41166安全要求短路41177循环寿命试验41180备注1高温潮湿试验可以用整机高温潮湿试验后的电池；2振动试验可以用整机振动试验后的电池；3如果获得UL认证，第6组试验可免。41电池试验方法411电池卡扣可靠性试验模拟电池正常使用时的装卸方法对电池进行1000次装卸试验，试验后检查卡扣应无折裂并且功能正常。412电池表面（外观）试验A根据电池表面工艺的不同，选择检查项目，参照移动电话机表面试验执行。B外观、标志要求，应符合GB/T182872000中41和71的规定。且标注规范、清晰。41302C5A放电试验电池按421充满电后放置05H1H，以02C5A电流放电到终止电压，放电时间应不低于5H。4141C5A放电试验电池按421充满电后搁置05H1H，以1C5A电流放电，放电到终止电压。电池放电时间不低于57分钟。机密第12页2010113415高温试验电池按421充满电后，将电池放入552的高温箱中恒温2H，然后以1C5A电流放电至终止电压，放电时间应不低于51分钟。在常温下恢复2H后进行外观检查，应无变形、裂缝并与移动电话机配合良好。416低温试验电池按421充满电后，将电池放入202的低温箱中恒温16H24H后，以02C5A电流放电至终止电压，放电时间应不低于3H。在常温下恢复2H，电池应无变形、裂缝并与移动电话机配合良好。417荷电保持能力电池按421充满电后在温室下开路搁置30天，再以02C5A电流进行放电至终止电压，放电时间应不低于425H。418恒定湿热试验电池按421充满电后，将电池放入402，相对湿度为9095的恒温恒湿箱中搁置48H后在室温下恢复2H，电池应无变形、无裂缝，与移动电话机配合良好。以1C5A电流放电至终止电压，放电时间应不低于36分钟。419振动试验电池按421充满电后直接或通过夹具安装在振动台上，在X、Y、Z三个方向上从10HZ55HZ循环扫频振动30分钟，扫频内速率为1OCT/MIN。振动频率10HZ35HZ位移幅值038MM振动频率36HZ55HZ位移幅值019MM试验结束后，电池应无裂痕、漏液、冒烟或爆炸，电池电压应不低于36V。4110自由跌落试验电池按421充电后，将电池样品由100CM的位置自由跌落到水泥地面上的18MM20MM厚的硬木板上，从X、Y、Z正负方向（六个方向）每个方向自由跌落1次。电池应不漏液、不冒烟、不起火或爆炸，能与移动电话机配合，锁扣可靠。以1C5A充放电循环试验，直至放电时间不低于51分钟。充放电循环次数不多于3次。4111过充电保护试验电池按421充电后，用恒流恒压源持续给电池加载8H，恒流恒压源电压设定为2倍标称电压，电流设定为2C5A的外接电流。电池应不爆炸、不起火、不冒烟或漏液。4112过放电保护电池以02C5A放电至终止电压后，外接30负载放电24H，电池应不爆炸、不起火、不冒烟或漏液。4113短路保护试验电池按421充电后，将正负极用01电阻器短路1H，电池应不爆炸、不起火、不冒烟或漏液。将正负极断开，电池以1C5A电流瞬时充电5S后，电池电压应不小于36V。机密第13页20101134114重物冲击电池放置于冲击台上，将10KG的重锤自1M高度自由落下，冲击已固定在夹具中的电池（电池的面积最大的面应与台面垂直），电池允许发生变形，但是应不起火，不爆炸4115热冲击电池放置于热箱中，温度以（52）/MIN的速率升至1502并保温30MIN，电池应不起火，不爆炸4116过充电本项试验应在拆除电池外的保护线路后进行。将接有热电偶的电池置于通风橱中，连接正负极于一恒流恒压电源，调节电流至3C5A、电压为N10V，然后对电池以3C5A充电，直到电池电压为N10V，电流降到接近到0A。实验过程中监视电池温度变化，当电池温度下降到比峰值低约10时，结束实验。电池应不起火，不爆炸4117短路本项试验应在拆除电池外的保护线路后进行。将接有热电偶的电池置于通风橱中，短路其正负极（线路总电阻不大于50），实验过程中监视电池温度变化，当电池温度下降到比峰值低约10时，结束实验。电池应不起火，不爆炸，电池的外部温度不得高于150。