关 键 词：

压力容器 无损 检测 工艺 规程 射线 渗透 渗入 浸透 磁粉 超声波

资源描述：

压力容器无损检测工艺规程(射线、渗透、磁粉、超声波),压力容器,无损,检测,工艺,规程,射线,渗透,渗入,浸透,磁粉,超声波

内容简介：

射线探伤操作规程1 目的 该项操作规程，对压力容器产品的射线探伤实施有效控制。2适用范围 本规程适用于对压力容器进行无损检测射线探伤前应做的准备工作和射线探伤中全过程的管理。3选择的前提 对给定工件进行射线探伤时，应根据有关规程和标准要求选择适当的探伤条件。应以国标GB3323-87为选择条件的依据，焊缝透照按底片影像质量由低而高的要求分A级、AB级和B级三种检验等级。压力容器焊缝的射线探伤，至少应满足AB级的要求。 不同的象质等级对底片的黑度、灵敏度与不清晰度有不同的规定。要满足规定等级的象质要求，从探伤器材、方法、条件及程度等各个方面都要预先进行全面地部署。4照相规范的确定在照相过程中，除了合理地选择透照方法外，还必须选择好透照规范，使小缺陷能够在底片上明显地辨别出来，从而达到高灵敏度。有关规范的选择： 1)射线源的选择，应选择小尺寸的射线源； 2)透照距离的选择。在透照中，焦距选择大多在600700mm间； 3)胶片与增感屏的选择。通常照相时将原度为0.010.13mm的铅箔增感屏与非增感形胶片一起使用。5几何参数的选择几何参数是影响射线照相灵敏度的重要因素，因此必须综合考虑与合理选择。 1)焦点或射线源尺寸：焦点大小对缺陷影响在射线底片上的显示对比度和清晰度都有很大影响； 2)焦点尺寸和几何布置会引起的影像模糊及放大； 3)焦点尺寸与射线底片对比度； 4)照射场内的X射线强度分布； 5)透照距离L1的选择对Uy值和满足K值的有效长度要综合考虑。6曝光条件的选择及修正为得到满足射线透照应该具备的条件与象质良好的底片，通常要选择能够得到适当黑度和灵敏度的曝光条件进行透照。主要有以下几个因素： 1)曝光因子； 2)曝光条件的选择； 3)曝光条件的修正； 4)底片黑度达到确定的范围。6透度计 为了评定底片的灵敏度，需要采用透度计，透度计是用来检查透照技术和胶片处理质量的。我国GB3323-87钢熔化焊时对接头射线照相和质量分级标准规定使用粗细不同的几根金属丝等距离排列做成的线型象质计，用底片上必须显示的最小钢丝直径与相应的象质指数来表示照相的灵敏度。7焊缝透照方法 在透照方法中必须确定的几何参数是：焦距F（包括射源至工件表面的距离L1和工件表面至胶片的距离L2）、一次透照长度L3、环焊缝100%、透照时的最少曝光次数N；同时需要考虑的因素是：几何不清晰度Uy、透照厚度比K、横裂检出角、纵裂检出角、有效评定长度Leff以及100%透照时相邻两片的搭接长度L、几何参数和相关因素在不同的透照方法中均有不同的技术要求。8显影液的配制方法 为了使显影过程能正常进行，显影液的配制方法与程序必须合适。配制显影液时最好用蒸馏水或煮沸过的温水和有关的药品组成。9定影液的调配 酸性定影液中含有互相分解的成分，要靠其它药品的作用才能共存，所以对药品的配制程序、温度和搅拌都要特别注意。10水洗和干燥1）胶片经定影后，应在流动的清水中冲洗2030分钟。冲洗的目的是将胶片表面和内层吸附的硫代硫酸钠杂质及银的洛合物清除掉。2）干燥可采用简易的晾片架，放在墙壁高处进行自然干燥或在清洁通风的空间晾干。11安全保护 为了保障我国从事放射工作人员和广大居民的的健康和安全，根据国际放射防护委员会所规定的限值，国家制定颁布了我国现行防护标准放射卫生防护基本标准，在GB4792-84中规定职业放射工作人员，其全身内外照射的终身累积剂量当量不得超过250雷姆，并且现场条件不具备时探伤人员有权拒绝探伤。辐射剂量的控制方法：1)时间：要控制射线对人体的曝光时间，照射场中所容许的最大剂量率是2.5毫雷姆/时（25微希沃特/时）；2)距离：要控制射线源到人体间的距离；3)屏蔽层：在人体和射线源之间隔一层吸收物质。必须根据辐射源的活度、用途和工作性质来具体选择。同时还必须考虑成本和材料来源。说明：本射线探伤操作规程由检验处探伤室起草，并负责对其内容进行解释。 压力容器焊后热处理工艺守则 版次：4/037暗室操作规程1目的 暗室处理是保证底片质量的重要工序，应指定专人进行。该项操作规程，对无损检测的射线底片暗室安全操作做出规定，以确保底片合格率。2适用范围 暗室处理包括切片、装袋、显影、定影、水冲洗和底片烘干等。