标准解读
《JJG 478-1996 α、β和γ表面污染仪》相较于《JJG 478-1986》,主要在以下几个方面进行了调整或补充:
首先,在适用范围上,1996年版的标准更加明确了其适用于α、β及γ三种射线类型的表面污染测量仪器的检定,而不仅仅是对特定类型设备的规定。这反映了技术进步背景下对于更广泛应用场景的需求响应。
其次,关于术语定义部分,新标准增加了对一些关键概念如“探测效率”、“本底计数率”的明确界定,有助于减少因理解差异带来的操作误差。
再者,1996年的版本在技术要求章节中提高了对某些性能指标的具体数值要求,比如灵敏度、稳定性等参数有了更为严格的规定,体现了行业技术水平的发展以及用户对于更高精度测量结果的追求。
此外,在检定方法方面,《JJG 478-1996》细化了各项测试步骤,并引入了新的检测手段和技术,比如推荐使用标准源进行校准的方法来保证仪器读数准确性;同时,还增加了环境条件(温度、湿度)对测量影响的考虑,确保了不同环境下都能获得可靠数据。
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JJG478-1996α、β和γ表面污染仪检定规程.pdf-免费下载试读页
文档简介
中华人民共和国国家计量检定规程J J G 4 7 8 - 1 9 9 6a 、 p 和Y 表面污染仪A l p h a B e t a a n d G a mm a S u r f a c e Co nt a mi n a t i o n I n s t r u me nt s1 9 9 6 一1 0 一1 8 发布1 9 9 7 一0 5 一0 1 实施国 家 技 术 监 督 局发 布J J G 4 7 8 - 1 9 9 6a ,. p 和 Y 表面污染仪 检 定 规 程 V. R . o f A l p h a B e t a a n dGa mma S u r f a c e C o n t a mi n a t i o n J J G 4 7 8 - 1 9 9 6代 替J J G 4 7 8 - 1 9 8 6 I ns t r u me nt s 本检定规程经国家技术监督局于 1 9 % 年 1 0 月 1 8日 批准, 并 自1 9 9 7年 0 5月 0 1日起施行。归口单位: 全国电离辐射计量技术委员会起草单位: 北京市计量科学研究所 中国计量科学研究院本规程技术条文由起草单位负责解释J J G 4 7 8 - 1 9 9 6本规程主要起草人 : 董洪良 杨元弟 李粟( 北京市计量科学研究所)( 中国 计量科学研究院)( 中国计量科学研究院)J J G 4 7 8 - 1 9 9 6 目录一概述 , ( 1 )二技术要求 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ( 1 )三 检定条件 , , , , , , , , , , , , 一( 1 )四 检 定 项目 和 检 定方 法 , , , 一 ( 3 )五检定结果处理和检定周期 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ( 4 )附录 1 标准平面源源效率的推荐值, - , , , , 一( 5)附录2 检定证书正文内容 , , , 4 4 , 一( 6)J J G 4 7 5 -1 9 9 6a 本规程适用于新制造、染测量仪和监测仪的检定。围为 3 0 - - 1 5 0 k e V op和Y表面污染仪检定规程使用中和修理后的 辐射防护领域中使用的。 、 R 和了 表面污R 粒子的最大能量大于 0 . 1 5 M e V, X和I 发射体的能量范一概述 。 、 俘 和Y 表面污染仪是由辐射探测器 ( 目 前普遍采用闪烁计数器或G M计数管)和显示示值的测量部件组成,用于测量被污染表面单位面积上的活度。指示值可以用B q / c m 2 或 计 数 率 单 位 ( s - 或M in 1 ) 表 示。 表 面 污染 监 测仪 具 有 报 警装 置, 当 被 污 染表面单位面积上的活度或计数率超过预定值时,便给出可见的或音响的报警信号。二技 术 要 求1 外观 仪器不允许有放射性污染和影响正常工作的锈蚀和破损等缺陷。2 重复性 仪器的重复性应好于2 0 %03 基本误差 仪器的基本误差在整个有效测量范围内不得超过 士 2 5 9 6( 不包括标准源的单位面积活度实际值的不确定度) 。4 本底 仪器的本底计数率应由生产厂给出。5 响应 仪器的表面活度响应及其能量响应均应由生产厂给出。6 监测仪的报警阑 对表面污染监测仪,必须说明报警闹值及其可调范围。三检 定 条 件表面活度标准 用于检定仪器表面活度响应的标准源a 发射体 2 4 A m ;R 发射体2 0 4 T 1 ;7 发射体 2 5 1 或 2 9 1 0,了J J G 4 7 8 - 1 9 9 6 如果污染仪用来测量最大能 量小于2 5 0 k e V俘 粒子, 则参考核素必须是 4 C ,7 . 2 检定R 和Y 表面污染仪的能量响应,可采用的 参考核素分别见表1 和表2 0表 飞 0参 考 核 素放射性核素最大能量/( Me V )半衰期 T I /21 4 c0. 1 5 6( 5 7 3 0士4 0) a1 4 7 p m0 . 2 2 5( 2 . 6 2 3 4士0. 0 0 0 4) a2 0 4 TI0. 7 6 3( 3. 7 9士0. 0 2 ) a9 o s r + 9 0 Y2 . 2 7 4( 2 8. 1 5 10. 1 0 ) a1 0 6 Ru + 1 0 6 Rh3. 5 4 0( 3 7 2. 6士1 . 0 ) d表 2 y参 考 核 素放射性核素能量/( Me V )半衰期 T v 21 2 5 10. 