4118循环寿命试验电池以1C5A充电，当电池端电压达到充电限制电压时，改为恒流充电，直到充电电流小于或等于20MA，停止充电，搁置05H1H，然后以1C5A电流放电至终止电压，放电结束后，搁置05H1H，再进行下一个充放电循环，直至连续两次放电时间小于36分钟，或功能失效或内部阻抗（交流）值大于300毫欧时，则认为寿命终止。电池的循环寿命应不低于300次。421充电制式电池可采用下列制式之一充电A在环境温度205的条件下，以02C5A充电，当电池端电压达到充电限制电压（42V）时，改为恒压充电，直到充电电流小于或等于001C5A，最长充电时间不大于8H，停止充电。此充电制式为检验的仲裁充电制式。B在环境温度205的条件下，以1C5A充电，当电池端电压达到充电限制电压时，改为恒压充电，直到充电电流小于或等于001C5A，最长充电时间不大于8H，停止充电。422电池的贮存进行贮存实验的电池应选自生产日期不足3个月的电池，电池贮存前应给电池充入4050的容量，然后在环境温度205，相对湿度4585的环境中贮存，贮存满12个月后，进行充放电后，02C5A的放电时间不小于4H五、手机充电器的性能指标测试51、充电器的测试的性能要求手机电池充电器的国家监督抽查，依据的是和等国家强制性标准。充电器试验流程见表8。机密第14页2010113表8组号试验项目试验要求与方法样品数量允许不合格数1充电方式、充电电压试验521充电电流试验522工作可靠性试验523插头连接可靠性试验524插头寿命试验525线缆耐拉力试验5262线缆耐弯折试验527绝缘电阻试验3安全要求绝缘强度试验高温试验低温试验恒定湿热试验振动试验4环境试验自由跌落试验参考YD/T998219990备注52充电器试验方法在充电器投入试验前，必须确认如下事项A按照GB49432001，通过CCEE安全认证，且证号齐全。绝缘强度和绝缘电阻应符合YD/T99821999中的37和38的规定。B按照YD10322000通过有关电磁兼容性测试。C按照YD/99821999要求，外观标志规范、清晰。521、充电方式、充电电压试验A按图A所示接好试验电路注模拟负载也可用手持机用电源代替B测量输入的交流电压，交流电压应符合220V1015，50HZ的要求。C对于标称电压为（36N）V的锂离子电源充电时，充电电压不大于（42N）充电器A模拟负载VK图A试验连接电路220V机密第15页2010113V。注N为单体电池节数。D闭合开关K，电流表指示应不大于1C5A5。E充电至电压表读数为限制电压时应自动改为恒压充电，此时电流表指示逐渐减小；F电流表指示降到50MA时，试验结束。522充电电流试验如图2所示连接电路，闭合开关K，对应电压表为25V43V时，电流表指示应不超出范围1C5A5。523工作可靠性试验A初始交流电源接通/断开操作（间隔10秒），100次以上，充电器输出正常。B负载接通/断开操作（间隔10秒），100次以上，充电器输出正常。C按照标称输出电压、电流值，选定合适的模拟负载，连续工作48小时以上，工作正常。D空载工作48小时，一切正常。E524直流输出插头拉力试验将两台移动电话机带电池用胶带绑在一起，充电器插头插入其中一台移动电话机后用充电器线缆垂直向上拉起。充电器插头应不松脱。525插头寿命试验模拟实际使用时的插拔方式将充电器插头在移动电话机上进行1000次插拔试验。插头应保持插拔顺畅，充电不会出现INT。526线缆耐拉力试验用45KG的力拉充电器线缆1分钟，充电器应能正常充电，不出现INT。527线缆耐弯折试验利用弯折试验机进行试验。六、整机环境试验测试61、环境条件试验方法试验样品进行环境试验时，按以下顺序低温试验、高温试验、潮热试验、温度冲击试验、振动试验、自由跌落试验。环境条件试验后的检验项目及容限值参考表9。机密第16页2010113表9测量值及结论序号检验项目容限值900MHZ1800MHZ1相位误差（均方根值）5P/FP/F2相位误差（峰值）20至20P/FP/F3频率误差90HZ（062CH）175HZ（699CH）P/FP/F4功率33DBM2DB（900MHZ功率级5）30DBM2DB（1800MHZ功率级0）P/FP/F5静态参考灵敏度电平，II类残余比特误码率（RBER）RBER24P/FP/F400KHZ19DB600KHZ21DB（900M，功率级5）6ORFSDUESWITCH400KHZ22DB600KHZ24DB（1800M，功率级0）P/FP/F7ORFSDUEMOD200KHZ30DB（900M，功率级5）400KHZ60DB（1800M，功率级0）P/FP/F8RSSIINPUT52DBM时，值A584INPUT72DBM时，值B384INPUT92DBM时，值C184AB202BC202P/FP/F9POWERVSTIME符合模板P/F试验10通话功能能正常拨打、接听电话P/F说明A、P表示检测合格；F表示检测不合格B括号中填写试验名称，如低温贮存等。