本程序适用于射线底片暗室安全操作。3暗室安全操作规程3.1胶片的切装与保管3.1.1胶片应与光线完全隔离，距暖气不少于1m的阴凉干燥处立放。3.1.2胶片盒应在暗室开封，外包装纸余量要折回盖严，以防露光。3.1.3按每次用量带衬纸取出胶片，单张按规格切，多余片衬纸放回胶片盒内保存，以防划伤。3.1.4装胶片要避免乳剂与衬纸或增感屏或其它粗物磨擦，以防静电感光；拿胶片只能触及边或角，以防留下指印；胶片不得折叠和弯曲，以防折迹感光。3.1.5操作人员接触胶片时，应将手洗净，胶片处理前不得粘上显、定影液。3.1.6暗室安全灯应在距胶片0.5m以外安放，第一次使用时须测试，以防胶片感光。3.1.7当对胶片质量有怀疑时，应在曝光前用显、定液影分析，问题严重时应停用。3.2暗室处理3.2.1手工冲洗规程3.2.1.1显影：其温度为1821，显影时间为48分钟，显影之初和显影过程中要使胶片上下移动，以保证显影液新鲜性。显影夹之间要有一定距离，防止胶片相粘。3.2.1.2显影后水冲洗1015秒，切勿将显影液带入定影槽内。3.2.1.3定影：胶片浸入定影液1分钟内上下移动，定影时间为通透时间的两倍，一般为15分钟。3.2.1.4水冲洗：在流动的清水(流速2立升/分)中进行，一般为1520分钟。不得超过30分钟，以防乳剂膜泡涨粘附污物。3.2.1.5底片干燥：在底片清洗后进行。自然干燥时，应在无尘及干燥通风处晾干；需烘干时，应用去水剂或自然干燥至无水滴时进行，烘干温度50。3.3责任：对暗室处理不当造成的底片不合格负责。说明：本暗室操作规程由检验处探伤室起草，并负责对其内容进行解释。渗透探伤操作规程1目的 该项操作规程，目的在于对压力容器产品的渗透探伤实施有效控制。2适用范围 本规程适用于原材料钢材及管材的探伤，并且也适用于加工产品锻件、铸件及焊接件的探伤。3渗透探伤的操作 渗透探伤分为六种基本方法，这些方法以不同的显像方式组合使用。任何组合总是按下列六个基本步骤进行。 1)清洗 渗透探伤前，必须进行表面清理和预清洗，清除被检零件表面所有污染制。ZBJ04005-87规定：准备工作范围应以探伤部位四周向外扩展25毫米。 清除污物的方法有机械方法、化学方法及溶剂去除法等。 2)渗透 渗透施加方法应根据零件大小、形状、数量和检查部位，来选择喷涂、刷涂、浇涂及浸涂等方法。 在渗透过程中时间的长短与温度范围对探测裂纹的灵敏度有很大影响，所以在ZB.J04005-87中规定：渗透温度为1550范围内时，渗透时间一般分为510分钟；当渗透温度降低为315时应根据温度适当增加渗透时间。 3)去除 溶剂去除型渗透剂用清洗剂去除，除了特别难于去除的场合外，一般都用蘸有清洗剂的布和纸擦拭；不得往复擦拭，不得将被检件浸于清洗剂中或过量地使用清洗剂；在用水喷法清洗时，水管压力以0.21MPa为宜，水压不得大于0.34MPa，水温不超过43。 4)干燥 干燥的方法有用干净布擦干、压缩空气吹干、热风吹干、热空气循环烘干装置烘干等方法。在ZB.J04005-87中规定：被检物表面的干燥温度应控制在不大于52范围内。 5)显像 显像的过程是用显像剂将缺陷处的渗透液吸附至零件表面，产生清晰可见的缺陷图象。显像时间不能太长，显像剂不能太厚，否则缺陷显示会变模糊。GB150-98规定：显像时间为1030分钟，显像剂厚度为0.050.07毫米。 6)检验 ZB.J04005-87规定：观察显示的迹痕应在显像剂施加后7-30分钟内进行，如显示迹痕的大小不发生变化，则可超过上述时间。 为确保检查细微的缺陷，ZB.J04005-87规定：被检零件上的照度至少达到350勒克斯。 探伤结束后，为了防止残留的显像剂腐蚀被检物表面或影响其使用，必要时应清除显像剂。清除方法可用刷洗、喷气、喷水、用布或纸擦除等方法。注：铸钢件有铸钢件标准 在GB9443-88标准规定铸钢件渗透探伤方法及缺陷显示迹痕的评级方法。本标准适用于铸钢件表面开口缺陷的渗透探伤。 说明：本渗透探伤操作规程由检验处探伤室起草，并负责对其内容进行解释。磁粉探伤操作规程1目的 该项操作规程，对压力容器产品的磁粉探伤实施有效控制。2适用范围 本规程适用于原材料板材及管材的探伤，并且也适用于加工产品锻件、铸件、焊接件的探伤。3操作规程3.1预清洗 所有材料和试件的表面应无油脂及其他可能影响磁粉正常分布、影响磁粉堆积物的密集度、特性以及清晰度的杂质。3.2缺陷的探伤 磁粉探伤应以确保满意的测出任何方面的有害缺陷为准。