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文档简介

HALT and HASS,前言 HALT and HASS概念 HALT 试验内容 HALT设备要求,前言-HALT,随着科学技术的发展,现代电子设备的复杂程度越来越高,而且发展速度也是很快,可靠性问题也越来越尖锐,传统的可靠性环境模拟试验已经远远不能赶上现代电子设备发展的步伐.激发实验就是克服环境模拟试验试验周期长、试验效率低、实验耗费大等缺点的基础上发展起来的一种新的可靠性试验技术。 激发试验与环境模拟试验思路不同，它不是模拟真实环境，而是对试件施加比产品实际使用条件残酷的环境与工作应力，快速激发并排除产品潜在的缺陷来达到提高产品的可靠性和缩短高质量产品研制周期的目的。,HALT 与HASS概念,HALTHighly Accelerated Life test 高加速寿命测试 HASSHighly Accelerated Stress Screening 高加速应力筛选 HALT与HASS不同点 1. HALT测试应用于产品的研发阶段，应力高于HASS测试 2.HASS测试主要应用在产品生产出来的筛选过程,HALT 与HASS概念(续),HALT概念知识 HALT不是：通过(PASS)或失败（FAIL）的测试 HALT是设计工程师的工具 HALT不可预设极限,HALT 与HASS概念(续),HASS概念知识 HASS更有效地剔除早期故障 应力要略低于产品操作界限 不一定只施加一种应力（如温度），可同时执行多种参数应力（如电压、电流、振动、湿度、高低温冲击等） 如发现没有发现早期故障，或早期故障可有设计或制成改善解决，则不需规划执行HASS 若有早期故障且原因不易排除，就有必要规划执行HASS,HALT 与HASS概念(续),如何执行HASS 有限的筛选特性，即为： 1.将实际早期故障品及早剔除 2. 不产生Over-stress之故障 3. 不消耗过多的产品使用寿命 4. 不引发其它连锁性瑕疵,HALT 与HASS目的,HALT测试目的： 增加产品的设计极限值，迅速找出产品的设计及制造缺陷，并改善设计缺陷，增加产品的可靠度并缩短研发时间和减少研发费用。 HASS测试目的： 为在极短的时间内发现量产产品是否有质量上缺陷存在,HALT 与HASS功能,HALT主要功能： 快速发现产品设计及设计过程的缺陷. 评估 & 改良产品设计时的应力差距(design margins). 减少研发时间及成本. 在产品释放到生产线之前即消除设计上的问题. 可使产品初次上市既为成熟产品. 为有效的设计工程工具，可评估产品改善的效果及降低成本。,HALT 与HASS功能,HASS主要功能： 快速侦测出生产过程的变异(shifts) 。 降低制程时间及生产成本。 提升产品上市后的质量及售后服务的可靠度。 降低售后服务及保固成本。 降低产品上市后的早夭率。,HALT测试内容,低温步进应力测试 高温步进应力测试
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