621、低温试验试验样品在标准大气试验条件下使之达到温度稳定后，进行外观、结构检查和功能、电性能的初始检测。6211、低温贮存试验A将受试移动电话机关机后用聚乙烯薄膜密封好，放入室温的试验箱中；B调节试验箱温度，逐步降至30，保持4H；C将受试移动电话机从试验箱中取出，立即检查外观。置于标准大气试验条件下恢复2H后，开机检查，检验项目及容限值参考表9，并应符合相应的要求。6212低温运行试验A将受试移动电话机开机后用聚乙烯薄膜密封好，放入室温的试验箱中；B调节试验箱温度，逐步降至10；C待10稳定后，运行4H，进行检查，检验项目及容限值参考表9，并应符合相应的要求。检查通常在试验箱内进行。但如果不能在试验箱内检查，必须在拿出之后立即进行上述检查。恢复2H后，再重复上述检查。机密第17页2010113622、高温试验试验样品在标准大气试验条件下使之达到温度稳定后，进行外观检查和功能、电性能初始检测。6221、高温贮存试验A将受试移动电话机关机后，放入室温的试验箱中；B调节试验箱温度，逐步升高至65，保持4H；C将受试移动电话机从试验箱中取出，立即检查外观。置于标准大气试验条件下恢复2H后，开机检查，检验项目及容限值参考表9，并应符合相应的要求。6222、高温运行试验A将受试移动电话机开机后，放入室温的试验箱中；B调节试验箱温度，逐步升高至55；C待55稳定后，运行4H，对受试移动电话机检查，检验项目及容限值参考表9，并应符合相应的要求。检查通常在试验箱内进行。但如果不能在试验箱内检查，必须在拿出之后立即进行上述检查。恢复2H后，再重复上述检查。623、潮热试验A将移动电话机关机放入试验箱内，启动湿热箱电源使箱内温度升到40。当移动电话机温度达到40时，加湿并搅拌箱内的空气，当温度达到要求，相对湿度93时，保持48H；B移动电话机拿出后立即检验外观，进行操作和电性能检查，检验项目及容限值参考表9，并应符合相应的要求。恢复2H后，再重复上述检查。624、温度冲击试验A将低温试验箱调到规定的贮存温度30，高温试验箱调到规定的高温贮存温度65；B将试验移动电话机关机后放入低温箱中，在规定的贮存温度下持续2H，在5MIN内将试验样品移到高温箱内，在规定的贮存温度下保持2H，循环三次,试验参数选择如图B；C将移动电话机在标准大气试验条件下放置，直至温度恢复2H后，进行外观、功能以及电性能检测，检验项目及容限值参考表9，并应符合相应的要求。图B循环周期图3065120MIN120MIN5MIN1个循环时间MINUTE温度机密第18页2010113625、振动试验将移动电话机带电池以水平、直立、侧立三个方向固定在振动台上，以振动频率为10HZ35HZ时，振幅为038MM，振动频率为36HZ55HZ时，振幅为019MM，在X、Y、Z轴三个方向各振动30分钟。每次试验完毕后电性能检查，三次试验后观察其外观，做功能检查，检验项目及容限值参考表10。表10测量值及结论序号检验项目容限值900MHZ1800MHZ1相位误差（均方根值）5P/FP/F水2相位误差（峰值）20至20P/FP/F平3频率误差90HZ（062CH）175HZ（699CH）P/FP/F4相位误差（均方根值）5P/FP/F直5相位误差（峰值）20至20P/FP/F立6频率误差90HZ（062CH）175HZ（699CH）P/FP/F7相位误差（均方根值）5P/FP/F侧8相位误差（峰值）20至20P/FP/F立9频率误差90HZ（062CH）175HZ（699CH）P/FP/F10外观无严重开裂、变形、屏幕显示正常、按键正常P/F振动试验11通话功能能正常拨打、接听电话P/F说明P表示检测合格；F表示检测不合格626、跌落试验将移动电话机开机状态从10M高自由跌落，跌落在水泥地板上；试验样品6个面共跌落12次，有翻盖的移动电话机应将翻盖合上；跌落后进行外观检查，磨损是可以的，但不应有裂缝，具备正常通话功能参考表11；进行电性能检查，检验项目及容限值参考表9，并应符合相应的要求。