使磁力线在切实可行的范围内横穿过可能存在于试件内的任何缺陷。3.3探伤方法的选择 1）湿法 磁悬液应采用软管浇淋或浸渍法施加于试件，使整个被检表面完全被覆盖，磁化电流应保持1/51/2秒，此后切断磁化电流，采用软管浇淋或浸渍法施加磁悬液。 2）干法 磁粉应直接喷或撒在被检区域，并除去过量的磁粉，轻轻地震动试件，使其获得较为均匀的磁粉分布。应注意避免使用过量的磁粉，不然会影响缺陷的有效显示。 3）检测近表面缺陷 检测近表面缺陷时，应采用湿粉连续法，因为非金属夹杂物引起的漏磁通值最小，检测大型铸件或焊接件中近表面缺陷时，可采用干粉连续法。 4）周向磁化 在检测任何圆筒形试件的内表面缺陷时，都应采用中心导体法；试件与中心导体之间应有间隙，避免彼此直接接触。当电流直接通过试件时，应注意防止在电接触面处烧伤，所有接触面都应是清洁的。 5）纵向磁化 用螺线圈磁化试件时，为了得到充分磁化，试件应放在螺线圈内的适当位置上。螺线圈的尺寸应足以容纳试件。3.4退磁 将零件放于直流电磁场中，不断改变电流方向并逐渐将电流降至零值。大型零件可使用移动式电磁铁或电磁线圈分区退磁。3.5后清洗 在检验并退磁后，应把试件上所有的磁粉清洗干净；应该注意彻底清除孔和空腔内的所有堵塞物。注：磁粉探伤遵循的标准1钢制压力容器磁粉探伤标准 JB3965-85标准适用于检查铁磁性材料制成的压力容器焊缝及工件表面或近表面的裂纹和其他缺陷，对于铁磁性材料的毛坯件、半成品及成品也可参照本标准检验。2压力容器锻件磁粉探伤标准 JB4248-86标准适用于检查铁磁性材料制成的压力容器锻件以及高压紧固件的表面和近表面缺陷。3钢铁材料的磁粉探伤标准 ZBJ04006-87本标准规定了钢铁材料及其制品的磁粉探伤方法和缺陷磁痕的等级分类，适用于检测试件表面的裂纹及其他缺陷。4锻钢件的磁粉检验标准 JB/ZQ6101-85标准适用于锻钢件的磁粉检验。本标准规定的检验方法，可以得出作为验收依据的可靠结果。本标准不包括验收标准或质量等级标准。 本标准等效采用ASTM A275-83锻钢件的磁粉检验方法标准。5铸件磁粉探伤标准 在GB9444-88标准中适用于导磁钢铸件表面及近表面缺陷的检验和质量评级。当磁场强度等于2.4KA/m时，材料中磁感应强度大于1T的铸钢称为异磁钢。说明：本磁粉探伤操作规程由检验处探伤室起草，并负责对其内容进行解释。超声波检测工艺规程1目的本规程规定了检测人员的资格、仪器探头试块、检测范围、方法和质量分级等。2适用范围2.1本规程采用A型脉冲反射式超声探伤仪器对钢板、锻件和焊缝进行检测。2.2本规程依据JB4730的要求编写。符合容规和GB150的要求。2.3检测工艺卡是本规程的补充，必要时由II级人员按合同要求编制，其检测参数规定的更具体。3引用标准JB4730压力容器无损检测GB150钢制压力容器JB4126超声检测用试块的制造和控制ZBJ04001A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能测试方法ZBY230A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件ZBY232超声探伤用1号标准试块技术条件ZBY231超声探伤用探头性能测试方法4通用规则4.1检测人员4.1.1检测人员必须经过培训，按锅炉压力容器无损检测人员资格考核规则的要求，经理论和实际考试合格，取得相应等级资格证书的人员担任。检测由II级以上人员进行，I级人员仅做检测的辅助工作。4.1.2检测员人员必须每年检查一次身体，其矫正视力不低于1.0。4.2仪器、探头和试块现使用的仪器为汕头超声仪器厂生产的CTS-22和CTS-26型仪器和探头。4.2.1仪器1）仪器和探头的组合灵敏度：在达到所检工件最大声程时，其灵敏度余量应10dB。2）衰减器精度：任意相邻12dB误差在1dB以内，最大累计误差不超过1dB。3）水平线性：水平线性误差不大于1%。4）垂直线性：在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显示。垂直线性误差不大于5%。4.2.2探头1）晶片有效面积除另有规定外一般不应超过50mm，且任意一边长不大于25mm。2）单斜探声束轴线水平偏离角不应大于2，主声束垂直主方向不应有明显的双峰。3）直探头的远场分辨力应大于或等30dB，斜探头的远场分辨力应大于或等于6dB。