0 3 5 5( 5 9 . 9 0 士0 . 1 1 ) d1 2 9 10 . 0 3 7 6( 1 . 5 7 士 0 . 0 4 ) X 1 0 2 .5 7 co0. 1 2 2( 2 7 1 . 7 7 士0 . 1 0 ) d2 4 Am0 . 0 5 9 5( 4 3 2. 7士0 . 5 ) a7 . 3 标准平面源单位面积活度实际值的不确定度应不超过 1 0 % ( 均匀性应优于 1 0 %) 08 其他检定设备8 . 1 检定架 用于安置标准源和被检仪器的探测器 ,能够准确固定探测器与标准源的相对位置。8 . 2 计时器 最小分度值不大于 0 . 1 、 。9 检定实验室环境条件9 . 1 检定时的正常温度为 ( 2 0 土5 ) 0C9 . 2 检定时的相对湿度应在 3 0 %-7 5 %之间。9 . 3 外界电磁场、磁感应和环境本底对测量影响应小至可忽略不计。9 . a 如检定实验室不能满足上述环境条件,则应在检定证书中注明检定时的实际条件。.L I G 4 7 5 - 1 9 9 6四检定项 目和检定方法1 0 表面活度响应1 0 . 1 仪器必须按使用说明书上要求的时间预热。1 0 . 2 必须用 7 . 1 款中规定的标准源测定被检仪器的表面活度响应。对于 7表面污染仪应采用与探测器窗口形状和大小相同的标准源,否则可用模板将剩余的活性区遮盖起来,模板厚度要足以挡住辐射。1 0 . 3 将探测器安装在检定架上,使其保护栅网与标准源表面之间距离:对 a 探测器为5 m m , 对R , 7 探测器为1 0 m m o1 0 . 4 对每个检定点应重复测量 1 0次,求其计数率的平均值 N ( S - ) ,该检定点的表面活度响应R ( s l - B q - l . c m 2 ) 由 式 ( 1 )给出:N 一N匕( 1 )式中: A s 检定 时 标 准 源的 单 位面 积 活 度, B q c m - 2 ; N , 平均本底计数率, s - l o1 0. 51 0. 6在确定表面活度响应时,应记下探测器的工作电压或调压电位器的指示。对用B q / C M Z 刻度的仪器只需将标准源的A 、 值与仪器示值 A , 相比 如式 ( 2 )求 出校 准因子 :( 2 )1 1 基本误差1 1 . 1 必须用同一参考核素的系列标准源进行本项目检定。1 1 . 2 应在仪器的每个量程 ( 线性刻度)或每个量级 ( 对数刻度或数字显示)上选取一个点,测定表面活度响应。1 1 . 3 各检定点的基本误差 E按式 ( 3 )算出: R 一R Rx 1 00( 3 )其中,R可取各检定点表面活度响应的平均值或常用量程挡的表面活度响应值。1 1 . 4 将各检定点的基本误差中的最大者作为仪器的基本误差。结果只要落在下述两个限值之间,即可认为满足第 3 条的要求。 ( 1 )任何一个 E值都不超过士3 5 %; ( 2 )任何两个 E值之差不得超过15 0 %1 2 重复性1 2 . 1 在进行本项检定时,可采用任一种适当活度的放射源,使仪器示值在最灵敏量程 3 J J G 4 7 8 -1 9 9 6( 线性刻度)或最灵敏量级 ( 对数刻度)上满度值的1 / 3 一1 / 2 之间, 或者在第二最低有效位 ( 数字显示)里给出一个数字显示。1 2 . 2存相同条件下 .库续测量 2 0次 .按 式 4 )计算单次测 量值的相对标准偏 差 :V 一 李 毕 六 t( 二 、 一 : ) 2 工N n 一 I)二 丁( 4 )式中:x i 第 i 次测量仪器示值; x -、次 ( n = 2 0 )测量的 算术 平均值。1 3 能量响应1 3 . 1 此项检定仅对R 和7 表面污染仪进行。1 3 . 2 对 1 0 . 2款中用的参考核素,某一量程检定点的表面活度响应值可由第 1 1 条检定数据中直接得到。1 3 . 3 选择不同能量的R 或7 标准源,原则上应取1 3 . 2 款中的检定点附近的 读数测出表面活度响应 ,否则应用 1 1 . 3 款中确定的基本误差进行修正。1 3 . 4 检定结果以参考核素的测量值归一,作出表面活度响应随射线能量变化的图或表。1 4 监督值 如果仪器备有检验源,则按使用说明书要求测定检验数据,取 1 0 次读数的平均值作为参考读数。五检定结果处理和检定周期1 5 按本规程检定合格的,发给检定证书;检定不合格的,发给检定结果通知书。1 6 。 、 俘 和7 表面污染仪的检定周期为1 年。检定项目中, 能量响应仅在首次检定中进行。仪器经修理、调整后或仪器对检验源读数的变化超过 士2 0 %时,必须及时送检。1 7 送检时应带有上次检定证书和仪器说明书,初检仪器应附有出厂合格证书。J J G 4 7 8 - 1 9 9 6附录 I标准平面源源效率的推荐值G B 1 2 1 2 8 -1 9 8 9中定义源效率: 42 n , =, A( 1 . 1 )式中:4 2 *源的表面发射率; A-源的表面活度。 。 , 与射线能量、 衬底材料和源结构等因 素有关。 I S O 7 5 0 3 -1 中 推荐, 对。 、 R 标准平面 源 ( 薄源)E , 二 0 . 5 0 目 前, 在我国 计量检定机构广泛使用的电镀。 和R 标准源, 衬底分别为 镍板和铝板, 其厚度均大于饱和反散射厚度, 对 2 4 1 A M。 源表面没有覆盖层,对 2 0 4 -T 1 R 源表面覆盖 层 为 有 机 薄 膜, 经测 定 其源 效率 分别 为: , = 0 . 5 1 , 。 。 二 0 . 6 2 , 则标 准源
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