表11序号检验项目容限值结论1外观无严重开裂、变形、屏幕显示正常、按键正常跌落P/F试验2通话功能能正常拨打、接听电话P/F说明P表示检测合格；F表示检测不合格627、静电放电抗扰度试验相对湿度3060，试验方法按GB/T1762621998进行。A对于接触放电，被测设备应能通过2KV和4KV的试验等级。机密第19页2010113B对于空气放电,被测设备应能通过2KV、4KV和8KV的试验等级。以上试验需在移动电话机开机并建立呼叫的情况下进行，试验后，移动电话机应能正常工作，无用户可察觉的通信质量的降低，无用户控制功能的丧失或储存数据的丢失，并保持通信联系。试验完毕后观察其外观，做功能和电性能检查，并应符合相应的要求。631、高温老化移动电话机用上网卡开机，放入高温老化箱，温度40，持续时间240小时。每次给移动电话机更换电池时间不大于10分钟，每次更换电池时检查功能是否正常。试验完毕后进行功能检查和电性能测试，并应符合相应的要求。632、寿命试验A按键的寿命用不小于06N的力，以4060次/分速度，按压10万次后检查按键是否正常；B翻盖的寿命以4060次/分速度，翻盖5万次后检查翻盖是否正常。633、镜片表面抗压力试验用压力计以10KG的力在镜片的四个角和中心压。试验完毕后观察其外观，做功能检查参考表5，并应符合相应的要求。634、可靠性试验方法可靠性试验的样品应是从经过质量一致性环境试验合格的产品批中随机抽取的。试验方案可参照GB/T158443中第6章的有关规定。试验方法可参照GB/T158443中第8、9、10章规定的方法执行。检验项目及容限值参考表9所示,并应符合相应的要求。失效判据AGSM制手持式移动电话机的“基本电性能”指标不符合环境试验条件的失效判据；BGSM制手持式移动电话机全部或部分规定的功能丧失或附属设备失灵；C机械断裂、位移、卡死、失灵，致使主要功能丧失。七、标志、包装、运输和贮存71标志经合格检验的每台产品在适当位置应有耐久性标牌,标牌上应清晰标出如下内容A产品注册商标、IMEINO、型号及生产串号；B进网许可证；C型号核准证。72包装包装应牢固可靠、有防震、防潮、防压措施。721包装标志A制造厂的地址、商标和名称；B产品的型号和名称；C出厂日期；D机壳色标；E质量和体积；F包装贮运图示；如“怕湿”、“小心轻放”等贮运标志应符合GB191的规定；G企业标准编号。机密第20页2010113722每台产品应附有下列文件A）用户手册；B检验合格证；A产品保修单；B装箱单。73运输贮存在运输和贮存中，不应摔碰和雨雪淋袭。产品应贮存在通风良好，避免阳光直射的环境中，允许贮存在环境温度为1035、湿度不大于80的仓库中，周围应无腐蚀性气体的存在。运输中转堆放时，堆码下应有不少于200MM厚的垫木；贮存堆放时，堆码下应有不少于100MM厚的垫木；产品贮存期不得超过一年。附上国家规范性附录附录（规范性附录）表C检验项目及不合格分类不合格分类检验项目ABC1包装11外包装A包装箱产品名称有错，与箱内整机型号不符合；AB包装箱严重破损；BC包装箱无任何标志（无产品名称、牌号或型号、生产企业等）；AD包装箱标志、出厂日期、质量标志不全或印错。C12内包装A箱内物品数量短缺，包括主要附件；AB箱内有异物或脏物；CC缺少入网证、合格证；AD用户手册等文件不全或与本产品不符；BE包装方式不符合要求。C2外观工艺结构21机壳外观A无厂名或生产牌号；AB铭牌、商标或装饰件短缺、装反或脱落；BC严重开裂、严重变形、严重损伤；AD机壳接缝有明显不合或高低不平；BE机壳表面有一般划伤、锈斑、脱漆、起泡、颜色不均；CF严重脱漆或严重锈蚀；AG电源标志不正确。A22天线A缺件或折断；A机密第21页2010113B严重松动或过紧、不能装配。B23开关或按钮损坏或操作失灵。A24指示、显示任一功能指示灯不亮、显示器不能工作。A25简要功能检查A发射机无调制射频信号输出；AB接收机无音频信号输出；AC空闲信道噪声过大；AD音量控制失效或调节噪声过大。