仪器和探头的系统性应按ZBJ04001和ZBY231的规定进行测试。4.2.3试块 1）试块应采用与被检工件相同或近似声学的材料制成，该材料用直探头检测时，不得有大于2mm平底孔当量直径的缺陷。 2）试块的制造要求应符合中ZBY232和JB4126的规定。 3）现场检测时，也可采用其它型式的等效试块。4.3检测的一般方法4.3.1检测复盖率 检测时，探头的每次扫查复盖率应大于探头直径的15%。4.3.2探头的移动速度 探头的扫查速度不应超过150mm/s。当采用自动报警装置扫查时，不受此限。4.3.3扫查灵敏度 扫查灵敏度至少比基准度高6dB。4.3.4耦合剂 采用机油、桨糊、甘油和水等透声性好，且不损伤检测表面的耦合剂。4.3.5检测面 1)检测面和检测范围的确定原则上应保证检查到工件被检部分的整个面积。对于钢板和锻件应检查到整个工件；而对熔接焊缝应检查到整条焊缝。 2）检测面应经外观检查合格，所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物都应予以清除，其表面粗糙度应符合检测要求。4.3.6校准 校准应在基准试块上进行，校准中应使超声主声束垂直对准反射体的轴线，以获得稳定的和最大的反射信号。4.3.6.1仪器校准 在仪器开始使用时，应对仪器的水平线性进行测定，测定方法按ZBY230的规定进行。在使用过程中，每隔三个月至少应对仪器的水平线和垂直线性进行一次测定。4.3.6.2探头校准 1）在探头开始使用时，应对探头进行一次全面的性能校准。测定方法按ZBY231的有关规定进行。 2)斜探头校准 使用前，斜探头至少应进行前沿距离、K值、主声束偏离、灵敏度余量和分辩力等的校准。使用过程中，每个工作日应校准前沿距离、K值和主声束偏离。 3)直探头校准直探头的灵敏度余量和分辩力应每隔一个月检查一次。4.3.6.3仪器和探头系统的复核 1）复核时机 每次检测前均应对扫描线、灵敏度进行复核，遇有下述情况应随时对其进行重新核查： a.校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋纽发生改变时； b.开路电压波运或者检测者怀疑灵敏度有变化时； c.连续工作4小时以上时； d工作结束时。 2）扫描量程的复核 如果距离一波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移超过扫描读数的10%，则扫描量程应予以修正，并在检测记录中加以说明。 3）距离一波幅曲线的复核 复核时，校核应不少一于3点。如曲线上任何一点幅度下降2dB，则应对上一次以来所有的检测结果进行复验；如幅度上升2dB，则应对所有的记录信号进行重新评定。4.4报告和资料的存档按厂统一表样由II级以上人员填写报告，经责任工程师认可。钢板、锻件送委托人转检验处存档；压力容器焊缝检测报告，与其它检测报告一起交检验处存档。资料存档不少于7年。5压力容器钢板超声检测5.1检测范围和一般要求 本条适用于板厚为6-250mm的钢制压力容器用板材的超声检测和缺陷等级评定。奥氏体钢板材的超声检测也可参照本条执行。5.2探头选用 探头的选用应按表1的规定执行5.3标准试块5.3.1用双晶直探头检测壁厚小于或等于20mm的钢板时，采用标准试块如图1所示。5.3.2用单直探头检测板厚大于20mm的钢板时，标准试块应符合图2和表2的规定。试块厚度应与检钢厚度相近。5.4检测灵敏度5.4.1板厚小于或等20mm时，用图1所示的试块将工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度的50%，再提高10dB作为检测灵敏度。5.4.2板厚大于20mm时，应将图2所示的试块平底孔第一次反射波高调整到满刻度的50%作为检测灵敏度。表 1探 头 选 用板厚(mm)采用探头公私频率探头晶片尺寸双晶探头单晶直探头6-20双晶探头5MHz晶片面积不小于150mm220-250单晶直探头2.5MHz_圆晶片直径为14-25mm，或方晶片面积不小于200mm2表2试块编号被检钢板厚度检测面平底孔的距离 S试块厚度 T120-401520240-603040360-10050654100-160901105160-2001401706200-250190220图2 板厚大于20mm单直探头检测用试5.4.3板厚大于60mm时，也可取板无缺陷的完好部位的第一次底波来校准灵敏度，其结果应与2.4.2条的要求相一致。