资源目录
压缩包内文档预览：
编号：1898653
类型：共享资源
大小：4.15MB
格式：RAR
上传时间：2017-10-12
上传人：机****料
认证信息
个人认证
高**（实名认证）
河南
IP属地：河南
30
积分
- 关 键 词：
-
功率
三极管
测试仪
设计
制作
- 资源描述：
-
- 内容简介：
-
2013 1 1( 2( 12of a 84 in of of of N P of of as to of I. in or on As a of 0 is of in It in is to In to to be is a of It s of is of to of be of To a on of a in in a It is of an is of if it is in of to be by of in A of in 1-8. In it is to a 8is F of is as It 4as 5V or to of in S2 S4 5, S6 of is to of in of on of is A. s of in as It 2 5 I/O 10 to B. of 100 50on of of to be on a 9783/$2013 1 of C. 4It is It in of D. In 6x2 is to F by to is is be is on N in 3. In V to of to K of to is K to of is on to in be is is in to on is or is to of of is by to In at in of . In is if is if is of 2 is to of In of by to is or be to as N in by of is or is by of of V 00 to K in of . be F F to to K K 1 K in T3 in of K in T1 in of of of 1 0 1 0 1 0 0 0 0 1 1 on be in in so is a JT JT is it is JT it is to a JT is to JT of is to JT In a to is to be to of is in is is to a If it is be be be is a is at to by is of 2. 3 2 of of is 5. in is be be as to of 5. is is to is V. of is 3. 3 of 4 of A 5V is of 2is as In is to no of of in is if if of to to CD to of is by 4is to of of to of of of is no of at is to of of of be to 4 of F 5 6 CD 5 of of 6 of JT its of its 5 s 1 - A 3 K; 6 s 176; 5 V By of a is in be to as to on (in 1 I. M. D. A. S. . B. 318, 1172008. 2 R. L. . 10th 2009. 3 T. L. 7th 2008. 4 R. , 2007. 5 A. S. . C. 5th 6 7 74 8 ， 双极型晶体管 ( 结面型场效应晶体管 (这种测试机的基本构建块包括了 8控制器， 模拟多路复用器 /解复用器74液晶显示器 (本文讨论了该测试系统能准确识别半导体器件 (如 能识别 双极型晶体管的类型 (、 )， 能识别结面型场效应晶体管类型 (N 通道P 通道 该测试系统还能发现二极管，双极结晶体管 (结面型场效应晶体管 (引线 。该测试仪除了能测试上面提到的各种半导体器件外还能测量各种参数如二极管正向电压(正向电流 ( 电流增益 (面结型场效应管（ 极空载时的饱和电流(所有的测量和测试结果由显示屏 行清晰的显示。低功耗 ， 硬件简单 ， 用户界面设计友好和精巧的尺寸是该半导体器件测试仪的特征。 关键词 ： 二极管、双极型晶体管 (面结型场效应管 ( 控制器、电流增益 I 简介 半导体 器件用于现今所有的电气或电子产品市场。随着半导体需求的增加，半导体行业在过去的 8 到 10 年里经历了显著地成长。半导体产业是世界上最富有成效的和活力的行业之一。它推动了技术、新设备和集成电路的持续和快速发展。行业所面临的挑战是，不断提高产品和服务的质量及产品可靠性，以实现更大的功能、更高的性能及高速度和零缺陷。为了满足所有这些挑战电子产品和集成电路必须要有高度的可测试性。测试是一个在产品开发和生产过程中非常关键的部分。它可以提高产品的性能，提高产品的质量和可靠性，并降低价格。目前对于制造商来说电子产品测试成本的 上升是一个主要的挑战。有时测试成本甚至大于产品制造的成本本身。为了对测试成本产生一个重大的影响则可能需要改变测试策略，这样才有可能带来一个新的、成本更低的测试平台。 据估计，当一个错误在生产过程中被替代时失败的代价会降低 10 倍，而如果是在设计过程将错误替代掉则代价会再降低 10 倍。因此为了减少生产成本和提高产量应当制造出半导体器件测试仪。 因此考虑到上述提到的事实的实际意义中所应有的工作价值后已经设计出了新的半导体器件通用测试方案。在最近几天里 将 提出一些半导体器件测试仪的设计方法。本文旨在提供一个基于 控制器 的简单的、成本低的半导体器件测试仪。软件编码部分使用的是 半导体器件测试框图是如图 1 所示。它由 5 个模块 控制器、显示屏 拟多路转换器 74阻器件及在测试设备的相互作用下组成，单片机应用 5V 的电压或接地电位而使未知设备通过电阻器组并执行必要的进一步测试电压的测量和参数的计算。 示为择的线路 , 示为 择的线路和 示 择 的线路。模拟多路复用器选择线路的目的是为了在电阻器组的帮助下能选择出正确的电阻值。所有的测量和测试设备的测试结果清晰地显示液晶显示屏上。每个模块的详细描述将在下面给出。 