B3机内工艺装配检查A印制电路板断裂；AB元器件断腿、损坏；BC连接线脱焊或断头；BD导线划伤或裸露；BE机内金属异物或金属件脱落；AF机内金属构件严重锈蚀；AG机内构件松动；BH焊接质量不合要求；BI机内有非金属异物；C4安全检查外壳（含散热部分）可触及部分温升须小于等于65；安全性5电性能一般技术要求和指标检查51电性能一般技术要求A频率范围；AB信道数；AC最高工作电压性能；AD最低工作电压性能；AE持续发射能力；A52正常测试条件电性能指标检查521发射机A相位误差和频率误差；AB多径与干扰条件下的频率误差；AC载频峰值功率与突发脉冲定时；AD输出射频频谱；B522接收机参考灵敏度；A机密第22页2010113附录AUTOTESTPARAMETERCHARGER_PHASINGCUR_LOWMPHASE_CHARGER01A0P55130MACUR_HIGMPHASE_CHARGER01A0P80280MACHR_ZEROPHASE_CHARGER01A0P1010MACHR_MAXPHASE_CHARGER01A0P180280MACHR_BYT1PHASE_CHARGER01A0P0255CHR_BYT2PHASE_CHARGER01A0P1255CUR_IMAXPHASE_CHARGER01A0P6502000MAPHASING_PGSM_POWER_PHASE_GSMPWR_INITPWR_PHASE_W01A0P00ERRPWG_PH01PWR_PHASE_W0062F01A0P4001200DBMAFC_CENTPWR_PHASE_W006201A0P902903MHZAFC_OFFSPWR_PHASE_W01A0P3030KHZSTOR_AFGPWR_PHASE_W01A0P00ERRSTOR_AFDPWR_PHASE_W01A0P00ERRPWG_PH02PWR_PHASE_WE01A0P10001600DBMPWG_PH03PWR_PHASE_WD01A0P16002200DBMPWG_PH04PWR_PHASE_W201A0P22002800DBMPWG_PH05PWR_PHASE_W101A0P25003100DBMPWG_PH06PWR_PHASE_W001A0P28003400DBMPWG_DTLPWR_PHASE_W01A0P5003100DBMPWG_DTHPWR_PHASE_W01A0P5003100DBMPWG_C975PWR_PHASE_W0001101A0P24003200DBMDAG_C975PWR_PHASE_W01A0P80200PWG_C003PWR_PHASE_W003701A0P24003200DBMDAG_C003PWR_PHASE_W01A0P80200PWG_C073PWR_PHASE_W007301A0P24003200DBMDAG_C073PWR_PHASE_W01A0P80200PWG_C124PWR_PHASE_W012401A0P24003200DBMDAG_C124PWR_PHASE_W01A0P80200DAG_PENDPWR_PHASE_W01A0P0255AGC_PHASE_GSM_TIG_CAMCPHASE_AGC65006201A0P00200SECAGG_CE00PHASE_AGC65006201A0P130105AGG_CE10PHASE_AGC01A0P0245045AGG_DACPHASE_AGC01A0P025DECAGG_STATPHASE_AGC01A0P220320DB机密第23页2010113PHASING_DCS_POWER_PHASE_DCSPWR_INITPWR_PHASE_W01A0P00ERRPWD_PH01PWR_PHASE_W0700F01A0P100900DBMPWD_PH02PWR_PHASE_WE01A0P9001500DBMPWD_PH03PWR_PHASE_WD01A0P15002100DBMPWD_PH04PWR_PHASE_W201A0P17002300DBMPWD_PH05PWR_PHASE_W101A0P22002800DBMPWD_PH06PWR_PHASE_W001A0P26