5.5检测方法5.5.1检测面 可选钢板的任一轧制平面进行检测。若检测人员认为需要或设计上有要求时，也可对钢板的上下两轧制平面分别进行检测。5.5.2扫描方式图3 探头搜查示意图 1）探头沿垂直于钢板压延方向，间距为100的平行线进行扫查。在钢板坡口预定线两侧各50mm(当板厚超过100mm，以板厚的一半为准)内应作100%扫查，扫查示意图3。 2）根据合同、技术协议书或图样的要求，也可进行其它形式的扫查。5.6缺陷记录5.6.1在检测过程中，发现下列三种情况之一者作为缺陷： 1）缺陷第一次反射波(F1)波高大于或等于波刻度的50%，即F150%者。 2）当底面第一次反射波(B1)波高未达到满刻度，此时第一次反射波(F1)波高与波底面第一次反射波(B1)波高之比大于或等于50%，即B1100%，而F1/B150%者。 3）当底面第一次反射波(B1)波高低于满刻度的50%，即B150%者。5.6.2缺陷的边界或指示长度的测定方法 1）检出缺陷后，应在它的周围继续检测，以确定缺陷的延伸。 2)用双晶直探头确定缺陷的边界或指示长度时，探头的移动方向应与探头的声波分割面相垂直，并使缺陷波下降到检测灵敏度条件下荧屏满刻度的25%或使第一次反射波高底面第一次反射波高之比为50%。此时，探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心点即为缺陷的边界点。两种方法测得的结果以较严重者为准。 3）用单直探头确定缺陷的边界或指示长度时，移动探头，使缺陷波第一次反射波高下降到检测灵敏度条件下荧屏满刻度的25%或使缺陷第一次反射波与底面第一次反射波高之比为50%，此时，探头中心移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心点即为缺陷的边界点。两种方法测得的结果以较严重者为准。 4）确定2.6.1c条缺陷的边界或指示长度，移动探头，使底面第一次反射波升高到荧光屏满刻度的50%。此时，探头中心移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心点即为缺陷的边界点。 5）当采用第二次缺陷波和第二次底波来评定缺陷时，检测灵敏度以相应的第二次反射波来校准。5.7缺陷的评定方法5.7.1缺陷指示长度的评定规则 一个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度。5.7.2单个缺陷面积的评定规则 1）一个缺陷按其指示的最大面积作为该缺陷的单个指示面积。当其小于表3的规定时，可不作记录。 2）多个缺陷其相邻间距小于100mm或间距小于相邻小缺陷的指示长度(取其较大值)时，其各块缺陷面积之和作为单位个缺陷指示面积。5.7.3缺陷面积占有率的评定规则 在任一1m1m检测面积内，按缺陷面积所占的百分比来确定。表 3等级单个缺陷指示长度(mm)单个缺陷指示面积cm2在任一1m1m检测面积内存在的缺陷面积百分比%以下单个缺陷指示面积不记cm2I1002539II100100515III1201001025IV15010010255.8钢板缺陷等级评定5.8.1钢板等级划分见表35.8.2在坡口预定线两侧各50mm(板厚大于100mm时，以板厚的一半为准)内，缺陷的指示长度大于或等于50mm时，则应判废，不作评级。5.8.3在检测过程中，检测人员如确认钢板中有白点、裂纹等危害性缺陷存在时，则应判废，不作评级。6压力容器锻件超声波检测6.1检测范围和一般要求 本条适用于压力容器用碳素钢和低合金钢锻件的超声检测和缺陷等级评定。 本条不适用于奥氏体钢等粗晶材料的超声检测，也适用于内外半径之比小于80%的环形和筒形锻件的周向横波检测。6.2试块 应符合1.4.2a条的规定。6.2.1纵波直探头标准试块 试块应采用CS1和CS2试块，也可自行加工，其形状和尺寸按表4和图4的规定。表4纵波直探头采用的标准试块尺寸 mmL56100150200D506080806.2.2纵波双晶直探头标准试块 1）工件检测距离小于45mm时，应采用纵波双晶直探头试块。 2）纵波双晶直探头标准试块的形状和尺寸按图5和表5的规定。