标准解读

《JJG 895-1995 光纤折射率分布和几何参数测量仪(折射近场法)》是一项关于使用折射近场方法对光纤的折射率分布及几何特性进行测量的国家计量检定规程。该标准主要适用于基于折射近场技术设计制造的用于测定单模或多模光纤内部结构特性的仪器设备。

根据规定,这类测量仪应当能够准确地提供被测光纤样品在其横截面上不同位置处的折射率值,并据此绘制出整个截面或特定区域内的折射率分布图。此外,还能通过分析这些数据来计算得到诸如芯径、包层直径等关键几何尺寸信息。

标准中详细描述了仪器的基本组成及其工作原理,包括光源系统、成像装置、数据采集与处理单元等部分的要求;同时明确了检定项目、条件、方法以及相应的技术指标。例如,在稳定性方面,要求在一定时间内连续测量同一光纤样本时,其结果的变化量需控制在一个很小的范围内;对于分辨率,则指出了能够区分两个相邻点之间最小折射率差异的能力;还有精度方面,给出了允许的最大误差范围。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1995-05-30 颁布
  • 1995-11-01 实施
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文档简介

中华人 民共和国国家计量检定规程J J G 8 9 5 - 1 9 9 5光纤折射率分布和几何参数测量仪( 折射近场法)C h a r a c t e r i z a t i o n S y s t e ms f o r t h e R e f r a c t i o n I n d e x P r o f i l e a n d Ge o me t r i c P a r a me t e r s o f Op t i c a l F i b e r1 9 9 5 一0 5 一3 0发 布1 9 9 5 一1 1 一0 1 实施国家技术监督局发布J J G 8 9 5 - 1 9 9 5光纤折身 7 , 率 分布和几何参数测量仪 ( 折射近场法)检定规程V e r i f i c a t i o n R e g u l a t i o n o f t h e C h a r a c -t e r i z a t i o n S y s t e ms f o r t h e R e f r a c t i o n弓令弓令屯仑 J J G 8 9 5 - 1 9 9 5弓仑乙令I nde x Pr of i l e a nd Ge o m e t r i cP a r a me t e r s o f Op t i c a l F i b e r 本检定规程经国家技术监督局于 1 9 9 5 年 0 5 月 3 0日 批准,并自1 9 9 5年 1 1 月 0 1日 起施行。归口单位: 中国计量科学研究院起 草单 位 : 中国计 量科 学研 究 院本规范技术条文由起草单位负责解释M G 8 9 5 - 1 9 9 5本规程主要起草人: 方 占军 参加起草人: 李天初 方毓文 王 民 明( 中国计量科学研究院)( 中国计量科学研究院)( 中国计量科学研究院)( 中国计量科学研究院)J .r c 8 9 5 - 1 9 9 5目录概 述 检定 项 目和检定 条件 检定 方法和技术要 求 检定结 果处理和检 定周期 (1) ( 2) ( 3) ( 4)二三四J J G 8 9 5 - 1 9 9 5光纤折射率分布和几何参数测量仪 ( 折射近场法 )检定规程 本规程适用于新制造的、使用中的和修理后的光纤折射率分布和几何参数测量仪( 折射近场法)的检定。一概述 光纤折射率分布和几何参数测量仪 ( 折射近场法)是用来测量单模 、多模光纤的折射率分布、折射率差值和几何尺寸等参数的专用仪器。测量仪 ( 折射近场法)的原理框图见图 t o接收探测系统放 大 电 路微 位 移 台控 制 电 路H e一 N c激 光 器聚 焦 反 射 系 统计 算 机 图1 H e - N e 激光器发射出单横模激光,经光学聚焦、反射系统会聚成扫描激光光斑。控制电路驱动微位移台一维或二维扫描,即扫描激光光斑沿一维或二维方向扫描光纤被测端面。折射近场法不测量光纤的导模,而测量光纤 的折射模。理论推导证明 ( 参考图2 )如下: A n ( r ) _一K, P( B , ) +KZ K, =。 , / ( 2 1 r I o ) K 2 =P n , / ( 2 7r I o )光 纤相对匹配液的折射率 n ( r ) 与折射光功率P(6,) 成正比。 光纤折射率分布和几何参数测量仪 ( 折射近场法)的基本测试功能包括:用折射近场法测1 单模和多模光纤的折射率分布曲线,然后用单模或多模光纤的折射率分布曲线计算出折射率差值、包层直径 、芯径等几何参数。 lJ J G 8 9 5 - 1 9 9 5二检定项 目和检定条件1 光纤折射率分布和几何参数测量仪 ( 折射近场法)的检定项目和主要检定用的工具列于表 1 。序号检定的项 目主要 检定用 的工 具检定类别新制造 的修理后的使用 中的t外观+2折射率分布及几何参数测量 几何参数和折 射率标准光纤+注:“ +”表示该项必须检定,“ 一 ”表示该项可以不检定2检定条件2 . 1 光纤折射率分布和几何参数测量仪 ( 折射近场法)需放置于具有 良好隔震措施的平台上。2 . 2 室温控制在 ( 2 0土3 ) C ,湿度-8 0 % o2 . 3 光纤折射率分布和几何参数测量仪 ( 折射近场法)正常工作前应预热 3 0 m i n以卜。.I . I G 5 9 5 - 1 9 9 5三检定方法和技术要求3外观3. 1 要求3 . 1 . 1 仪器外表无明显碰 、划、刻痕迹。3 . 1 . 2 仪器中光学表面洁净无灰尘。3 . 1 . 3 仪器应有制造厂名 ( 或厂标)和出厂编号。3 . 1 . 4 运动部件工作灵活无阻碍。3 . 2 检定方法:目视观察。4 折射率分布及几何参数4 . I 要求: 光纤包层直径测量重复性2 6 越1 A m ; 光纤包层直径测量不确定度 U 镇1 . 5 J i m ; 光纤折射率测量重复性 2 Q 簇0 . 0 0 1 ; 光纤折射率测量不确定度 U ,n i o , 折射率测量平均值 、和折射率测量重复性 2 。 按公式 ( 2 )和 ( 2 )计算求得:n二 ( 、 , +, , : + +n t o ) / 1 0( 2 )J J G 8 9 5 - 1 9 9 5一插 入 方 向测量端面光 纤阶 梯 IV析射率阶 梯 1 1位 置2 a =2 1 ( n , 一n ) 2 + ( n 2 一 、 ), + +( n 1 。 一 、 ) 2 / 9 1 1 /2四检定结果处理和检定周期5 凡经检定符合本规程要求的光纤折射率分布和几何参数测量仪 ( 折射近场法)应填发检定证书。不符合本

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