003200DBMPWD_DTLPWR_PHASE_W01A0P5003100DBMPWD_DTHPWR_PHASE_W01A0P0003100DBMPWD_C512PWR_PHASE_W051201A0P26003200DBMDAD_C512PWR_PHASE_W01A0P80200PWD_C622PWR_PHASE_W062201A0P26003200DBMDAD_C622PWR_PHASE_W01A0P80200PWD_C773PWR_PHASE_W077301A0P26003200DBMDAD_C773PWR_PHASE_W01A0P80200PWD_C885PWR_PHASE_W088501A0P26003200DBMDAD_C885PWR_PHASE_W01A0P80200DAD_PENDPWR_PHASE_W01A0P0255AGC_PHASE_DCS_TID_CAMCPHASE_AGC65070001A0P00200SECAGD_CE00PHASE_AGC65070001A0P130105AGD_CE10PHASE_AGC01A0P0245045AGD_DACPHASE_AGC01A0P025DECAGD_STATPHASE_AGC01A0P220320DBPOST_PHASING_FLX_EPRMINIT_EEPROM85080501A000ERRBACK_OFFSTORE_S646_OFF01A000ERRUUT_OFFSWITCH_UUT_OFF01A000ERRCUR_OFFOFF_CURRENT_C01A011MACALL_TESTS_PGSMTESTSET1CALL_MNPWR_HICHGTM_CAHCTIME_CAMP0124J8536006201A0C020SECCUR_DROASAMP_CAMP_CURR02A030200MABAT_ADLVBATT_DAC_VALUE8538001A06060GMB_CAL1MOBILE_CALL8501V011GMB_CAL2MOBILE_CALL01A044GCL_CHGHCALL_CHANGE1053501A044GRL_HC05RX_LEVEL0124J6535006201V019机密第24页2010113GRQ_HC05RX_LEVEL0124J653501V005GBR_MNHCBIT_ERROR_RATEGRQ_HC0501V002GCC_MNHCBIT_ERROR_RATE01V000GCL_CHGHCALL_CHANGE853501V044SET_TMSKSET_TMSK01B011DSP_STRTSTART_DSP01V011GPP_MNHCDSP_TEST01B0020DEGGRP_MNHCDSP_TEST01B005DEGGFQ_MNHCDSP_TEST01B09191HZGFN_MNHCDSP_TEST01B010DBGFP_MNHCDSP_TEST01B001DBGTK_MNHCDSP_TEST01B011PASGPR_MNHCPOWER_DSGPR_MNHC01A0010DBMBTET40_GTIMING_ERROR4001A011BTET00_GTIMING_ERROR001A011CALL_MXPWR_LOCHGHD_OVERHANDOVER00055853701A0C44GCA_MXHCAVERAGE_CURR01A0180360MAGCL_CHGLCALL_CHANGE1053701A0A44GRL_LC05RX_LEVEL000556537006201V0A19GRQ_LC05RX_LEVEL00055653701V0A05GBR_MXLCBIT_ERROR_RATEGRQ_LC0501V0A02GCC_MXLCBIT_ERROR_RATE01V0A00GCL_CHGLCALL_CHANGE853701A0A44SET_TMSKSET_TMSK01B0B11DSP_STRTSTART_DSP01V0B11GPP_MXLCDSP_TEST01A0B020DEGGRP_MXLCDSP_TEST01A0B05DEGGFQ_MXLCDSP_TEST01A0B8989HZGFN_MXLCDSP_TEST01A0B10DBGFP_MXLCDSP_TEST01A0B01DBGTK_MXLCDSP_TEST01A0B11PASGPR_MXLCPOWER_DSGPR_MXLC01A03132DBMCALL_TESTS_DCS_TESTSET1CALL_MXPWR_HICHCAL_BANDBAND_HANDOVER088506535066001A0C880885CUR_MXHCAVERAGE_CURR01A0200335MADCL_CHGHCALL_CHANGE1033501A0044RXL_HC07RX_LEVEL088506535066001V00311RXQ_HC07RX_LEVEL08850653501V0005BER_MXHCBIT_ERROR_RATERXQ_HC0701V0002机密第25页2010113CRC_MXHCBIT_ERROR_RATE01V0000DCL_CHGHCALL_CHANGE853501A0044SET_TMSKSET_TMSK01B0011DSP_STRTSTART_DSP01V0011PHP_MXHCDSP_TEST01A00018DEGPHR_MXHCDSP_TEST01A0005DEGFRQ_MXHCDSP_TEST01A00178178HZFLN_MXHCDSP_TEST01A0010DBFLP_MXHCDSP_TEST01A0001DBTMK_MXHCDSP_TEST01A0011PASPWR_DCHCPOWER_DS08850PWR_DCHC01A02830DBMBTET40_DTIMING_ERROR4099A011BTET00_DTIMING_ERROR099A011CALL_MNPWR_LOCHDHD_OVERHANDOVER0520F853501A0C44DCL_CHGLCALL_CHANGE1033501A044RXL_LC07RX_LEVEL0520F6535070001V0311RXQ_LC07RX_LEVEL0520F6535070001V005BER_MNLCBIT_ERROR_RATERXQ_LC0701V002CRC_MNLCBIT_ERROR_RATE01V000DCL_CHGLCALL_CHANGE853501A044SET_TMSKSET_TMSK01B011DSP_STRTSTART_DSP01V011PHP_MNLCDSP_TEST01A0020DEGPHR_MNLCDSP_TEST01A005DEGFRQ_MNLCDSP_TEST01A0171171HZFLN_MNLCDSP_TEST01A010DBFLP_MNLCDSP_TEST01A001DBTMK_MNLCDSP_TEST01A011PASPWR_DCLCPOWER_DS05200PWR_DCLC01A055DBMEND_BASEBASE_END_CALL01A011ERRCALL_TESTS_PGSMTESTSET2CALL_MNPWR_HICHGTM_CAHCTIME_CAMP0124J85360006201A0C020SECCUR_DROASAMP_CAMP_CURR02A030200MABAT_ADLVBATT_DAC_VALUE8538001A06060GMB_CAL1MOBILE_CALL8501V011GMB_CAL2MOBILE_CALL01A044GCL_CHGHCALL_CHANGE1053501A044GRL_HC05RX_LEVEL0124J6535006201V019GRQ_HC05RX_LEVEL0124J653501V005机密第26页2010113GBR_MNHCBIT_ERROR_RATEGRQ_HC0501V002GCC_MNHCBIT_ERROR_RATE01V000GCL_CHGHCALL_CHANGE853501A044SET_TMSKSET_TMSK01B011DSP_STRTSTART_DSP01V011GPP_MNHCDSP_TEST01B0020DEGGRP_MNHCDSP_TEST01B005DEGGFQ_MNHCDSP_TEST01B09191HZGFN_MNHCDSP_TEST01B010DBGFP_MNHCDSP_TEST01B001DBGTK_MNHCDSP_TEST01B011