图4纵波直探头标准试块图5 纵波双晶直探头标准试块表5 纵波双晶直探头标准试块尺寸序号2346检 测 距 离 L123456789510152025303540456.2.3检测面是曲面时，应采用对比试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失，其形状和尺寸按图6所示。6.3检测时机 原则上应安排在热处理后，槽、孔、台阶加工前进行。若热处理后锻件形状不适合超声检测时也可在热处理前进行，但在热处理后仍对锻件进行尽可能完全的检测。检测面的表面粗糙度Ra为6.3m。6.4检测方法 锻件一般应进行纵波检测。对筒形锻件还应进行横波检测，但扫查部位和验收标准应由供需双方商定图6 曲面对比试块6.4.1横波检测 横波检测应按附录A(补充件)的要求进行。6.4.2纵波检测 1）原则上应从两个相互垂直的方向进行检查，尽可能地检测到锻件的全体积。主要检测方向如图7所示。其它形状的锻件也可参照执行。 2）锻件厚度超过400mm时，应从相对两端面进行100%的扫查。6.5检测灵敏度的确定6.5.1纵波直探头检测灵敏度的确定 当被检部位的厚度大于或等于探头的三倍近场区时，原则上可选用底波计算法确定检测灵敏度。对由于几何形状所限，不能获得底波或壁厚小于探头的三倍近场区时，可直接采用试块法来确定检测灵敏度。6.5.2纵波双晶直探头检测灵敏度的确定 根据需要选择不同直径平底孔的试块，并依次测试一组不同检测距离的平底孔(至少三个)。调节衰减器，使其中最高的回波幅度达到满刻度的80%。不改变仪器的参数，测出其它平底孔回波的最高点，将其标在荧光屏上，连接这些点，即是对应于不同直径平底孔的纵波双晶直探头的距离一波幅曲线，并以此作为检测灵敏度。6.5.3检测灵敏度一般不低于最大检测距离处的2mm平底孔当量直径。6.6 工件质衰减系数的测定6.6.1 在工件无缺陷完好区域，选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位，调节仪器使第一次底面回波幅度(B1)为满刻度的50%，记录此时衰减器的读数，再调衰减器，使第二次底面回波幅度(B2)为满刻度的50%，两次衰减器读数之差即为(B1-B2)的dB的差值。6.6.2衰减系数的计算公式： a= 式中：a衰减系数，dB/m(单程) (B1-B2)两次衰减器的读数之差，dB T工件检测厚度，mm6.6.3工件上三处衰减系数的平均值即为该工件的衰减系数。6.7缺陷当量的确定6.7.1采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量。对于三倍近场区内的缺陷，可采用单直探头或双晶直探头的距离一波幅曲线来确定缺陷当量。也可采用其它等效方法来确定。6.7.2计算缺陷当量时，当材质衰减系数超过4dB/m，应考虑修正。6.8缺陷记录6.8.1记录当量直径超过4mm的单个缺陷的波幅和位置。6.8.2密集性缺陷：记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布。饼形锻件应记录大于或等于4mm当量直径的缺陷密集区，其它锻件应记录大于或等于3mm当量直径的缺陷密集区。缺陷密集区面积以50mm50mm的方块作为最小量度单位，其边界可以6dB法决定。应按表7要求记录底波降低量。6.9缺陷等级评定6.9.1单个缺陷的等级评定见表6。6.9.2底波降低量的等级评定见表7。6.9.3密集区缺陷等级评定见表8。6.9.4表6、表7和表8的等级应作为独立的等级分别使用。6.9.5如果工件的材质衰减对检测结果有较大的影响，应重新进行热处理。6.9.6如果被检测人员判定为危害性缺陷时，可以不受上述条文的限制。图7 检测方向(垂直检测法)注：为必须检测方向；为参考检测方向表6 单个缺陷的等级评定等级IIIIIIIVV缺陷当量直径44-(0-8dB)4+(8-12dB)4+(12-16dB)4+16dB表7 由缺陷引起底波降低量的等级评定等级IIIIIIIVV底波降低量BG/BF88-1414-2020-2626注：本表仅适用于程大于一倍近场区的缺陷。表8 密集区缺陷的等级评定等级IIIIIIIVV密集区缺陷占检测总面积的百分比%00-55-1010-20206.9.7锻件修补后，应按本标准的要求进行检测和评定7钢制压力容器焊缝超声波检测7.1检测范围和一般要求 本条规定了焊缝缺陷的超声检测方法及检验结果的等级评定。 本条适用于母材厚度为8-120mm全焊透熔化焊钢对接焊缝和管座角焊缝的超声检测。 