A 单片机 单片机采用的是 片，其内置的部分特征如下：它的程序存储器寻址范围为32字存储寻址范围为 节， 5 个 I/O 端口，内置的 10 位模拟数字转换器（ 有 8个输入通道，并行从动端口（ 模拟比较器（ B 电阻器 电阻器包括阻值为 110150 据测试程序选择合适的电阻并在测试设备上进行测试。 C 模拟开关 74是双 4 通道模拟多路复用器 /解复用器拥有常见的选择逻辑，它在制造半导体器件测试仪的中起着非常重要的作用从而使用户设计更加友好。 D 液晶显示器 在这个系统中使用的是 16符的液晶显示，用于显示晶体管和二极管的测试和测量结果。 量技术和电子测试仪的硬件 微控制器最开始的步骤是通过执行第一次测试来确定设备是否在测试之下是一个双引线装置的二极管。二极管可以连接的测试端子在 1 和 3 之间。该试 验基于 中只有一个方向的传导电流这一基本概念上。该试验中单片机采用 5V 电压使二极管的引线通过 1 半导体器件测试框图 端 1。而连接到测试终端 3 的二极管引线是通过同一个 1片机经 1 再连接开关来测试电压并存储测量值。这一类的更多的测量可由不同的引线序列来完成。微控制器对这两个测量值进行逻辑运算以获得最终结果。现在有两种方式，在该二极管可以连接的 1 和 3 测试端子之间有阴极朝向端子 3 和阴极朝向端子 1。 现在，二极管以另一种方式连接使相同的测试序列重复从而得到一个更最终的结果。因此，基于这两个结果微控制器确定被测设备是否是二极管或是任何其它装置。这个测试也足以用来确定二极管阳极和阴极的引线。当二极管的引线被识别后通过进行必要的模拟电压测量和计算可得出二极管的正向电压。表 1表示了定位二极管阳极和阴极引线的逻辑理论。在这个表中，测试端口 1 和 3 三的应用和测量电平值表示为逻辑 1 和 0。 在两种条件下单片机执行的是晶体管设备测试 3 的程序。第一个条件是，如果二极管的测试失败，其次是，如果二极管的测试是正向的并且测试终端 （ 2 的电压不为零。单片机检查第二个条件是为了避免在测试下的设备识别有错误。在测试晶体管时微控制器首先进行电压测量，以确定相连的设备是否是双极结型晶体管或结场效应晶体管。同一逻辑的二极管测试也可以扩展到晶体管测试；而作为晶体管还包括只有一个电流传导方向的 ，因此考虑电流导通的唯一方向可以确定在测试下的晶体管是否是双极型晶体管或结场效应晶体管。该试验由三根导线中的一根连接到晶体管并经过 100他两引线经过 1后它们的电压以逻辑电平 0 和 1 的形式进行数字读取 。这个过程可以对其他的两个序列进行重复。 每次单片机都存储测量得的电压值，并在其上进行一些逻辑运算。现在晶体管在三个测试端子之间有六种连接方式，所以测试序列重复多次。分析表明， N 沟道的 唯一对应的十六进制数；而 P 沟道的 十六进制数是相同的，因此一旦被确认测试设备是 则进行进一步的测试，以从 P 沟道的 分出 一测试也足以确定 基极引线和 栅极引线。鉴定基极引线后，接着的任务仍 是确定集电极和发射极这两个引线。在一个适当的偏置下晶体管从基极到集电极的电流增益是远高于基极到发射极的。此属性可用来鉴别实际晶体管的集电极引线。 这个电路被连接在共发射极结构中，施加基极电流并且假定集电极通过 1电阻引线连接到电源。 如果它是真正的集电极，电流增益将会很高，集电极电流将会很高，集电极电压将会很低。对其他引线重复这个过程和比表 1 二极管阳极和阴极逻辑的检测 较的集电极电压则可以确定实际的集电极引线。一旦集电极引线被确定则可通过多路复用器选择合适的集电极和基极电阻以施加适当的偏置。使用模数转换器对集电极和基极的模拟电压进 行测量。集电极电流和基极电流是通过集电极的测量电压和基极电阻、电流增益计算出来的。测量二极管正向电压和正向电流、 电流增益、 N 沟道 漏电流系统如图 2 所示。 表模拟复用器 /解复用器 74开关内阻。其阻值约为 65。大多数的 源极和漏极端子可以互换，因此测试仪只可以确定 栅极引线而其他两只引线可假定为源极和漏极而不改变有关其的参数计算结果。一旦栅极引线确定了 是正偏并且栅极短接到源极所得的饱和 电流被计算为 V = 0V。如图 3为半导体器件测试仪的操作流程： 图 2 测量漏电流 图 3 半导体器件测试仪的操作流程图 如图 4 为半导体器件测试仪的电路图。电路的工作电压需求由 5V 的电源提供。用 12外部晶振作为时钟源。在所提出的模块设备进行测试时，通过适当的电阻值进行完美序列的排列和逻辑电平的组合。 如果没有拆卸测试装置则模拟开关是有可能被用于正确的路由信号的。三个模数转换器的输入通道是用来进行必要的模拟电压测量。液晶显示屏与 8 位模式的微控制器通信。电流流经设备端子时必须经过选定的串联电阻和模拟开关的内阻。通过测量串联电阻的电位差计算电流；因此，第二 个模拟开关 74用来将串联电阻的其他电位连接到单片机模拟输入端上。 单片机模拟输入的输入阻抗总是很高的，因此没有电流流过二次开关的内部电阻，在所需的点的所有的电压都耦合到单片机进行模拟输入。因此，模拟开关内部电阻的影响可以得到一定程度上的补偿，同时可以进行电流测量。 导体器件测试仪的测试结果 图 5 和图 6 表示了半导体测试仪测试的结果显示在液晶面板上。图 5 显示了二极管的测试结果。显示器的第一行显示二极管的正向电流和显示器
- 温馨提示:
1: 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
2: 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等，如果需要附件，请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
3.本站RAR压缩包中若带图纸，网页内容里面会有图纸预览，若没有图纸预览就没有图纸。
4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
5. 人人文库网仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑，并不能对任何下载内容负责。
6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。
人人文库网所有资源均是用户自行上传分享，仅供网友学习交流，未经上传用户书面授权，请勿作他用。
川公网安备: 51019002004831号