标准解读
《GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法》是一项国家标准，它规定了用于测定电子元器件中结构陶瓷材料介质损耗角正切值的方法。该标准适用于在特定频率下对陶瓷材料进行电性能评价时使用。
根据这项标准，介质损耗角正切（tanδ）是指交流电场作用下，材料内部能量损失与储存能量之比的一种度量方式。通过测量这个参数可以评估材料的绝缘性能和品质因素。标准详细描述了实验所需的仪器设备、样品准备步骤、测试条件以及具体的操作程序等信息。例如，要求使用的测试频率范围通常为几百赫兹到兆赫兹之间，并且指出了如何正确连接电路以确保准确读数。
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