本条不适用于铸钢及奥氏体钢焊缝，外径小于159mm的钢管对接焊缝，内径小于或等于200mm的管座角焊缝，也不适用于外径小于250mm或内外径之比小于80%的纵向焊缝检测。7.2 试块7.2.1 应符合1.4.2a条的规定。7.2.2 采用的标准试块为CSK-IA、CSK-IIA和CSK-IIIA。其形状和尺寸应分别符合图8、图9和图10。7.2.3 CSK-IA、CSK-IIA和CSK-IIIA试块适用壁厚范围为8-120mm的焊缝，在满足灵敏度要求时，也可采用其它形式的等效试块。7.2.4 检测曲面工件时，如检测面曲率半径R小于等于W2/4(W为探头接触面宽度，环缝检测时为探头宽度，纵缝检测时为探头长度)时，应采用与检测面曲率相同的对比试块。一个对比试块可检其0.91.5倍的工件。7.3 检测准备图8 CSKA试块7.3.1检测面 1）压力容器焊缝检测一般采用一种K值探头，利用一次反射法在焊缝的单面双侧对整个焊接接头进行检测。当母材厚度大于46mm时，利用双面双侧直射波检测。对于要求比较高的焊缝，根据实际需要也可将焊缝余高磨平，直接在焊缝上检测。 2）检测区域的宽度应是焊缝本身，再加上焊缝两侧各相当于母材厚度30%的一段区域，这个区域最小为10mm。 3)探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢、及其它杂质。检测表面平整光滑，便于探头的自由扫查，其表面粗糙度Ra应为6.3m，一般应进行打磨。 a.采用一次反射法检测时，探头移动区不小于1.25P； P=2TK 式中：P跨距，mm， T母材厚度，mm， K探头K值， b.采用直射法检测时，探头移动区不小于0.75P； 4)去除余高的焊缝，应将余高打磨到与母材平齐。保留余高的焊缝，如果焊缝表面有咬边、较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨，并作圆滑过渡，以免影响检验结果的评定。图9 CSKA试块 L试块长度，由使用的声程确定； T试块厚度，由被检材料厚度确定； I标准孔位置，由被检材料厚度确定；根据检测需要可在试块上添加标准孔；图10 CSKA试块7.3.2 探头K值 斜探头K值选取可参照表9的规定。条件允许时，应尽量采用较大K值探头。表9 推荐应用的斜探头K值板厚 TmmK8252546461201203003.02.02.51.52.01.02.007.3.3母材的检验 斜探头扫查声束通过的母材区域，应先用直探头检测，以便检测是否有影响斜探头检测结果的分层或其它种类缺陷存在。该项检测仅作记录，不属于对母材的验收检测。母材检测的规程要点如下：1)方法：接触式脉冲反射法，采用频率25MHZ的直探头，晶片1025mm； 2)灵敏度：将无缺陷处第二次底波调节为荧光屏满刻度的100%； 3）记录：凡缺陷信号幅度超过荧光屏满刻度20%的部位，应在工件表面作出标记，并予以记录。7.4 距离一波幅曲线的绘制7.4.1 距离一波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成，该曲线由评定线，定量线和判废线组成，评定线与定量之间(包括评定线)为区，定量线与判废线之间(包括定量线)为区，判废线及其以上区为区。如图11所示。7.4.2 距离一波幅曲线的灵敏选择1）壁厚为8120mm的焊缝，其距离波幅曲线灵敏按表10的规定。 2）直探头的距离一波幅曲线灵敏度按表11的规定。距离波幅曲线的制作可在CS2试块上进行，其组成见3.4.1。3）检测横向缺陷时，应将各线灵敏度均提高6dB。4）检测面曲率半径R小于或等于W2/4时，距离波幅曲线的绘制应在曲面对比试块上进行。5）工件的表面耦合损失和材质衰减应与试块相同。6)搜查灵敏度不低于最大声程处的评定线灵敏度。图11 距离波幅曲线表10 距离波幅曲线的灵敏度试块型式板厚mm评定线定量线判废线CSKA8464612024018dB24014dB24012dB2408dB2404dB240+2dBCSKA8151546461201612dB169dB166dB166dB163dB1616+2dB16+5dB16+10dB表11 直探头距离波幅曲线的灵敏度评定线定量线判废线2mm平底孔3mm平底孔6mm平底孔7.5 检测方法7.5.1 平板对接焊缝的检测 1）为检测纵向缺陷，原则上采用一种K值探头或两种K值探头在焊缝的单面双侧进行检测。母材厚度大于46mm时，采用双面双侧检测，如受几何条件限制，也可在焊缝双面单侧采用两种K值探头进行检测。斜探头就应垂直于焊缝中心线放置在检测面上，作锯齿形扫查，见图12。探头前后移动范围应保证扫查到全部焊缝截面。在保持探头垂直焊缝作前后移动的同时，还应作1015的左右转动。图12 锯齿型扫查 2)为检测焊缝及热影响区的横向缺陷应进行平行和斜平行扫查。检测时，可在焊缝两侧边缘使探头与焊缝中心线成1020作斜平行搜查。见图13。焊缝余高磨平时，可将探头放在焊缝及热影响区上作两个方向的平行扫查，见图14。焊缝母材超过100mm时，应在焊缝的两面作平行扫查或采用两种K值探头(K1和K1.5或K1和K2并用)作单面两个方向的平行扫查；对电渣焊缝还应增加与焊缝中心线成45的扫查。图13 余平行扫查 图14 平行扫查 3)为确定缺陷的位置、方向和形状。观察缺陷动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号，可采用前后、左右、转角、环绕等四种探头基本扫查方法，见图15。图15 四种探头基本扫查方法7.5.2 曲面工件对接焊缝的检测 1)检测面为曲面时，可尽量按平板对接焊缝的检测方法进行检测。对于受几何形状限制，无法检测的部位应予以记录。 2）纵向检测时，对比试块的曲率半径与检测面曲率半径之差应小于10。 a.根据工件的曲率和材料厚度选择探头K值，并考虑几何临界角的限制，确保声束能扫查到整个焊缝。 b.板探头接触面修磨后，应注意探头入射点和K值的变化 ，并用曲线试块作实际测定。 c.当检测面曲率半径R大于W2/4且采用平面对比试块调节仪器时，应注意到荧光屏指示的缺陷深度或水平距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离弧长的差异，必要时进行修正。 3）环缝检测时对比块的曲率半径应为检测面曲率半径0.91.5倍。7.5.3管座角焊缝的检测 1）一般原则 在选择检测面和探头时应考虑到各种类型缺陷的可能性，并使声束尽可能垂直于该焊接结构中的主要缺陷。 2）检测方式 根据焊缝结构形式，管座角焊缝的检测有五种探测方式，可选择其中一种或几种方式组合实施检测。检测方式的选择应由合同双方商定，并考虑检测主要检测对象和几何条件的限制。(图16、图17)。 图16 插入式管座角焊缝 图17 安放式管座角焊缝 a.在接管内壁采用直探头检测，见图16位置1。 b.板在容器内壁采用直探头检测，见图17位置1。 c在接管外壁采用斜探头检测，见图17位置2。 d在接管内壁采用斜探头检测，见图16位置3和图17位置3。 e在容器外壁采用斜探头检测，见图16位置2。 3) 管座角焊缝以直探头检测为主，探头频率、尺寸及扫查方法应按3.3.3条的规定执行。对直探头扫查不到的区域，可采用斜探头检测。7.6 缺陷定量检测7.6.1 灵敏度应调到定量线灵敏度。7.6.2 对所有反射波超过定量线的缺陷，均应确定其位置、最大反射波幅和缺陷当量。7.6.3 缺陷当量 应根据缺陷最大反射波幅确定缺陷当量直径或缺陷指示L。 1)缺陷当量直径，用当量平底孔直径表示，主要用于直探头检测，可采用公式计算距离波幅曲线和试块对比来确定缺陷当量尺寸。 2）缺陷指示长度L的测定采用以下方法： a当缺陷反射波只有一个设点，且位于区时，用6dB法测其指示长度。 b当缺陷反射波峰值起仪变化，有多个设点，且位于时，应以端点6dB法测其指示长度。 c当缺陷反射波峰位于区，如认为有必要记录时，将探头左右移动，使波幅降到评定线，以此测定缺陷指示长度。7.7 缺陷评定7.7.1超过评定线的信号应注意其是否具有裂纹等危害性缺陷特征，如有怀疑时，应采取改变探头K值，增加检测面、观察动态波形并结合结构工艺特征作判断，如对波形不能判断时，应辅以其它检测方法作综合判定。7.7.2 缺陷指示长度小于10mm时按5mm计。7.7.3 相邻两缺陷在一直线上，其间距小于其中较小的缺陷长度时，应做为一条缺陷处理，以两缺陷长度之和作为其指示长度(不考虑间距)。7.8 缺陷等级评定7.8.1 不允许存在下列缺陷： 1）反射波幅位于判废线及区的缺陷； 2)检测人员判定为裂纹等危害性的缺陷；7.8.2 最大反射波幅位于；区的缺陷，应根据其指示长度按表12的规定予以评级。7.8.3 最大反射波幅低于定量线的非裂纹类缺陷，均评为级。7.8.4 不合格的缺陷应予以返修。返修部位及热影响区仍按本标准进行检测和等级评定。